。SJ5900光学型轮廓仪提供自动化测量、数据分析,提高效率和一致性,准确检测微观轮廓参数,适用于各种光学元件要求,保障工艺一致性。
2024-03-19 09:44:10221 、衬底检查、扫描电镜检查、PN结染⾊、DB FIB、热点检测、漏电位置检测、弹坑检测、粗细捡漏、ESD 测试(2)常⻅失效模式分析:静电损伤、过电损伤、键合
2024-03-15 17:34:29
服务范围LED芯片、LED支架、LED封装胶、银浆、键合线、LED灯珠(COB、LAMP、TOP、CHIP)、LED灯具、灯具驱动电源。检测标准● GB/T15651-1995半导体器件分立器件
2024-03-15 09:23:03
光学检测摄像头CMOS 1/2.5"
2024-03-14 20:44:54
开封以及机械开封等检测方法。结合OM,X-RAY等设备分析判断样品的异常点位和失效的可能原因。服务范围IC芯片半导体检测标准GB/T 37045-2018 信息技
2024-03-14 10:03:35
基本介绍功率器件可靠性是器件厂商和应用方除性能参数外最为关注的,也是特性参数测试无法评估的,失效分析则是分析器件封装缺陷、提升器件封装水平和应用可靠性的基础。广电计量拥有业界领先的专家团队及先进
2024-03-13 16:26:07
MOS管瞬态热阻测试(DVDS)失效品分析如何判断是封装原因还是芯片原因,有什么好的建议和思路
2024-03-12 11:46:57
、微观几何轮廓、曲率等参数。SuperViewW光学平面度检测设备具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了
2024-03-06 11:09:55
射线,表征材料元素方面的信息,可定性、半定量Be-U的元素 ;
定位测试点,如在失效分析中可以用来定位失效点,在异物分析中可以用来定位异物点。
博****仕检测测试案例:
1.观察材料的表面形貌
2024-03-01 18:59:58
经过电参数测试合格的产品2N**经过客户SMT(无铅工艺260±5℃)生产线贴装后,发现大量产品电参数失效,出现的现象是D、S间漏电,产品短路,失效比例超过50%。
2024-02-25 10:35:42429 可见光LED主要用于开关、光学显示和照明,不使用任何光传感器。隐形LED的应用包括使用光传感器的光学开关、分析和光通信等。
2024-02-20 14:39:12410 贴片电阻阻值降低失效分析 贴片电阻是电子产品中常见的元件之一。在电路中起着调节电流、电压以及降低噪声等作用。然而,就像其他电子元件一样,贴片电阻也可能发生故障或失效。其中最常见的故障之一是电阻阻值
2024-02-05 13:46:22179 胜科纳米(苏州)股份有限公司(以下简称“胜科纳米”)作为一家半导体检测分析厂商,近日在科创板上市的申请获得了上交所的受理,并已回复审核问询函。据上交所发行上市审核官网显示,胜科纳米主要的服务内容包括失效分析、材料分析与可靠性分析,其目标是成为半导体产业的“芯片全科医院”。
2024-02-02 15:52:55573 ; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求检测项目试验类型试验项⽬⽆损分析X 射线透视、声学扫描显微镜、⾦相显微镜电特性/电性定位分析电参数测试、IV&a
2024-01-29 22:40:29
服务范围LED芯片、LED支架、LED封装胶、银浆、键合线、LED灯珠(COB、LAMP、TOP、CHIP)、LED灯具、灯具驱动电源。检测标准● GB/T15651-1995半导体器件分立器件
2024-01-29 22:04:38
什么是锂离子电池失效?锂离子电池失效如何有效分析检测? 锂离子电池失效是指电池容量的显著下降或功能完全丧失,导致电池无法提供持久且稳定的电能输出。锂离子电池失效是由多种因素引起的,包括电池化学反应
2024-01-10 14:32:18216 在了解了DIPIPM失效分析的流程后是不是会很容易地找到市场失效的原因了呢?答案是否定的。不管是对收集到的市场失效信息还是对故障解析报告的解读、分析都需要相应的专业技能作为背景,对整机进行的测试也需要相应的测试技能。
2023-12-27 15:41:37278 DIPIPM是双列直插型智能功率模块的简称,由三菱电机于1997年正式推向市场,迄今已在家电、工业和汽车空调等领域获得广泛应用。本讲座主要介绍DIPIPM的基础、功能、应用和失效分析技巧,旨在帮助读者全面了解并正确使用该产品。
2023-12-22 15:15:27241 常见的齿轮失效有哪些形式?失效的原因是什么?可采用哪些措施来减缓失效的发生? 齿轮是机械传动中常用的一种传动方式,它能够将动力从一个轴传递到另一个轴上。然而,在长时间使用过程中,齿轮也会出现各种失效
2023-12-20 11:37:151051 ESD失效和EOS失效的区别 ESD(电静电放电)失效和EOS(电压过冲)失效是在电子设备和电路中经常遇到的两种失效问题。尽管它们都涉及电气问题,但其具体产生的原因、影响、预防方法以及解决方法
2023-12-20 11:37:023069 ▼关注公众号:工程师看海▼ 失效分析一直伴随着整个芯片产业链,复杂的产业链中任意一环出现问题都会带来芯片的失效问题。芯片从工艺到应用都会面临各种失效风险,笔者平时也会参与到失效分析中,这一期就对失效
2023-12-20 08:41:04530 检测仪器来进行检测。因此「美能光伏」生产了美能Poly在线膜厚测试仪,该设备采用光伏行业领先的微纳米薄膜光学测量创新技术,且适用于大规模产线自动化检测工序,可帮助
2023-12-16 08:33:09300 计失效模式和影响分析(DFMEA,Design Failure Mode and Effects Analysis)在汽车工业中扮演着非常重要的角色。
2023-12-14 18:21:402297 保护器件过电应力失效机理和失效现象浅析
2023-12-14 17:06:45262 成分发现,须庄状质是硫化银晶体。原来电阻被来自空气中的硫给腐蚀了。 失效分析发现,主因是电路板上含银电子元件如贴片电阻、触点开关、继电器和LED等被硫化腐蚀而失效。银由于优质的导电特性,会被使用作为电极、焊接材料
2023-12-12 15:18:171020 1、案例背景 LED灯带在使用一段时间后出现不良失效,初步判断失效原因为铜腐蚀。据此情况,对失效样品进行外观观察、X-RAY分析、切片分析等一系列检测手段,明确失效原因。 2、分析过程 2.1 外观
2023-12-11 10:09:07188 晶振失效了?怎么解决?
2023-12-05 17:22:26230 待测物的内部结构,在不破坏待测物的情况下观察内部有问题的区域。 二、应用范围 ◼IC、BGA、PCB/PCBA、表面贴装工艺焊接性检测等; ◼金属材料及零部件、电子元器件、电子组件、LED元件等内部裂纹、异物的缺陷检测,BGA、线路板等内部位移的分析; ◼判别空焊
2023-12-04 11:57:46242 DIPIPM是双列直插型智能功率模块的简称,由三菱电机于1997年正式推向市场,迄今已在家电、工业和汽车空调等领域获得广泛应用。本讲座主要介绍DIPIPM的基础、功能、应用和失效分析技巧,旨在帮助读者全面了解并正确使用该产品。
2023-11-29 15:16:24414 损坏的器件不要丢,要做失效分析!
2023-11-23 09:04:42181 压接型IGBT器件与焊接式IGBT模块封装形式的差异最终导致两种IGBT器件的失效形式和失效机理的不同,如表1所示。本文针对两种不同封装形式IGBT器件的主要失效形式和失效机理进行分析。1.焊接式IGBT模块封装材料的性能是决定模块性能的基础,尤其是封装
2023-11-23 08:10:07721 FPC在后续组装过程中,连接器发生脱落。在对同批次的样品进行推力测试后,发现连接器推力有偏小的现象。据此进行失效分析,明确FPC连接器脱落原因。
2023-11-20 16:32:22312 将详细分析光耦失效的几种常见原因。 首先,常见的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦发光二极管的核心部件,它会发出光信号。常见的LED失效原因有两种:老化和损坏。LED的使用寿命是有限的,长时间使用后会逐渐老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:441445 中图仪器SuperViewW系列3D光学检测仪器用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它基于白光干涉原理,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸,典型结果包括:1、三维表面
2023-11-17 08:59:04
那么就要用到一些常用的失效分析技术。介于PCB的结构特点与失效的主要模式,其中金相切片分析是属于破坏性的分析技术,一旦使用了这两种技术,样品就破坏了,且无法恢复;另外由于制样的要求,可能扫描电镜分析和X射线能谱分析有时也需要部分破坏样品。
2023-11-16 17:33:05115 目前国内尚无专业测量设备能够检测高精度非球面镜片参数,比如微观轮廓参数、水平轴线夹角、光轴位置参数及顶点半径误差、斜率参数等,基本依赖进口,只有部分国产机型能够满足普通精度的微观轮廓Pt参数测量,而
2023-11-16 13:46:42
介绍LGA器件焊接失效分析及对策
2023-11-15 09:22:14349 Micro LED显示面板包含PCB板、LED芯片、封装胶膜、驱动IC等,Micro LED COB显示屏的光学性能关键指标:亮度、对比度、色域、灰阶、刷新率、可视角等。本文通过研究COB单元板光学性能的设计影响因素,为COB单元板的光学性能设计提供参考。
2023-11-13 11:06:34803 中图仪器SuperViewW系列表面3D光学检测仪器基于白光干涉原理,能以3D非接触方式,对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶
2023-11-10 11:50:45
有效的对失效的主板进行FA分析。 在进行FA分析时的时候,是要遵守一定的流程的。 从外观检查,电测,信号检测,其他验证等一步步进行分析验证。 外观检查 外观检查是一片fail板子必须会经过的过程,向一些元件被烧毁,烧焦或者撞
2023-11-07 11:46:52386 电子发烧友网站提供《无创人体血糖光学检测技术研究与展望.pdf》资料免费下载
2023-11-06 16:16:490 异常品暗电流值 正常品暗电流值 异常品阻值 正常品阻值 测试结果 异常品暗电流为4.9989mA,偏离要求范围(1mA 以内),且针对关键节点的分析未见异常。 2、外观及X-RAY分析 X-RAY 外观 测试结果 X-RAY 及外观检测,未见异常。 3、针对失效现象的初步
2023-11-03 11:24:22279 电子发烧友网站提供《大功率固态高功放功率合成失效分析.pdf》资料免费下载
2023-10-20 14:43:470 电子发烧友网站提供《基于自动光学检测仪通信系统设计.pdf》资料免费下载
2023-10-18 10:33:200 本文涵盖HIP失效分析、HIP解决对策及实战案例。希望您在阅读本文后有所收获,欢迎在评论区发表您的想法。
2023-10-16 15:06:08299 形成参考光路和检测光路。用于表面形貌纹理,微观结构分析,用于测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D,3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数,广泛应用于光学,半导体,材料
2023-09-28 15:36:421805 逻辑分析仪参数有哪些? 逻辑分析仪是一种广泛应用于数字电子系统测试的工具。其主要功能是通过对数字信号进行采样和分析,帮助用户定位和解决电子系统中的故障问题。逻辑分析仪的性能参数是衡量逻辑分析
2023-09-19 16:33:181204 滚动轴承的可靠性与滚动轴承的失效形式有着密切的关系,要提高轴承的可靠性,就必须从轴承的失效形式着手,仔细分析滚动轴承的失效原因,才能找出解决失效的具体措施。今天我们通过PPT来了解一下轴承失效。
2023-09-15 11:28:51212 失效分析是一门发展中的新兴学科,近年开始从军工向普通企业普及,它一般根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。
2023-09-12 09:51:47291 失效分析(FA)是根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。
2023-09-06 10:28:051331 集成电路失效分析 随着现代社会的快速发展,人们对集成电路(Integrated Circuit,简称IC)的需求越来越大,IC在各种电子设备中占据着至关重要的地位,如手机、电脑、汽车等都需要使用到
2023-08-29 16:35:13627 芯片失效分析方法 芯片失效原因分析 随着电子制造技术的发展,各种芯片被广泛应用于各种工业生产和家庭电器中。然而,在使用过程中,芯片的失效是非常常见的问题。芯片失效分析是解决这个问题的关键。 芯片
2023-08-29 16:29:112800 半导体失效分析 半导体失效分析——保障电子设备可靠性的重要一环 随着电子科技的不断发展,电子设备已成为人们生活和工作不可或缺的一部分,而半导体也是电子设备中最基本的组成部分之一。其作用是将电能转化
2023-08-29 16:29:08736 电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情,比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效
2023-08-29 10:47:313729 钽电容失效分析 钽电容失效原因分析 钽电容烧坏的几种原因 钽电容是一种电子元器件,通常用于将电场储存为电荷的装置。它们具有高电容和低ESR等优点,因此被广泛应用于数字电路、模拟电路和电源等领域。然而
2023-08-25 14:27:562133 电参数变化(包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上升等),部分功能失效
2023-08-23 11:23:17749 测量金属制品的长度、宽度、高度等维度参数。
除了测量金属表面的形状和轮廓外,光学3D表面轮廓仪还可以生成三维点云数据和色彩图像,用于进一步分析和展示:
1、三维点云数据可以用于进行CAD模型比对、工艺
2023-08-21 13:41:46
AOI检测设备又名AOI光学自动检测设备现已成为电子制造业确保产品质量的重要检测工具和过程质量控制工具,因此,如何从众多的AOI品牌中选择和使用适合自已要求的AOI光学自动检测设备,已成为广大电子
2023-08-18 09:37:441756 洗地机是我们日常生活中常见的清洁设备,而洗地机的缺水检测功能对于保证其正常工作非常重要。光电管道液位传感器的应用有效解决了传统机械式传感器的低精度和卡死失效问题,同时也解决了电容式传感器的感度衰减
2023-08-01 14:17:09
每家汽车主机厂都希望建设高水平的汽车车身冲压车间,主要生产车身覆盖件、重要的车身结构件等,车型越多,冲压件的品种和模具就越多,对冲压检测效率提出了更高的要求。 CASAIM光学自动化检测设备在冲压
2023-07-28 17:12:10409 本文通过对典型案例的介绍,分析了键合工艺不当,以及器件封装因素对器件键合失效造成的影响。通过对键合工艺参数以及封装环境因素影响的分析,以及对各种失效模式总结,阐述了键合工艺不当及封装不良,造成键合本质失效的机理;并提出了控制有缺陷器件装机使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930 随着市场需求的不断增加,近年从事LED制造和研发的人员大大增加。LED企业亦如雨后春笋般成长。由于从事LED驱动研发的企业和人众多,其技术水平参 差不齐,研发出来的LED驱动电路质量好坏不一。导致LED灯具的失效时常发生,阻碍了LED照明的市场推广。
2023-07-25 09:12:046864 自动光学检测(AOI)是电子印刷电路板(pcb)制造和测试中的一项关键技术。自动光学检测,AOI能够快速准确的检测电子组件,特别是pcb,确保产品出厂质量高,产品制作正确,没有制造故障
2023-07-08 09:43:26680 新材料表面检测,多会面临表面缺陷检测、表面瑕疵检测、表面污染物成分分析、表面粗糙度测试、表面失效分析等需求,以下为常备实验室资源这是Amanda王莉的第57篇文章,点这里关注我,记得标星01表面检测
2023-07-07 10:02:45567 光学器件偏振相关的参数包括:偏振度、偏振方向、偏振状态等。以下是它们的详细介绍。
2023-07-05 15:50:53568 信号板HDMI连接器接地pin脚出现烧毁不良图源:华南检测中心本文案例,从信号板HDMI连接器接地pin脚出现烧毁不良现象展开,通过第三方实验室提供失效分析报告,可以聚焦失效可能原因,比如,可能输入
2023-07-05 10:04:23238 与开封前测试结果加以比较,是否有改变,管壳内是否有水汽的影响。进一步可将表面氧化层、铝条去掉,用机械探针扎在有关节点上进行静态(动态)测试、判断被隔离部分是否性能正常,分析失效原因。
2023-07-05 09:43:04317 安捷伦86141B光学分析仪 86141B 是安捷伦的光学分析仪。光谱分析仪,也称为光学分析仪,是一种测量光源功率的精密仪器。该电子测试设备用于监测指定波长范围内的功率分布。它以图表的形式显示测量
2023-07-03 15:13:35239 安捷伦86145B光学分析仪 86145B 是安捷伦的光学分析仪。光谱分析仪,也称为光学分析仪,是一种测量光源功率的精密仪器。该电子测试设备用于监测指定波长范围内的功率分布。它以图表的形式显示测量
2023-07-03 14:56:5494 安捷伦86142B光学分析仪 86142B 是安捷伦的光学分析仪。光谱分析仪,也称为光学分析仪,是一种测量光源功率的精密仪器。该电子测试设备用于监测指定波长范围内的功率分布。它以图表的形式显示测量
2023-07-03 14:12:34116 芯片检测中的非破坏分析有哪些?
2023-06-27 15:20:08
BGA失效分析与改善对策
2023-06-26 10:47:41438 为了防止在失效分析过程中丟失封装失效证据或因不当顺序引人新的人为的失效机理,封装失效分析应按一定的流程进行。
2023-06-25 09:02:30315 集成电路封装失效分析就是判断集成电路失效中封装相关的失效现象、形式(失效模式),查找封装失效原因,确定失效的物理化学过程(失效机理),为集成电路封装纠正设计、工艺改进等预防类似封装失效的再发生,提升
2023-06-21 08:53:40572 ADPD188BI 是完整的光电式测量系统,适合采用光学双波长技术的烟雾检测应用。 该模块集成了高效率光电式测量前端、蓝光和红外(IR)发光二极管(LED)以及一个光电二极管,这些元件包含在定制封装
2023-06-16 15:38:24543 制作复杂光学液体分析测量的原型是一个挑战,需要仔细考虑化学、光学和电子如何相互作用,以得出准确的结果。集成式AFE产品(例如ADPD4101)为在更小的空间内实现更高性能的光学液体检测铺平了道路
2023-06-15 14:15:52478 EMMI:Emission microscopy 。与SEM,FIB,EB等一起作为最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310 基于荧光方法的诊断检测需要借助一个阈值去检测荧光。如果接收的荧光信号低于阈值水平,则无法确定样本中存在目标分析物。系统中的电子器件和一些其他因素可能产生背景噪声使得阈值增高。为降低阈值水平,同时持续稳定地获得更出色的灵敏度而不牺牲选择性,我们需要谨慎设计光学检测系统,确保信号链不会提高背景噪声的水平。
2023-06-12 16:18:04284 摘要 :杂散光是光学系统中所有非正常传输光的总称,杂散光对光学系统性能的影响因系统不同而变化。 因此,在现代光学设计中,杂散光分析成为光学设计工作中的一个重要环节。 杂散光产生的原因比较复杂,讨论
2023-06-12 09:40:14586 安捷伦86142B光学分析仪 86142B 是安捷伦的光学分析仪。光谱分析仪,也称为光学分析仪,是一种测量光源功率的精密仪器。该电子测试设备用于监测指定波长范围内的功率分布。它以图表的形式显示测量
2023-06-12 08:27:2189 安捷伦86146B光学分析仪 86146B 是安捷伦的光学分析仪。光谱分析仪,也称为光学分析仪,是一种测量光源功率的精密仪器。该电子测试设备用于监测指定波长范围内的功率分布。它以图表的形式显示测量
2023-06-10 17:19:22232 本文为 MAX25205 和 MAX25405 手势传感器的光学机械部分提供设计指南。基于红外(IR)技术的手势检测系统存在一个关键的设计问题,即 LED 到传感器之间的光学串扰(见图 1)。特别是
2023-06-09 18:15:02371 Wafer自动光学检测(AOI)设备适用于6寸&8寸&12寸 wafer的2D&3D缺陷检测、尺寸测量,可实现对晶圆各种特征的多维度检测。
2023-06-01 10:56:521898 LED驱动电源作为LED照明中不可或缺的一部分,对其电子封装技术要求亦愈发严苛,不仅需要具备优异的耐候性能、机械力学性能、电气绝缘性能和导热性能,同时也需要兼顾灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驱动电源的使用中,导致LED驱动电源失效的原因都有哪些呢?下面就跟随名锦坊小编一起来看看吧!
2023-05-18 11:21:19851 红光LED芯片是单电极结构,它两个电极之间的材质、厚度、衬底材料与双电极的蓝绿光LED不一样,所承受的静电能量要比双电极的高很多。
2023-05-15 09:26:20423 失效分析为设计工程师不断改进或者修复芯片的设计,使之与设计规范更加吻合提供必要的反馈信息。
2023-05-13 17:16:251365 。
通过对TVS筛选和使用短路失效样品进行解剖观察获得其失效部位的微观形貌特征.结合器件结构、材料、制造工艺、工作原理、筛选或使用时所受的应力等。采用理论分析和试验证明等方法分析导致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678 失效模式:各种失效的现象及其表现的形式。
2023-05-11 14:39:113227 芯片对于电子设备来说非常的重要,进口芯片在设计、制造和使用的过程中难免会出现失效的情况。于是当下,生产对进口芯片的质量和可靠性的要求越来越严格。因此进口芯片失效分析的作用也日渐凸显了出来,那么进口芯片失效分析常用的方法有哪些呢?下面安玛科技小编为大家介绍。
2023-05-10 17:46:31548 为了将制程问题降至最低,环旭电子利用高精度3D X-Ray定位异常元件的位置,利用激光去层和重植球技术提取SiP 模组中的主芯片。同时,利用X射线光电子能谱和傅立叶红外光谱寻找元件表面有机污染物的源头,持续强化SiP模组失效分析领域分析能力。
2023-04-24 11:31:411357 也越来越复杂。为了保证LED质量,保障产品安全,X-ray检测设备在LED生产中应用越来越广泛。 X-ray检测设备是一种应用X射线技术的检测仪器,可对LED芯片的内部结构和外部尺寸进行检测,特别是可以检测LED芯片的封装层是否存在缺陷,检测LED芯片的外形及内部
2023-04-21 14:05:28452 LED灯条x-ray检测是一种常用的电子元件检测方法,它可以检测LED灯条的外观、内部结构和电路图。它使用X射线来检测LED灯条的电路,以及LED灯条内部的电子组件。 LED灯条x-ray检测
2023-04-20 12:01:28669 失效分析(FA)是一门发展中的新兴学科,近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量,技术开发
2023-04-18 09:11:211360 X-Ray检测用于LED芯片封装的无损检测的实施步骤如下: 1、准备检测设备:首先准备X射线检测设备,包括X射线摄像机、X射线仪器、X射线照相机等设备。 2、设置检测参数:其次,设置检测参数,包括
2023-04-14 14:48:24480 X-Ray检测是一种无损检测技术,其应用于LED芯片封装的无损检测尤为重要。本文主要介绍X-Ray检测用于LED芯片封装的无损检测的原理、优势、实施步骤及其有效性等问题,以期为LED芯片封装的无损
2023-04-13 14:04:58975 BGA失效分析与改善对策
2023-04-11 10:55:48577 程中出现了大量的失效问题。 对于这种失效问题,我们需要用到一些常用的失效分析技术,来使得PCB在制造的时候质量和可靠性水平得到一定的保证,本文总结了十大失效分析技术,供参考借鉴。
2023-04-10 14:16:22749 X-ray在线检测是一种非常有效的电子元件检测技术,它可以用来检测LED灯条。X-ray在线检测可以实现快速和准确的检测,而且它也可以检测出LED灯条中隐藏的缺陷。 X-ray在线检测通过将X射线
2023-04-10 12:00:00396
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