电子元器件真伪鉴别服务分析

IC真伪鉴别项目：
 

IC( Integrated Circuit 集成电路)是指将很多的微电子元器件(如晶体管、电阻、电容、二极管等)集成的集成电路 放在一块塑料基板上，做成的一块芯片。IC芯片的概念广义的讲，就是半导体元件产品的统称。
 

2010年，由于金融市场的各个因素，国内IC市场，主流的一些IC产品，从09年底到目前，出现了供不应求，大部分厂家生产线停滞不前的现象。由于这种现象，国内IC市场出现了大量IC方面的名词：散新货、翻新货、原字原脚货、全新原装货。
 

散新货：散新货分两种，一种是生产厂家，没有进过QC而走入市场的货物，这里面成品率不是很高，另一种则是没有用过，没有外包装，可能氧化的货。
 

翻新货：这类货通过国内一些只图利润率的企业，将各种渠道回收回来的货，按型号，按封装，进行编带，打字，换成新批号。而另一种是采购人员最可怕的一种，就是将某个IC同一种封装的型号，但不是同一个品牌或不是同一个功能的IC通过打字翻新后，仿制型号，这种货，会给采购工厂带来很重大的损失。
 

原字原脚货：这类的货，说白了，就是拆机件，有一些封装简单，可以重复擦写的IC芯片，通过拆取，将其拿下，二次流放到市场中，这样的货，一般价格比较便宜。
 

全新原装货：这个就不用多解释了，这种货，都是原厂经过QC认证后，走入市场的货，一般价格可能会高一点，但是质量肯定是达标的。     

通过以上几种现象，鉴别IC芯片的真伪的方法有如下方法：
 

外观检测：外观检测通常使用光学显微镜，检查芯片的共面性、表面的印字、器件主体和管脚等，是否符合特定要求。

 

图1. IC外观检测图片
 

X-ray检测：X-Ray透视检查是一种无损检查方法，可多角度观察物件内部结构。通过X-Ray透视、检查被测器件封体内部的晶粒、引线框、金线是否存在物理性缺陷。

图2.集成电路IC X射线透视图片

丙酮擦拭测试：丙酮擦拭是用一定浓度的丙酮对芯片正表面的丝印进行有规则地擦拭，其结果用于判断芯片表面是否为重新印字。
 

图3. IC丙酮擦拭测试图片
 

开封测试：开封去盖是一种理化结合的试验，是将芯片外表面的环氧树脂胶体溶掉，保留完整的晶粒或金线，便于检查晶粒表面的重要标识、版图布局、工艺缺陷等。
 

图4. IC开封后图片（500X）
 

无铅检测：利用SEM/EDS对零件引脚或端子进行侦测，确认是否含铅，可以提供测试数据以及报告。
 

图5. EDS能谱图
 

电性检测/功能测试：利用IV曲线追踪仪和探针台进行IC各管脚及开封后各金线的曲线测试，包括：量产测试，开短路测试，漏电流测试。
 

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