WD4000国产晶圆几何形貌量测设备通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV、BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。可实现砷化镓
2024-03-15 09:22:08
任务要求:
了解微电子封装中的引线键合工艺,学习金丝引线键合原理,开发引线键合工艺仿真方法,通过数据统计分析和仿真结果,分析得出引线键合工序关键工艺参数和参数窗口,并给出工艺参数和键合质量之间的关系
2024-03-10 14:14:51
如果怀疑晶振不起振造成电路板上电不良,该如何进一步判定是晶振本身的不良呢?这一步的判定非常关键,因为若为晶振不振,就可以排除晶振与电路板不匹配造成电路板上电不良发生的假定。晶发电子以下介绍针对晶振
2024-03-06 17:22:17
直流电功能损耗高,AMCOM强烈要求对具有共晶键合的裸片芯片元件安装在铜散热器上。如果共晶键没有丝毫间隙,AM09012541WM-B-SN-R能够在脉冲情况下在8V直流电偏置电压下工作。否则
2024-03-04 09:49:08
;40dBm。AM08011039WM-00是款未封装裸芯片。因为直流电功耗高,AMCOM强烈要求将这类具备共晶键合的装置安装在铜热管散热器上。如果共晶键没有丝毫间隙,AM08011039WM-SN-R能够在
2024-02-27 09:25:49
在配电系统中,控台工作台有这几个专业性的词是什么意思?总入合总入分直送合直送分,他们具体代表专业的术语分别对应什么意思?
2024-02-22 10:31:24
WD4000无图晶圆几何形貌测量系统是通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。可兼容不同材质
2024-02-21 13:50:34
1、我在使用ADuC7020时,在外部晶振上是按照中文说明书上P88页 ,没有在晶振两头放匹配电容,现在使用时发现晶振有时候不能起振
想问下放不放匹配电容对起振是否有影响?
2、关于
2024-01-12 07:35:22
WD4000无图晶圆几何形貌测量设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等
2024-01-10 11:10:39
WD4000半导体晶圆厚度测量系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR
2024-01-09 09:08:07
WD4000半导体量检测设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面
2024-01-03 10:02:59
固化片,按排版顺序套在装有定位的模板上,再通过加热几个固定点,利用半固化片受热融化凝固定位。
可以参考下图:4层板压合工序的叠层顺序
压合前需预补偿
高多层板HDI压合,层数越多压合公差越大,根据
2023-12-25 14:12:44
固化片,按排版顺序套在装有定位的模板上,再通过加热几个固定点,利用半固化片受热融化凝固定位。
可以参考下图:4层板压合工序的叠层顺序
压合前需预补偿
高多层板HDI压合,层数越多压合公差越大,根据
2023-12-25 14:09:38
TC-Wafer是将高精度温度传感器镶嵌在晶圆表面,对晶圆表面的温度进行实时测量。通过晶圆的测温点了解特定位置晶圆的真实温度,以及晶圆整体的温度分布,同还可以监控半导体设备控温过程中晶圆发生的温度
2023-12-21 08:58:53
)及分析反映表面质量的2D、3D参数。广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。WD
2023-12-20 11:22:44
中图仪器一键式测量仪厂家VX8000系列采用双远心高分辨率光学镜头,结合高精度图像分析算法,并融入一键闪测原理。一键测量二维平面尺寸测量,或是搭载光学非接触式测头实现高度尺寸、平面度等参数的精密快速
2023-12-18 11:03:23
中图仪器WD4000无图晶圆几何形貌量测系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立表面3D
2023-12-14 10:57:17
请问AD9956如果选择直接用外部晶振时钟,对晶振的频率有要求吗?一定要400M,还是只要不超过400M就可以,比如20M。谢谢!
2023-12-13 08:55:39
中图仪器VX8000系列尺寸一键快速闪测仪一键测量二维平面尺寸测量,或是搭载光学非接触式测头实现高度尺寸、平面度等参数的精密快速测量,被广泛应用于3C电子零件、精密五金配件及塑胶产品等常规尺寸的快速
2023-12-11 09:08:10
我在使用AD7768的过程中,clk_sel拉高,使用外部晶振或者LVDS,使用LVDS的时候采样正常,但是用无源晶振的时候晶振无法起振,是不是除了clk_sel拉高之外还需要什么设置才会使用外部晶振
2023-12-11 08:22:54
微电子封装,首先我们要叙述一下三级封装的概念。一般说来,微电子封装分为三级。所谓一级封装就是在半导体圆片裂片以后,将一个或多个集成电路芯片用适宜的封装形式封装起来,并使芯片的焊区与封装的外引脚用引线键合
2023-12-11 01:02:56
设计时,AD2S1210的时钟输入采用8.192MHZ的有源晶振,选择晶振时对有源晶振的功率有什么要求???一个有源晶振能不能给两个AD2S1210芯片提供时钟输入???感谢!
2023-12-07 07:07:43
晶圆测温系统tc wafer晶圆表面温度均匀性测温晶圆表面温度均匀性测试的重要性及方法 在半导体制造过程中,晶圆的表面温度均匀性是一个重要的参数
2023-12-04 11:36:42
请问像AD8233一样的晶圆封装在PCB中如何布线,芯片太小,过孔和线路都无法布入,或者有没有其他封装的AD8233
2023-11-14 07:01:48
速用快板合拼简介欢迎了解速用快板合拼系统,专为中小批量板厂和快板厂定制的投料软件。本款软件能够以最少种类的工作板(母板)完成上百订单的分组加工。在保证利用率的同时,我们的合拼软件提高了企业生产效率
2023-11-10 11:34:01
WD4000晶圆几何形貌测量及参数自动检测机通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷
2023-11-06 10:49:18
WD4000系列半导体晶圆几何形貌自动检测机采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR
2023-11-06 10:47:07
外部晶振断电内部晶振是不是迅速起电
2023-11-03 08:02:15
每次按一下TAB键会移过去好多空格。像MDK一样只有4个空格多好。
2023-10-27 07:28:48
一键快速影像测量仪也叫闪测仪、一键式测量仪、快速图像尺寸测量仪。它采用双远心高分辨率光学镜头,结合高精度图像分析算法,并融入一键闪测原理。CNC模式下,只需按下启动键,仪器即可根据工件的形状自动定位
2023-10-25 13:42:14
晶振的作用是啥?只是为了提供时钟周期吗?
2023-10-25 07:19:37
WD4000半导体晶圆表面三维形貌测量设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示
2023-10-23 11:05:50
WD4000半导体晶圆检测设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI
2023-10-19 11:08:24
WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三维形貌 、单层膜厚 、多层膜厚 。使用光谱共焦对射技术测量晶圆 Thickness 、TTV 、LTV 、BOW
2023-10-18 09:09:00
2.4TFT屏幕上怎么画实心圆?
2023-10-16 09:12:27
固化片,按排版顺序套在装有定位的模板上,再通过加热几个固定点,利用半固化片受热融化凝固定位。
可以参考下图:4层板压合工序的叠层顺序
压合前需预补偿
高多层板HDI压合,层数越多压合公差越大,根据
2023-10-13 10:31:12
固化片,按排版顺序套在装有定位的模板上,再通过加热几个固定点,利用半固化片受热融化凝固定位。
可以参考下图:4层板压合工序的叠层顺序
压合前需预补偿
高多层板HDI压合,层数越多压合公差越大,根据
2023-10-13 10:26:48
stm32有内部晶振,为什么还要用外部晶振?
2023-10-13 06:19:46
GD32的晶振和STM32的晶振连接有什么不同的地方
2023-10-11 07:58:05
用按键作显示模式选择键,实现上述实验中3个显示画面的切换,即上电显示“1”,按1次键显示“1234”,再2次键显示2位秒计数器,按3次键又显示“1”……。这个怎么做呀?#define THCO0xee
#define TLCO0x0还有这个定义该怎么判断什么时候需要又如何来写呢??
2023-10-08 08:59:50
,form,action 和 jsp,这种开发效率实在是低,为了以后能够尽快融入新的工作环境,保证开发速度,现在必须学习 eclipe 的使用。其实开发工具个人认为大体都是相同的,不同的只是快捷键的使用,而且快捷键是开发中的利器,所以首先从快捷键开始学习吧!
2023-09-28 07:59:31
中图仪器一键自动闪测仪VX8000系列测量过程任意摆放产品,无需夹具定位,仪器自动识别,自动匹配模板,一键测量。更适用于要求批量测量或自动测量的应用场景。如电子PCB测量、五金零部件检测、橡胶圈尺寸
2023-09-27 11:43:11
VX系列一键式测量仪适用于手机配件、等小尺寸工件的批量测量,速度快,操作简单;对于复杂工件,能实现快速测量,大大提高了测量效率。它能一键测量二维平面尺寸测量,或是搭载光学非接触式测头实现高度尺寸
2023-09-21 13:59:51
AD快捷键汇总,Altium Designer PCB绘图快捷键使用汇总,熟练掌握后绘图很方便!
2023-09-20 06:31:30
欢迎了解速用大料合拼系统,专为批量板厂定制的投料软件。在PCB制造中,板材成本占据了45%至60%的生产成本,因此提高板材利用率对于企业来说至关重要。我们的合拼投料软件是解决这一问题的最佳选择
2023-09-12 21:07:36
合明科技专注SMT电子组件清洗剂25年,主营精密电子水基清洗剂、环保清洗剂、PCBA电路板清洗剂、半导体芯片封装清洗剂、功率模块/分立器件清洗剂,助焊剂、清洗设备产品涵盖从半导体封装到PCBA组件终端清洗。
2023-09-06 17:39:47
、包膜机、入壳机、顶盖焊、氦检机、注液机、化成柜、补液机、密封焊机、分容柜、Pack线等。
半导体行业:清洗设备、光刻机、刻蚀机、修复检测设备、划片机、晶圆探针测试设备、分选机、贴片机、邦定机等设备
2023-09-04 09:16:12
PFA花篮(PFA wafer Cassette) 又名 清洗花蓝 ,铁氟龙卡匣 , 铁氟龙晶舟盒 ,铁氟龙晶圆盒为承载半导体晶圆片/硅片
2023-08-29 08:57:51
键和一个方向盘。 此板上的所有传感器都是触摸感应键感应器。 当手指触摸到多氯联苯上的任何垫子时, 可以通过检测能力变化的测量来报告当前位置或关键值 。
您可以在下列时间下载样本代码http
2023-08-29 06:39:01
VX8000一键式全自动测量仪采用了双远心光学镜头,拥有高精度影像尺寸量测技术,透过远心镜头及高解析度相机,针对被测件进行快速量测,消除人工量测误差,仅需按下启动键,数秒时间就自动生成检测报告,真正
2023-08-24 09:11:33
评价、报表生成,真正实现一键式快速精准测量。适用于手机配件、等小尺寸工件的批量测量,速度快,操作简单;对于复杂工件,能实现快速测量,大大提高了测量效率。VX800
2023-08-04 11:14:40
闪测仪侧重于双远心镜头的整体成像(拍照式),结合高分辨率工业相机及高精度图像分析处理算法,通过软件计算后实现测量。 CHOTEST中图仪器VX8000一键式闪测仪品牌采用双远心高分辨率光学
2023-07-31 09:13:30
晶圆测温系统,晶圆测温热电偶,晶圆测温装置一、引言随着半导体技术的不断发展,晶圆制造工艺对温度控制的要求越来越高。热电偶作为一种常用的温度测量设备,在晶圆制造中具有重要的应用价值。本文
2023-06-30 14:57:40
芯片功能测试常用5种方法有板级测试、晶圆CP测试、封装后成品FT测试、系统级SLT测试、可靠性测试。
2023-06-09 16:25:42
我有一块STM32U575的板子,没焊外部高速晶振,本来上面标着16兆晶振,四个脚的,我在淘宝上买了一些32M的晶振。
淘宝上写着匹配晶振8pF,我忘买了,搞了两个4.7pF的晶振,用STM32CubeMX生成代码,就是让一个灯闪。
可是灯一直不闪。我想会不会是匹配晶振的原因。请高手指教,谢谢!
2023-06-02 16:42:20
TGL4201-00 产品简介 Qorvo 的TGL4201-00是一款典型电气特性,固定装置中探测到的衰减器。用射频探针在晶片上测量。接合线不包括在该测量中。晶圆在
2023-05-26 10:06:17
半导体大规模生产过程中需要在晶圆上沉积集成电路芯片,然后再分割成各个单元,最后再进行封装和焊接,因此对晶圆切割槽尺寸进行精准控制和测量,是生产工艺中至关重要的环节。  
2023-05-09 14:12:38
合泰IDE3000就写了几句话,提示错误,
2023-05-08 22:30:01
半导体大规模生产过程中需要在晶圆上沉积集成电路芯片,然后再分割成各个单元,最后再进行封装和焊接,因此对晶圆切割槽尺寸进行精准控制和测量,是生产工艺中至关重要的环节。 
2023-04-28 17:41:49
JY-V620是一款集天线、放大器、控制器、红外感应于一体的半导体电子货架RFID读写器,工作频率134.2kHz,兼容TI系列玻璃管标签。工作时读写器通过红外感应FOUP晶圆盒,触发天线读取
2023-04-23 10:45:24
晶圆GDP2604003D负压救护差压3Kpa压力传感器裸片XGZGDP2604 型压力传感器晶圆产品特点:测量范围-100…0~1kPa…1000kPa压阻式原理表压或绝压形式***的稳定性、线性
2023-04-06 15:09:45
wafer晶圆GDP703202DG恒流1mA表压2Mpa裸片压力传感器die产品概述:GDP0703 型压阻式压力传感器晶圆采用 6 寸 MEMS 产线加工完成,该压力晶圆的芯片由一个弹性膜及集成
2023-04-06 14:48:12
SIM->UIDL:923029061我如何使用这些来派生一个唯一的 32 位 UID。(其他制造商芯片的经验是,出厂值通常包括批号和/或晶圆序列号+晶圆上的位置,和/或 ROM 编程日期戳,和/或唯一
2023-03-31 06:40:48
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