、衬底检查、扫描电镜检查、PN结染⾊、DB FIB、热点检测、漏电位置检测、弹坑检测、粗细捡漏、ESD 测试（2）常⻅失效模式分析：静电损伤、过电损伤、键合
2024-03-15 17:34:29
服务范围LED芯片、LED支架、LED封装胶、银浆、键合线、LED灯珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED灯具、灯具驱动电源。检测标准● GB/T15651-1995半导体器件分立器件
2024-03-15 09:23:03
基本介绍功率器件可靠性是器件厂商和应用方除性能参数外最为关注的，也是特性参数测试无法评估的，失效分析则是分析器件封装缺陷、提升器件封装水平和应用可靠性的基础。广电计量拥有业界领先的专家团队及先进
2024-03-13 16:26:07
MOS管瞬态热阻测试（DVDS）失效品分析如何判断是封装原因还是芯片原因，有什么好的建议和思路
2024-03-12 11:46:57
射线，表征材料元素方面的信息，可定性、半定量Be-U的元素 ；
定位测试点，如在失效分析中可以用来定位失效点，在异物分析中可以用来定位异物点。
博****仕检测测试案例：
1.观察材料的表面形貌
2024-03-01 18:59:58
LED的反向漏电流（Ir）偏移量超过ESD测试前测量值的10倍。这也是判断LED是否受到静电击穿的一个指标。
2024-02-18 12:28:09
196 ; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求检测项目试验类型试验项⽬⽆损分析X 射线透视、声学扫描显微镜、⾦相显微镜电特性/电性定位分析电参数测试、IV&a
2024-01-29 22:40:29
什么是锂离子电池失效？锂离子电池失效如何有效分析检测？ 锂离子电池失效是指电池容量的显著下降或功能完全丧失，导致电池无法提供持久且稳定的电能输出。锂离子电池失效是由多种因素引起的，包括电池化学反应
2024-01-10 14:32:18216 我用的是ＡＤＰ2114 DCtoDC电源管理芯片，输出设置为3.3V/3A和1.2V/1A，输出频率为600KHz,电路如图：
现在遇到的问题是手碰到芯片后芯片会损坏，用万用表测量SW1,SW2对VIN1短路，请教问各位大虾出现这种故障的原因是因为静电击穿还是别的原因？
2024-01-08 07:46:53
ESD静电放电有几种主要的破坏机制 ESD失效的原因 静电放电(ESD)是由于静电的积累导致电荷突然放电到不同电势的物体上而引起的一系列现象。ESD可能对电子设备和电路产生不可逆的破坏，因此对于
2024-01-03 13:42:481269 是非常重要的。 静电的危害： 1. 火灾爆炸风险：静电可以在某些情况下引发火灾和爆炸。例如，在油气行业中，静电可以在携带易燃气体或液体的设备和管道中产生火花，引起爆炸。 2. 电击风险：当人体带有静电时，触摸带电物体可能
2024-01-03 13:42:38404 USB接口静电防护器件选型要点 USB接口静电防护器件是一种用于防止USB接口设备受到静电击穿和损坏的关键器件。在设计电子产品中, 对于USB接口的保护是非常重要的，因为不合适的保护可能导致设备损坏
2024-01-03 11:31:24635 ESD静电屏蔽防护的方法及原理分析 ESD静电放电是指两个物体之间由于电荷不平衡而产生的电能放出。静电放电会对电子器件和设备造成损害，从而影响它们的性能、可靠性和寿命。为了保护电子设备和器件免受静电
2024-01-03 11:09:47322 ESD静电保护器件的特点及选型 ESD静电保护器件是一种用于防止静电击穿和静电放电对电子产品的损害的器件。静电释放是一种突然的瞬态电流，可能会导致电子元件和芯片的永久损坏。因此，为了保护电子设备
2024-01-03 10:24:39222 崩击穿和齐纳击穿是半导体器件中常见的两种击穿现象，它们在物理机制、电压特性和应用方面有很大的区别。本文将对这两种击穿现象进行详细的介绍和分析。 一、雪崩击穿 物理机制 雪崩击穿是指在高电场作用
2023-12-30 17:06:003163 
esd静电二极管有方向吗？ ESD静电二极管是一种用于防止和保护电子设备被静电击穿和损坏的重要元件。它具有独特的方向性和特性，能够有效地将静电放电到安全的地方。本文将详细介绍ESD静电二极管
2023-12-29 15:17:19269 在了解了DIPIPM失效分析的流程后是不是会很容易地找到市场失效的原因了呢？答案是否定的。不管是对收集到的市场失效信息还是对故障解析报告的解读、分析都需要相应的专业技能作为背景，对整机进行的测试也需要相应的测试技能。
2023-12-27 15:41:37278 
点有可能发生了击穿放电。 2. 气体分析：通过对故障点附近空气中的气体成分进行分析，可以确定是否存在放电产生的气体，如硫化氢，二氧化硫等。这些气体的存在通常是击穿放电的明显证据。 3. 热成像检测：使用红外热成像仪可以检测故障
2023-12-26 16:01:51160 DIPIPM是双列直插型智能功率模块的简称，由三菱电机于1997年正式推向市场，迄今已在家电、工业和汽车空调等领域获得广泛应用。本讲座主要介绍DIPIPM的基础、功能、应用和失效分析技巧，旨在帮助读者全面了解并正确使用该产品。
2023-12-22 15:15:27241 
如何使用频谱分析仪来观察和分析杂散信号？ 频谱分析仪是一种广泛应用于电子领域的仪器，用于观察和分析信号的频谱特性。它可以帮助工程师们检测和排除信号中的杂散信号，确保设备的正常工作和无干扰的信号传输
2023-12-21 15:37:16592 ESD静电的危害与失效类型及模式？|深圳比创达电子
2023-12-21 10:19:12407 
防静电电阻大好还是小好 静电指的是物体表面带电现象，而静电放电则是指当两个带电物体接触时，电荷会从一个物体转移到另一个物体上。这种现象在日常生活和工业生产中经常出现，通常会引起电击、火花等意外事故
2023-12-20 13:54:13856 ESD失效和EOS失效的区别 ESD（电静电放电）失效和EOS（电压过冲）失效是在电子设备和电路中经常遇到的两种失效问题。尽管它们都涉及电气问题，但其具体产生的原因、影响、预防方法以及解决方法
2023-12-20 11:37:023069 ▼关注公众号：工程师看海▼ 失效分析一直伴随着整个芯片产业链，复杂的产业链中任意一环出现问题都会带来芯片的失效问题。芯片从工艺到应用都会面临各种失效风险，笔者平时也会参与到失效分析中，这一期就对失效
2023-12-20 08:41:04530 
根据不同的诱因，常见的对半导体器件的静态损坏可分为人体，机器设备和半导体器件这三种。
当静电与设备导线的主体接触时，设备由于放电而发生充电，设备接地，放电电流将立即流过电路，导致静电击穿。外部物体
2023-12-12 17:18:54
有一批现场仪表在某化工厂使用一年后，仪表纷纷出现故障。经分析发现仪表中使用的厚膜贴片电阻阻值变大了，甚至变成开路了。把失效的电阻放到显微镜下观察，可以发现电阻电极边缘出现了黑色结晶物质，进一步分析
2023-12-12 15:18:171020 
1、案例背景 LED灯带在使用一段时间后出现不良失效，初步判断失效原因为铜腐蚀。据此情况，对失效样品进行外观观察、X-RAY分析、切片分析等一系列检测手段，明确失效原因。 2、分析过程 2.1 外观
2023-12-11 10:09:07188 
这期我带大家继续进行静电放电问题典型案例分析，前篇文章分别介绍了复位信号、DC-DC芯片设计问题引发的静电放电问题；这篇文章将介绍软件设计、PCB环路设计引发的静电放电问题；话不多说，还是通过两个案例展现给大家。
2023-12-11 10:03:46489 减少静电产生和降低击穿风险的方法和材料 静电是一种普遍存在的现象，对人类和设备都可能产生一定程度的威胁。为了减少静电的产生，并降低由于静电引起的击穿风险，人们在不同领域积极进行研究和实践。本文将详细
2023-11-29 16:30:06274 DIPIPM是双列直插型智能功率模块的简称，由三菱电机于1997年正式推向市场，迄今已在家电、工业和汽车空调等领域获得广泛应用。本讲座主要介绍DIPIPM的基础、功能、应用和失效分析技巧，旨在帮助读者全面了解并正确使用该产品。
2023-11-29 15:16:24414 
从这期开始我将带大家进入静电放电问题的典型案例分析，通过具体的实际案例以帮助大家消化前面的知识，并通过典型案例的分析为后面静电放电设计做铺垫。
2023-11-29 09:17:53347 
何谓PN结的击穿特性？雪崩击穿和齐纳击穿各有何特点？ PN结的击穿特性是指当在PN结上施加的电压超过一定的值时，PN结将发生击穿现象，电流迅速增大，导致结电压快速降低。击穿是指在正向或反向电压
2023-11-24 14:20:271216 什么是雪崩击穿？单脉冲雪崩与重复雪崩有何不同？雪崩击穿失效机理是什么？ 雪崩击穿是指在电力系统中，由于过电压等原因导致绝缘击穿，进而引发设备失效的一种故障现象。在电力系统中，绝缘是保证设备正常运行
2023-11-24 14:15:36818 半导体器件击穿机理分析及设计注意事项
2023-11-23 17:38:36474 
静电放电与电路在一些环境下，静电很容易积累并在放电的时候产生很大的电击。我们做个实验，穿着袜子在地毯上来回走动，然后去触碰别人引起别人电击惊吓。被电击后惊讶之余，我们并不太担心，因为普通静电不会
2023-11-23 10:06:40201 
损坏的器件不要丢，要做失效分析！
2023-11-23 09:04:42181 
压接型IGBT器件与焊接式IGBT模块封装形式的差异最终导致两种IGBT器件的失效形式和失效机理的不同，如表1所示。本文针对两种不同封装形式IGBT器件的主要失效形式和失效机理进行分析。1.焊接式IGBT模块封装材料的性能是决定模块性能的基础，尤其是封装
2023-11-23 08:10:07721 
为满足客户分析需求的多样性，季丰电子在张江实验室配备了激光诱导击穿光谱元素分析设备，采用355nm的YAG激光诱导被测材料产生光谱；
2023-11-21 10:15:47558 
FPC在后续组装过程中，连接器发生脱落。在对同批次的样品进行推力测试后，发现连接器推力有偏小的现象。据此进行失效分析，明确FPC连接器脱落原因。
2023-11-20 16:32:22312 
将详细分析光耦失效的几种常见原因。 首先，常见的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦发光二极管的核心部件，它会发出光信号。常见的LED失效原因有两种：老化和损坏。LED的使用寿命是有限的，长时间使用后会逐渐老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:441445 冬天在地垫上行走时，会感觉触电感；在冬天接触把手时也会感觉被电到；在穿衣服时听到的噼啪声等等。
这些生活中微不足道的静电现象，却对电子元件和电子线路板有着很大的影响，比如可能会产生静电击穿使元件损坏或
2023-11-17 14:28:26
在SMT加工过程中，静电放电会对电子元器件造成损伤或失效，随着IC集成度的提高和元器件的逐渐缩小，静电的影响也变得愈加严重。据统计，导致电子产品失效的因素中，静电占比8%~33%，而每年因为静电
2023-11-17 08:07:49394 
在SMT加工过程中，静电放电会对电子元器件造成损伤或失效，随着IC集成度的提高和元器件的逐渐缩小，静电的影响也变得愈加严重。 据统计，导致电子产品失效的因素中，静电占比8%~33%，而每年因为静电
2023-11-16 19:05:01250 
那么就要用到一些常用的失效分析技术。介于PCB的结构特点与失效的主要模式，其中金相切片分析是属于破坏性的分析技术，一旦使用了这两种技术，样品就破坏了，且无法恢复；另外由于制样的要求，可能扫描电镜分析和X射线能谱分析有时也需要部分破坏样品。
2023-11-16 17:33:05115 切片分析切片分析就是通过取样、镶嵌、切片、抛磨、腐蚀、观察等一系列手段和步骤获得 PCB 横截面结构的过程。
2023-11-16 16:31:56156 在SMT加工过程中，静电放电会对电子元器件造成损伤或失效，随着IC集成度的提高和元器件的逐渐缩小，静电的影响也变得愈加严重。 据统计，导致电子产品失效的因素中，静电占比8%~33%，而每年因为静电
2023-11-15 14:52:56865 
在SMT加工过程中，静电放电会对电子元器件造成损伤或失效，随着IC集成度的提高和元器件的逐渐缩小，静电的影响也变得愈加严重。
2023-11-15 09:25:33740 
介绍LGA器件焊接失效分析及对策
2023-11-15 09:22:14349 
抵消电压。
比如冬天在地垫上行走时，会感觉触电感；在冬天接触把手时也会感觉被电到；在穿衣服时听到的噼啪声等等。
这些生活中微不足道的静电现象，却对电子元件和电子线路板有着很大的影响，比如可能会产生静电击穿
2023-11-14 18:39:57
LED大屏幕核心元器件是由LED灯珠及IC驱动组成，由于LED对于静电很敏感，静电过大会导致发光二极管击穿，因此安装LED大屏幕过程中必须要做好接地措施，才能避免死灯的风险。
2023-11-09 11:05:59534 在电子产品的验证测试中，静电测试是非常重要的一项。 静电放电可能会造成电子产品如手机，智能锁等发生突然性失效或者潜在性失效，使得电子产品出现故障或性能下降，所以针对静电测试是电子产品上市的一个重要
2023-11-06 17:07:071021 一、案例背景 车门控制板发生暗电流偏大异常的现象，有持续发生的情况，初步判断发生原因为C3 MLCC电容开裂。据此情况，结合本次失效样品，对失效件进行分析，明确失效原因。 二、分析过程 1、失效复现
2023-11-03 11:24:22279 
【电磁兼容技术案例分享】静电放电（ESD）整改案例分析
2023-11-03 08:17:43765 
LED大屏幕核心元器件是由LED灯珠及IC驱动组成，由于LED对于静电很敏感，静电过大会导致发光二极管击穿，因此安装LED大屏幕过程中必须要做好接地措施，才能避免死灯的风险。
2023-11-01 09:34:01492 静电放电过程中静电干扰主要通过三种间接耦合方式干扰敏感源，即电场耦合、磁场耦合、地弹。前文已经深入分析了静电放电过程中的电场耦合，今天就谈谈静电放电过程中的磁场耦合，也可以理解环路耦合。
2023-10-30 14:24:46875 
电子发烧友网站提供《基于Matlab微带线静电场分析.pdf》资料免费下载
2023-10-25 11:10:46
0 本文涵盖HIP失效分析、HIP解决对策及实战案例。希望您在阅读本文后有所收获，欢迎在评论区发表您的想法。
2023-10-16 15:06:08299 
的，并且可以用于各种电路，包括放大器、滤波器、振荡器、电源等。 虽然CBB电容器的使用范围很广，但是它们仍然容易受到电击穿的影响。击穿是指电压高于电容器所能承受的电压极限而导致的电流穿过电容器的现象。CBB电容的击穿可能会导致电容器失效
2023-09-22 17:42:00620 为什么PN结的雪崩击穿和齐纳击穿在温度升高的情况下，击穿电压变化方向相反？ PN结是半导体器件中最基本的组成部件之一，广泛应用于电力、电信、信息处理等领域。PN结的雪崩击穿和齐纳击穿是PN结失效
2023-09-21 16:09:511811 在日常的电源设计中，半导体开关器件的雪崩能力、VDS电压降额设计是工程师不得不面对的问题，本文旨在分析半导体器件击穿原理、失效机制，以及在设计应用中注意事项。
2023-09-19 11:44:382588 晶闸管被击穿有什么影响 晶闸管是一种半导体器件，它在控制电路中起着非常关键的作用。然而，当晶闸管被击穿时，它会受到损坏，从而影响整个电路的正常运行。因此，了解晶闸管被击穿的影响非常重要。本文将对
2023-09-13 16:39:511378 静电无处不在，区别在于静电的多少而已。特别是工业生产过程中，大量的静电会有很多危害。 静电的危害有几点：1.引起电子设备的故障或误动作，造成电磁干扰。2.击穿集成电路和精密的电子元件，或使元件老化
2023-09-13 09:25:53427 
失效分析是一门发展中的新兴学科，近年开始从军工向普通企业普及，它一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量，技术开发、改进，产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。
2023-09-12 09:51:47291 
失效分析(FA)是根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。
2023-09-06 10:28:051331 
数码相机设计更加趋于多功能和智能化，对于其集成电路设计也有了严苛的要求。在数码相机的研发过程中，电路的高集成、线细以及线间距短等特性，使得电子元件和电路板对静电越来越敏感，因此需要在相机内部设计静电防护电路，有效抑制静电干扰，防止静电放电击穿带来的危害，从而提高相机的可靠性和稳定性。
2023-09-05 09:15:46421 
集成电路失效分析 随着现代社会的快速发展，人们对集成电路（Integrated Circuit，简称IC）的需求越来越大，IC在各种电子设备中占据着至关重要的地位，如手机、电脑、汽车等都需要使用到
2023-08-29 16:35:13627 ，极易出现失效问题。因此，深入研究SBD失效机理，对于促进SBD的性能和寿命提高，具有重要的意义。 SBD失效机理可以从电学和物理两个方面讨论。首先，SBD失效机理包括电学性失效和物理性失效。 电学性失效： 1.反向击穿失效 SBD在反向电场下受到电子渗出现象（即逆向电子穿透
2023-08-29 16:35:08971 芯片失效分析方法 芯片失效原因分析 随着电子制造技术的发展，各种芯片被广泛应用于各种工业生产和家庭电器中。然而，在使用过程中，芯片的失效是非常常见的问题。芯片失效分析是解决这个问题的关键。 芯片
2023-08-29 16:29:112800 半导体失效分析 半导体失效分析——保障电子设备可靠性的重要一环 随着电子科技的不断发展，电子设备已成为人们生活和工作不可或缺的一部分，而半导体也是电子设备中最基本的组成部分之一。其作用是将电能转化
2023-08-29 16:29:08736 钽电容失效分析 钽电容失效原因分析 钽电容烧坏的几种原因 钽电容是一种电子元器件，通常用于将电场储存为电荷的装置。它们具有高电容和低ESR等优点，因此被广泛应用于数字电路、模拟电路和电源等领域。然而
2023-08-25 14:27:562133 ：a、静电注入金属壳上时，金属外壳与MOS管的散热器之间存在拉弧放电，最初版本的MOS管耐压性能差，易被静电击穿烧毁。b、电源插件小板也靠近MOS管散热器，尤其是尺寸较大的电解电容器，更易将干扰引入此
2023-08-15 11:00:27
：a、静电注入金属壳上时，金属外壳与MOS管的散热器之间存在拉弧放电，最初版本的MOS管耐压性能差，易被静电击穿烧毁。b、电源插件小板也靠近MOS管散热器，尤其是尺寸较大的电解电容器，更易将干扰引入此
2023-08-15 10:57:02
本文通过对典型案例的介绍，分析了键合工艺不当，以及器件封装因素对器件键合失效造成的影响。通过对键合工艺参数以及封装环境因素影响的分析，以及对各种失效模式总结，阐述了键合工艺不当及封装不良，造成键合本质失效的机理；并提出了控制有缺陷器件装机使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930 工业静电监控系统是一种用于监测和控制工业生产过程中静电现象的技术系统。静电是指由于物体间的电荷不平衡而产生的电场现象，它在工业生产中可能导致电击、火花、电磁干扰等质量问题。 工业静电监控系统主要通过
2023-07-25 09:40:11248 
随着市场需求的不断增加，近年从事LED制造和研发的人员大大增加。LED企业亦如雨后春笋般成长。由于从事LED驱动研发的企业和人众多，其技术水平参 差不齐，研发出来的LED驱动电路质量好坏不一。导致LED灯具的失效时常发生，阻碍了LED照明的市场推广。
2023-07-25 09:12:046864 
在组装线上，工人正在组装敏感的电子元器件到电路板上，当工人将带有静电电荷的手接触到敏感的元器件或电路板时，静电电荷会迅速放电，产生高能量的电流。这可能会损坏元器件的内部电子元件，导致元器件无法正常工作或完全失效。
2023-07-14 10:25:161599 感测型静电消除器是一种能够监测和消除静电的装置。静电是由于物体表面积聚了不平衡的电荷而产生的现象，常常会引发电击、火花、物体吸附等问题。 感测型静电消除器通常包含以下几个主要部分： 1. 传感器
2023-07-14 10:12:29399 
01 反 向雪崩击穿 一、背景介绍 根据 Using LED as a Single Photon Detector [1] 所介绍的红色LED的单光子雪崩反向击穿电流效应
2023-06-30 07:35:04442 
机理、气候环境应力失效机理和辐射应力失效机理等几大类。 1. 电应力失效机理 电应力失效包括封装中的静电放电，集成电路中存在n-p-n-p结构而形成正反馈（月锁效应） 或钝化层介质受潮/污染/损伤 （白道击穿）等过电应力损伤导致
2023-06-26 14:15:31603 
BGA失效分析与改善对策
2023-06-26 10:47:41438 
为了防止在失效分析过程中丟失封装失效证据或因不当顺序引人新的人为的失效机理，封装失效分析应按一定的流程进行。
2023-06-25 09:02:30315 
集成电路封装失效分析就是判断集成电路失效中封装相关的失效现象、形式（失效模式），查找封装失效原因，确定失效的物理化学过程（失效机理），为集成电路封装纠正设计、工艺改进等预防类似封装失效的再发生，提升
2023-06-21 08:53:40572 生活中到处都是静电，而电子元器件70%以上的失效都来源于静电，所以我们不得不通过静电测试来模拟生活中的静电对电子产品的伤害
2023-06-08 10:26:29925 
生活中到处都是静电，而电子元器件70%以上的失效都来源于静电，所以我们不得不通过静电测试来模拟生活中的静电对电子产品的伤害，避免产品在使用过程中因为静电而导致产品失效甚至危害人体安全。
2023-05-30 11:06:45475 
LED显示屏产生静电主要有两种途径：一种是通过人体或器材与地面产生的静电放电，另一种是通过电磁波干扰形成的静电。
2023-05-26 15:16:46723 
LED驱动电源作为LED照明中不可或缺的一部分，对其电子封装技术要求亦愈发严苛，不仅需要具备优异的耐候性能、机械力学性能、电气绝缘性能和导热性能，同时也需要兼顾灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驱动电源的使用中，导致LED驱动电源失效的原因都有哪些呢?下面就跟随名锦坊小编一起来看看吧!
2023-05-18 11:21:19851 红光LED芯片是单电极结构，它两个电极之间的材质、厚度、衬底材料与双电极的蓝绿光LED不一样，所承受的静电能量要比双电极的高很多。
2023-05-15 09:26:20423 
失效分析为设计工程师不断改进或者修复芯片的设计，使之与设计规范更加吻合提供必要的反馈信息。
2023-05-13 17:16:251365 。
通过对TVS筛选和使用短路失效样品进行解剖观察获得其失效部位的微观形貌特征．结合器件结构、材料、制造工艺、工作原理、筛选或使用时所受的应力等。采用理论分析和试验证明等方法分析导致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678 
芯片对于电子设备来说非常的重要，进口芯片在设计、制造和使用的过程中难免会出现失效的情况。于是当下，生产对进口芯片的质量和可靠性的要求越来越严格。因此进口芯片失效分析的作用也日渐凸显了出来，那么进口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安玛科技小编为大家介绍。
2023-05-10 17:46:31548 通常情况下短接会造成线路的损坏、二极管被击穿、变压器烧毁、引起火灾触电等危害。ESD静电二极管作为用的最多的防护静电器件，在操作过程中也时常将电路线中的零线、火线错节，从而造成短接，出现二极管被击穿
2023-05-10 10:26:281325 
失效分析（FA）是一门发展中的新兴学科，近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量，技术开发
2023-04-18 09:11:211360 
目前大多数的led显示屏制造商尚不完全具备生产该类产品的真正能力，从而给LED显示屏产品带来了隐患，以至影响到整个市场，静电就是其中之一。那么，LED显示屏静电产生的原因是什么？静电给LED显示屏生产带来哪些危害？
2023-04-13 17:08:27527 
BGA失效分析与改善对策
2023-04-11 10:55:48577 程中出现了大量的失效问题。 对于这种失效问题，我们需要用到一些常用的失效分析技术，来使得PCB在制造的时候质量和可靠性水平得到一定的保证，本文总结了十大失效分析技术，供参考借鉴。
2023-04-10 14:16:22749 目前大概用了50000片芯片，其中1片芯片EN脚关不断，综合分析了各种可能发生的原因，怀疑是芯片静电击穿，只有1PCS，开盖分析没有明显不良，要怎么证明是静电击穿啊
2023-03-29 15:07:01
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