薄膜瑕疵检测系统的原理、功能及技术指标

精谱测控薄膜瑕疵检测系统满足客户所有检测需求

精谱测控薄膜瑕疵检测系统用于检测各类薄膜产品在生产过程中表面出现的污点、蚊虫、孔洞、杂质等常见缺陷，系统可以在生产过程中及时的发现产品表面出现的疵点信息，实时反映生产线表面的缺陷信息，并进行瑕疵分类处理，完全取代人工肉眼进行瑕疵检测。大大的节省了生产成本，提高了生产效率，保证了薄膜的质量。

精谱测控薄膜瑕疵检测系统原理：

针对透光率高的薄膜材料，系统采用透射的打光检测方式进行检测，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄（对于不透明的材料则采用反射的打光方式，即光源与相机在所要检测面的同一侧）。产线运行时，系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测，系统将相机采集到的图像通过精谱测控图像分析软件进行瑕疵处理，由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异，从而使得系统能够发现瑕疵，并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。

精谱测控薄膜瑕疵检测系统主要技术指标：

1、测量精度：0.1mm以上的斑点、污点、孔洞等瑕疵；

2、适用宽度：按要求定制；

3、CCD数量：依被测物宽度及检测精度决定；

4、检测常见的瑕疵，对瑕疵缺陷信息进行处理，实时提供瑕疵的位置、大小，以及记录供用户参考核对；

5、系统可设置瑕疵报警的参数，用户可根据生产要求设置报警线，实现声光报警并对不合格位置在线做标记。

精谱测控薄膜瑕疵检测系统功能：

1.操作便捷

操作简单，只需点击“开始”、“停止”即可完成所有操作。

2.稳定性高

可连续工作在极端温度和厂房环境中。

3.100%幅面表面检测

发现疵点时可根据设定发出报警，提示及时修复，避免大量缺陷产品的产生。

4.完整的表面质量信息

材料表面疵点图像由计算机进行保存，每卷产品都有完全的疵点图像/位置和数量等信息，产品幅面边缘根据需要可以进行自动贴标。

5.高精度检测

方案可100%检测出0.02 平方毫米以上的疵点缺陷，满足客户的不断提升的产品品质要求。

6.软件数据库管理功能

可以对生产的每卷材料进行精确的质量统计，详细的缺陷记录（大小和位置）和统计为生产工艺及设备状态调整提供了方便;离线分析，用于后续分切和质量管理，可有效保证产品质量。

7.定位标识功能

每生产一卷产品，系统会自动对这一卷产品的表面缺陷进行统计，同时打印出统计标签，贴在每一卷产品上，跟随产品发放下游。这样用户就可以通过每一卷产品上面的标签对产品进行评级，从而有效的用于分配不同质量要求的用途。

8.系统联动

当系统检测到疵点时进行声光报警，也可在系统中加入其他连锁I/O 输出。

9.一键导出

一键导出EXCEL缺陷明细表，便于用户做进一步的查询，分析，建档。

注：软件功能可根据用户要求实现完全定制！

责任编辑：tzh