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电子发烧友网>今日头条>光学薄膜表面缺陷检测系统的原理及功能

光学薄膜表面缺陷检测系统的原理及功能

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2023-06-16 14:20:161090

白光干涉仪(光学3D表面轮廓仪)能测什么?应用案例介绍

式快速测量。SuperViewW系列白光干涉仪(光学3D表面轮廓仪)能对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔
2023-06-16 11:53:051106

光学系统设计流程

  引言 实际光学系统的成像是不完善的,光线经光学系统表面传输会形成多种像差,使成像产生模糊、变形等缺陷。像差就是光学系统成像不完善程度的描述。光学系统设计的一项重要工作就是要校正这些像差,使成像
2023-06-13 09:41:01567

新硅聚合实现6英寸光学级硅基高均匀性铌酸锂薄膜的工程化制备

上海微系统所异质集成XOI课题组孵化的上海新硅聚合半导体有限公司(简称:新硅聚合)近期实现了6英寸的光学级硅基高均匀性铌酸锂薄膜(LNOI)的工程化制备。
2023-06-09 09:43:15949

蔡司工业CT检测铸件缺陷

,会出现各种各样的缺陷。在内部,它们会对零件的稳定性和功能产生很大影响。蔡司工业CT计算机断层扫描使这些隐藏的铸件缺陷可见。理想的解决方案是评估软件蔡司自动缺陷检测
2023-06-07 16:33:07334

案例分享 | 纽扣电池石墨片厚度及缺陷检测

过程中表面不可避免地会出现裂纹、划痕、凸起等不良特征,厚度未达标或带有缺陷的石墨片未被及时剔除,装配到纽扣电池中,则直接影响电池品质。针对石墨片厚度及缺陷检测,昂视
2023-06-05 10:26:37435

AOI颜色及其缺陷检测系统介绍

AOI(Automated Optical Inspection)的全称是自动光学检测,在生产过程中,对电池片的外观缺陷和颜色进行分选。
2023-06-02 14:45:532675

季丰量产测试线设备——Wafer光学自动检测介绍

Wafer自动光学检测(AOI)设备适用于6寸&8寸&12寸 wafer的2D&3D缺陷检测、尺寸测量,可实现对晶圆各种特征的多维度检测
2023-06-01 10:56:521896

AOI对电池片的外观缺陷和颜色分选

NO 1. AOI 测试作用 AOI(Automated Optical Inspection)的全称是自动光学检测,在生产过程中,对电池片的外观缺陷和颜色进行分选。 NO 2. AOI 检测
2023-05-31 11:13:201771

白光干涉仪(光学3D表面轮廓仪)与台阶仪的区别

表面形貌即为表面微观几何形态,不仅对接触零件的机械和物理特性起着决定作用,而且对一些非接触零件的光学和外部特性影响也很大。所以对表面形貌的精准测量能正确地识别出加工过程的变化和缺陷,对研究表面几何
2023-05-19 16:52:10411

白光干涉仪(光学3D表面轮廓仪)与台阶仪的区别

台阶仪与白光干涉仪,两者虽然都是表面微观轮廓测量利器,但台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,而白光干涉仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级非接触式测量的光学检测仪器。
2023-05-19 16:38:25411

测量材料表面,就可以提升光学设计精确度?

光学材料能对光学产品的性能产生举足轻重的影响,随着光学技术的发展,业界对材料、表面、元件和系统的质量要求越来越高,甚至提出了新的需求。例如,在汽车行 业中,光学元件 需要高透射率和高散射率的材料
2023-05-17 22:10:01249

光学薄膜激光损伤阈值的后处理方法有主要有哪几种

通过低于薄膜损伤阈值能量的纳秒脉宽激光辐照,可以破坏薄膜材料的节瘤缺陷,所以在更高能量密度的纳秒激光辐照下薄膜就不会因节瘤缺陷向灾难性破坏的方向发展。
2023-04-26 07:42:00464

有哪些测量精密微纳米结构的光学3D成像检测仪?

3D成像技术实现了二维到三维的升级。智能化制造下,具有3D成像功能的机器视觉系统可以更快,更准确地检查生产现场的组件。其中表面形貌的3D测量,包括了轮廓的测量以及表面粗糙度的测量,是微纳结构测量最为
2023-04-21 14:17:16864

测量精密微纳米结构的光学3D成像检测

3D成像技术实现了二维到三维的升级。智能化制造下,具有3D成像功能的机器视觉系统可以更快,更准确地检查生产现场的组件。其中表面形貌的3D测量,包括了轮廓的测量以及表面粗糙度的测量,是微纳结构测量最为
2023-04-21 11:20:340

浅析光学膜在光电领域中的重要作用

光学薄膜是利用薄膜对光的作用而工作的一种功能薄膜光学薄膜在改变光强方面可以实现分光透射、分光反射、分光吸收以及光的减反、增反、分束、高通、低通、窄带滤波等功能
2023-04-17 11:46:253346

SIMV薄膜瑕疵检测系统替代人工肉眼检测

现代工业生产对薄膜表面的质量提出越来越高的要求,传统的检测方法如人工目视抽检已经远远不能满足现在工业生产中高速、高分辨率和无损只能检测的要求,simvision薄膜瑕疵检测系统与传统的人工肉眼检测相比,具有快速、可靠。准确的优点,目前已被许多薄膜企业所应用。
2023-04-11 09:48:56257

PCBA检测技术与工艺标准流程介绍

功能与特点:  1)自动光学检查(AOI) 运用高速高精度视觉处理技术自动检测PCB板上各种不同贴装错误及焊接缺陷。PCB板的范围可从细间距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在线检测方案,以提高生产效率
2023-04-07 14:41:37

薄膜表面瑕疵检测设备

随着社会经济的发展以及科学技术水平的不断提高,对薄膜产品质量的要求越来越高。无锡赛默斐视是专业的薄膜瑕疵检测系统供应商,它可以对薄膜材料表面缺陷进行快速、准确地检测,从而保证产品的质量。
2023-03-29 16:08:21421

薄膜集成电路--薄膜电阻

薄膜电阻应用于光通讯、 射频微波毫米波通讯,如放大、耦合、衰减、滤波等模块电路。电阻网络应用于微波集成电路中,能够缩小电路板空间,降低元器件成本。薄膜衰减器应用于光通讯、微波集成电路模块,其
2023-03-28 14:19:17

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