电子发烧友App

硬声App

0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

电子发烧友网>今日头条>芯片透射电镜测试—竞品分析

芯片透射电镜测试—竞品分析

收藏

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉

评论

查看更多

相关推荐

轨道交通电子元器件失效分析

、衬底检查、扫描电镜检查、PN结染⾊、DB FIB、热点检测、漏电位置检测、弹坑检测、粗细捡漏、ESD 测试(2)常⻅失效模式分析:静电损伤、过电损伤、键合
2024-03-15 17:34:29

TOL-15571

现场测试 电源质量和能量分析
2024-03-14 22:33:48

SNYPER-LTE+ (EU) V2

网络测试 NetWork 分析
2024-03-14 22:30:52

SNYPER-LTE+ SPECTRUM (EU) V2

网络测试 NetWork 分析
2024-03-14 22:30:52

MOS管热阻测试失效分析

MOS管瞬态热阻测试(DVDS)失效分析如何判断是封装原因还是芯片原因,有什么好的建议和思路
2024-03-12 11:46:57

首样免费扫描电镜SEM-EDS测试分析【博仕检测】

射线,表征材料元素方面的信息,可定性、半定量Be-U的元素 ; 定位测试点,如在失效分析中可以用来定位失效点,在异物分析中可以用来定位异物点。 博****仕检测测试案例: 1.观察材料的表面形貌
2024-03-01 18:59:58

透射电镜TEM测试解剖芯片结构:深入微观世界的技术探索

芯片制造领域,透射电镜TEM技术发挥着至关重要的作用。通过TEM测试,科学家可以观察芯片中晶体结构的变化,分析晶体缺陷,研究材料界面结构,从而深入了解芯片的工作原理和性能。
2024-02-27 16:48:13134

基于有限元模型的IC卡芯片受力分析研究

在智能卡三轮测试中,失效表现为芯片受损,本文基于有限元模型来研究智能 IC 卡(Integrated circuit card)芯片受力分析与强度提升方法,
2024-02-25 09:49:29215

扫描电镜的操作步骤及日常维护

扫描电镜按构造和用处可分为透射式电子显微镜、扫描式电子显微镜、反射式电子显微镜和发射式电子显微镜等。 扫描电镜常用于察看那些用普通显微镜所不能分辨的纤细物质构造,次要用于察看固体外表的形貌,也能与
2024-02-01 18:22:15603

汽车emc测试项目包括哪些 汽车电子emc测试标准

。 一、汽车EMC测试项目 辐射传导测试 辐射传导测试是评估汽车电子设备在电磁辐射下的抗干扰能力。该测试项目使用天线或模拟辐射源向汽车电子设备辐射电磁波,并通过测量设备上的辐射电压或电流来评估其抗干扰能力。 传导敏感性测试
2024-01-31 14:32:09470

首台国产商业场发射透射电子显微镜发布

1月20日,广州慧炬科技有限公司成功举办“承鸿鹄之志,造大国电镜”新品发布会,正式发布首台国产商业场发射透射电子显微镜“太行”TH-F120。标志着我国已掌握透射电镜整机研制能力以及电子枪、高压电源
2024-01-26 08:26:00280

国产首台!这类仪器100%靠进口成为历史

来源:仪器信息网,谢谢   标志着我国已掌握透射电镜用的场发射电子枪等核心技术,并具备量产透射电镜整机产品的能力。 编辑:感知芯视界 Link 芯我们是幸运的,可以共同见证这一重要时刻的来临
2024-01-22 09:54:52127

半导体芯片结构分析

薄TEM薄片+TEM观察分析对于芯片膜层很薄的结构层,一般是几个纳米的芯片膜厚,透射电镜TEM分辨率比SEM高,透射电子显微镜的分辨率比光学显微镜高的很多,可以达到0.1~0.2nm,放大倍数为几万
2024-01-02 17:08:51

核心技术突破!国产200kV透射电子显微镜进入小批量试产

中国近年来向着科技自立自强的方向迈出了坚定的步伐,核心技术不断突破,高端仪器设备持续涌现。近日消息,由苏州博众仪器科技有限公司(简称博众仪器)自主研发的200kV透射电子显微镜BZ-F200已经进入
2023-12-28 11:24:09766

透射式RIS在未来6G无线通信的应用场景

,在发射端天线前面不放置大理石,根据是否部署透射式RIS进行实验,测量透射式RIS的波束赋形增益,结果如表1所示。在没有部署RIS的情况下,发射功率需要达到13.6 dBm才可实现1024 Mbps的传输速率,而在部署RIS的情况下,仅需5.4 dBm的发射功率即可实现1121 Mbps的传输速率。
2023-12-27 14:29:38218

电源芯片自动化测试系统有什么功能?如何解决某半导体公司测试难点?

成都某半导体芯片公司是一家专注于开发设计半导体电源芯片的高新技术企业,目前企业对于电源管理芯片研发阶段的测试,绝大部分采用人工手动测试,效率低,耗时长,数据管理储存难度大,无法快速地完成大数据分析
2023-12-25 16:42:04179

国仪电镜论坛暨合肥工业大学显微技术交流会成功举办

12月19日,国仪电镜论坛暨合肥工业大学显微技术交流会在合肥成功举行,来自周边地区高校与研究机构的100余位专家学者,围绕国产电镜技术创新发展与示范应用开展了深入讨论与交流。本次大会由安徽省电镜学会
2023-12-22 08:25:07346

蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 500介绍

蔡司代理三本精密仪器小编获悉,近期蔡司对中国科学技术大学龚明教授进行了采访,谈了对于蔡司场发射扫描电镜在工作研究中的使用感受:中国科学技术大学工程与材料科学实验中心副主任,材料显微分析实验室
2023-12-20 15:04:37226

433射频发射电分析

433射频发射电路是一种常见的无线通信电路,用于传输和接收无线信号。在这篇文章中,将详细介绍433射频发射电路的工作原理、电路组成以及相关参数。 433射频发射电路主要包括:射频发射器、射频放大器
2023-12-20 14:25:011285

蔡司扫描电镜与X射线显微镜检测介绍

蔡司代理三本精密仪器小编介绍SEM扫描电镜与X射线显微镜是生命科学研究中的重要仪器,凭借其纳米级分辨率,SEM扫描电镜与X射线显微镜极大地提升了我们对生物超微结构的认识,-些亚细胞结构甚至是通过
2023-12-15 14:11:17142

红外发射电路的功能介绍

。下面我将详细解析红外发射电路的功能分析。 首先,红外发射电路具有信号转换的功能。它可以将输入的电信号转换为红外光信号,并通过红外发射二极管将这些信号发射出去。这种转换过程是通过电路中的元件和电子器件完成的,
2023-12-15 10:29:23325

红外发射电路的功能分析

红外发射电路是红外通信系统中的重要组成部分,其主要功能是产生和发射红外信号。本文将详细分析红外发射电路的功能,包括其工作原理、主要组成部分、性能指标以及应用场景。 一、红外发射电路的工作原理 红外
2023-12-13 11:02:11409

扫描电镜能测出线宽的真实长度吗?如何才能测准?

大部分扫描电镜实验室对于纳米尺寸的准确测量,要求没有那么严格,比如线宽或颗粒大小到底是105nm还是95nm,似乎不太重要
2023-12-09 17:36:52428

汽车功能安全芯片测试

汽车功能安全芯片测试  汽车功能安全芯片测试是保障汽车安全性能的重要环节,也是汽车产业发展的关键部分。随着汽车智能化技术的不断进步,车辆上搭载的各种智能功能也越来越多,这些功能倚赖于安全芯片来保障
2023-11-21 16:10:511066

车规芯片为什么要进行三温测试

车规芯片为什么要进行三温测试? 车规芯片,也被称为汽车恶劣环境芯片,是一种专门用于汽车电子系统的集成电路芯片。车规芯片需要进行三温测试,是因为汽车工作环境极其复杂,温度变化范围广,从极寒的寒冷地区
2023-11-21 16:10:482596

如何做出一颗好芯片芯片测试座功不可没

芯片出厂前的测试主要包括芯片功能测试、性能测试和可靠性测试,这三大类测试是缺一不可的。
2023-11-21 14:53:36242

推拉力测试芯片封装测试

芯片测试
力标精密设备发布于 2023-11-16 17:22:29

电源芯片测试指标大全

电源芯片测试旨在检测电源管理芯片的质量和性能,保证其可以长期稳定工作。电源芯片测试的参数主要有输入/输出电压、输出电流、效率、温度、功耗等。本文将对电源芯片测试参数以及测试注意事项进行介绍。
2023-11-15 15:39:11600

芯片推力测试机晶片推拉力测试

芯片推拉力测试
力标精密设备发布于 2023-11-13 17:48:28

如何在透射电镜下判断位错类型

最近收到老师同学们的许多问题,其中大家最想要了解的问题是“如何在透射电镜下判断位错类型(螺位错、刃位错、混合位错)”。在此,为了能快速理解并分析,我整理了三个问题,希望能帮助到大家,以下见解如有错误,请大家批评指正。
2023-11-13 14:37:25635

为什么要测试芯片上下电功能?芯片上电和下电功能测试的重要性

为什么要测试芯片上下电功能?芯片上电和下电功能测试的重要性  芯片上下电功能测试是集成电路设计和制造过程中的一个重要环节。它是确保芯片在正常的上电和下电过程中能够正确地执行各种操作和功能的关键部分
2023-11-10 15:36:30591

如何使用芯片测试工具测试芯片静态功耗?

为什么需要芯片静态功耗测试?如何使用芯片测试工具测试芯片静态功耗? 芯片静态功耗测试是评估芯片功耗性能和优化芯片设计的重要步骤。在集成电路设计中,静态功耗通常是指芯片在不进行任何操作时消耗的功率
2023-11-10 15:36:271117

如何用集成电路芯片测试系统测试芯片老化?

如何用集成电路芯片测试系统测试芯片老化? 集成电路芯片老化测试系统是一种用于评估芯片长期使用后性能稳定性的测试设备。随着科技的进步和电子产品的广泛应用,人们对芯片的可靠性要求日益增高,因此老化测试
2023-11-10 15:29:05680

国仪电镜论坛暨安徽大学先进功能材料分析测试技术交流会成功举办

11月7日,国仪电镜论坛暨安徽大学先进功能材料分析测试技术交流会在安徽大学磬苑校区成功举行,来自周边地区高校的80多位领域内师生参与了本次会议,深入探讨先进功能材料的分析测试技术与电子显微镜在研究
2023-11-10 08:24:59622

如何测试电源芯片负载调整率呢?有哪些测试规范呢?

如何测试电源芯片负载调整率呢?有哪些测试规范呢? 电源芯片的负载调整率是指电源芯片在负载变化时,输出电压的调整速度。测试电源芯片的负载调整率是非常重要的,它能够评估电源芯片在实际使用中对负载变化
2023-11-09 15:30:46630

芯片电学测试如何进行?包含哪些测试内容?

芯片电学测试如何进行?包含哪些测试内容? 芯片电学测试是对芯片的电学性能进行测试和评估的过程。它是保证芯片质量和可靠性的重要环节,通过测试可以验证芯片的功能、性能和稳定性,从而确保芯片可以在实际
2023-11-09 09:36:48676

IC芯片测试基本原理是什么?

IC芯片测试基本原理是什么? IC芯片测试是指对集成电路芯片进行功能、可靠性等方面的验证和测试,以确保其正常工作和达到设计要求。IC芯片测试的基本原理是通过引入测试信号,检测和分析芯片的响应,以判断
2023-11-09 09:18:37903

聊聊IC测试机(3)基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析

本文以ATE为基础,讨论了 集成电路测试的基本原理和测试方法,并进行了故 障分析.
2023-11-01 15:39:48844

广东全自动SEM扫描电镜的原理和构造

广东全自动SEM扫描电镜是一种高分辨率的显微镜,通过扫描样品表面并利用电子信号生成图像。它与传统光学显微镜不同,能够提供更高的放大倍数和更好的表面细节。以下是广东全自动SEM扫描电镜的原理和构造
2023-10-31 15:12:41770

机器视觉成像:明场像与暗场像都有什么区别呢

透射电镜图像分为试样的显微像和衍射花样,这两种像分别为不同电子成像,前者是透射电子成像,后者为散射电子成像。
2023-10-31 14:53:50677

高端新品发布!国产双束电镜+超高分辨电镜闪耀2023全国电镜年会

10月26日,2023年全国电子显微学学术年会在东莞市召开。国仪量子在会议期间重磅发布自主研制的聚焦离子束电子束双束显微镜DB500、超高分辨场发射扫描电子显微镜SEM5000X,开启了国产高端电镜
2023-10-29 08:25:471159

剪切力测试芯片金线拉力试验机

测试芯片
力标精密设备发布于 2023-10-28 17:28:09

以太网芯片DM9051NP的替代有哪些?

以太网芯片DM9051NP的替代有哪些
2023-10-28 06:22:56

芯片电学测试是什么?都有哪些测试参数?

电学测试芯片测试的一个重要环节,用来描述和评估芯片的电性能、稳定性和可靠性。芯片电学测试包括直流参数测试、交流参数测试和高速数字信号性能测试等。
2023-10-26 15:34:14629

芯片电源电流测试方法是什么?有什么测试条件?

芯片电源电流测试是为了测试S.M.P.S.的输入电流有效值INPUT CURRENT。电流测试芯片电源测试的项目之一,用来检测电路或设备的电流负载是否正常,保证其正常工作防止过载,评估芯片电源的电气特性。
2023-10-25 16:54:54620

一文带您了解场发射扫描电镜

普通热发射扫描电子显微镜相比,场发射扫描电子显微镜具有更高的亮度和更小的电子束直径,即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是纳米尺度微区形貌分析的首选。 2. 文书组成 场发射扫描电子显微镜由场发射电子枪、电子束推进器、聚光透
2023-10-23 14:56:393841

电子背散射衍射(EBSD)装置的基本布局

子束与样品表面区作用,发生衍射,产生菊池带(它与透射电镜透射方式形成的菊池带有一些差异),由衍射锥体组成的三维花样投影到低光度磷屏幕上,在二维屏幕上被截出相互交叉的菊池带花样,花样被后面的 CCD 相机接收
2023-10-21 16:51:22384

标准系统:扬帆系列“”开发板(RK3568)

开发板名称(芯片型号) 扬帆系列“”开发板(RK3568) 芯片架构 Cortex-A55 CPU频率 2.0GHz 介绍(字数请控制在200字以内) 采用瑞芯微RK3568芯片,搭载
2023-10-19 10:39:21

基于透射型超表面的宽带线圆极化转换器设计

提出了一种工作在 S 波段和 C 波段的宽频透射型线-圆极化波转换器, 其由五层超表面级联而成。
2023-10-18 10:05:59491

68.5khz的低频信号怎么设置发射电路及发射天线?

68.5khz的低频信号怎么设置发射电路及发射天线
2023-10-18 06:02:04

芯片静态功耗是什么?如何产生?ATECLOUD-IC芯片测试系统如何测试

芯片的众多测试项目中芯片的功耗测试可谓重中之重,因为芯片的功耗不仅关系着芯片的整体工作性能也对芯片的效率有着非常重大的影响。ATECLOUD-IC芯片测试系统只需将测试仪器和芯片连接好之后,运行
2023-10-08 15:30:25492

什么是芯片测试座?芯片测试座的选择和使用

芯片测试座,又称为IC测试座、芯片测试夹具或DUT夹具,是一种用于测试集成电路(IC)或其他各种类型的半导体器件的设备。它为芯片提供了一个稳定的物理和电气接口,使得在不造成芯片测试设备损伤的情况下
2023-10-07 09:29:44811

化妆盖帽锁紧扭力测试

化妆盖帽锁紧扭力测试仪 瓶装、吸嘴和软管包装产品的瓶盖锁紧与开启扭矩值是生产单位严格把关的重要工艺参数之一。这个扭矩值的恰当与否,对于产品的流转以及最后的消费体验都产生着深远的影响。而
2023-09-21 17:21:09

浅谈锂硫电池电荷储存聚集反应的新机制

建立了高时空分辨电化学原位液相透射电镜技术,耦合真实电解液环境和外加电场,实现了对Li–S电池界面反应原子尺度动态实时观测和研究。
2023-09-16 09:28:38395

基于磁电偶极子的透射阵和反射阵天线

透射阵和反射阵是基于空间馈电的天线阵列,通过调制阵面上每个单元的幅度和相位响应,实现波束赋形。相比于传统相控阵,透射阵和反射阵具有结构简单和低成本的优势;而相比于传统透镜和反射面天线,其又具有较高的设计灵活度。
2023-09-10 09:19:541207

聚焦离子束FIBSEM切片测试【博仕检测】

截面分析 FIB-SEM测试 FIB技术可以精确地在器件的特定微区进行截面观测,形成高分辨的清晰图像,并且对所加工的材料没有限制,同时可以边刻蚀边利用SEM实时观察样品,截面分析是FIB最常
2023-09-05 11:58:27

蔡司扫描电镜在第三代半导体领域的应用成果

扫描电子显微镜-电子通道对比成像(SEM-ECCI)是在扫描电子显微镜下直接表征晶体材料内部缺陷的技术。SEM-ECCI技术的发展已经取代了透射电子显微镜(TEM)在缺陷表征领域的部分功能。与TEM
2023-09-04 14:56:47356

当前火炫的ARGB: 电键盘、LED景观照明等应用芯片

当前火炫的ARGB: 电键盘、LED景观照明等应用芯片 火炫的ARGB应用: 在ARGB展示中,MG32F02V032芯片里面带一ASB总线,可控制4串ARGB灯条,就可呈现出酷炫变化的灯光
2023-08-29 15:37:44

键盘M0系列: 玩家级酷炫灯光效果

键盘M0系列: 玩家级酷炫灯光效果 玩家级酷炫灯光效果: 采用MG32F02U128芯片的键盘的应用,其键盘的RGB灯效控制乃是透过硬件除法器计算灯效,然后再透过PWM输出一个很漂亮
2023-08-29 15:34:08

透射电镜TEM测试原理及过程

散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显微镜。 透射电镜TEM原理 博仕检测工程师对客户指定样品区域内定点制备高质量的透射电子显微镜(TEM) 样品 聚焦离子束FI
2023-08-29 14:54:151371

EDS面扫、线扫、点扫的应用

能谱仪(EDS)是一种快速分析样品微区内元素种类及含量的重要工具,通常与扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)组合使用,实现形貌与成分的对照。它的工作原理是:当电子束扫描样品时,不同元素被激发出来的x射线能量不同,通过探测这些特征X射线的能量与强度,可以确定样品中的元素组成和含量。
2023-08-29 09:43:241953

6221直流电源+2182A租赁纳伏表测试低电阻和微小电阻

有很多,如透射电镜、拉曼光谱、电化学C-V、X射线双晶衍射等。 安泰测试科技通过相应的测试仪器和搭配的测试软件,可提供覆盖了量子材料、超导材料、半金属材料、纳米材料、薄膜材料、绝缘材料等大部分的半导体测试方法和应用
2023-08-28 16:31:02450

芯片封装测试有技术含量吗?封装测试是干嘛的?

芯片封装测试有技术含量吗?封装测试是干嘛的?  芯片封装测试是指针对生产出来的芯片进行封装,并且对封装出来的芯片进行各种类型的测试。封装测试芯片生产过程中非常关键的一环,而且也需要高度的技术含量
2023-08-24 10:41:572313

N71.T4K-B1小体积压电镜

芯明天压电镜架通常是由两支压电螺钉驱动来完成二维角度偏转,两轴之间具有共同的轴心,通过施加电压使两支压电螺钉产生直线运动分别控制对应轴的偏转角度及方向,从而调整镜片的位置和方向。 芯明天常规款电动压电镜
2023-08-24 10:08:06161

6221+2182A低电阻和微小电阻测试方案

有很多,如透射电镜、拉曼光谱、电化学C-V、X射线双晶衍射等。     安泰测试科技通过相应的测试仪器和搭配的测试软件,可提供覆盖了量子材料、超导材料、半金属材料、纳米材料、薄膜材料、绝缘材料等大部分的半导体测试方法和
2023-08-21 17:22:40556

芯片测试座的定义

芯片测试座(Chip Test Socket)是一种用于测试集成电路芯片(IC)的装置。它通常由一个金属底盘和一个或多个针脚组成,针脚与IC的引脚相连,以便将IC连接到测试设备上。
2023-08-14 11:07:52525

透射电子显微镜的用途和特点

分析来揭示样品的微观结构。 1.电子源   TEM使用电子束而不是光束。季丰电子MA实验室配备的透射电镜Talos系列采用的是超高亮度电子枪,球差透射电镜HF5000采用的是冷场电子枪。 2.真空系统   为了避免电子束在穿越样品之前与气体相互作用,整个显微镜都必须维持在高真空条件下。 3
2023-08-01 10:02:152342

蔡司扫描电镜在半导体领域的应用成果

扫描电镜-电子通道衬度成像技术(SEM-ECCI)是一种在扫描电镜下直接表征晶体材料内部缺陷的技术。SEM-ECCI技术的发展在缺陷表征领域替代了一部分透射电镜(TEM)的功能,相对透射电镜分析而言
2023-07-31 15:59:56330

蔡司热场扫描电镜Sigma 300电子显微镜

蔡司热场扫描电镜Sigma300电子显微镜能够对各种材质的导电和不导电样品、不同尺寸和形状的样品表面微观结构进行高分辨观察。配置能谱和背散射电子衍射仪附件可以实现样品表面微观区域内的成分和织构分析
2023-07-26 10:48:06650

芯片测试座在IC芯片测试中的作用

在IC芯片测试中,芯片测试座起着至关重要的作用。它是连接芯片测试设备的关键桥梁,为芯片提供测试所需的电流和信号。
2023-07-25 14:02:50632

芯片测试需要什么技能?

电路基础知识。芯片测试涉及到电子电路的测量和分析,因此需要具备扎实的电路基础知识,包括电子元器件、电路分析方法等。
2023-07-23 10:02:34506

EM科特 CUBE-Ⅱ台式桌面扫描电镜与传统扫描电镜的区别

EM科特(EmCrafts)Cube系列桌面式扫描电镜,是一款桌面紧凑型扫描电子显微镜。区别与传统扫描电镜的笨重机身,Cube系列占地面积小,便携性能好,可遵照客户服务指南任意移动SEM设备。 EM
2023-07-05 15:24:02433

关于EM科特 Veritas钨灯丝扫描电镜系列的特点分析

的高性能高效率,大样品仓内含5轴共心电动样品台,可更轻松地测量大尺寸样品。 EM科特 Veritas钨灯丝扫描电镜系列 产品优势 l大尺寸样品分析  Veritas系列可以分析常规SEM无法分析的大尺寸样品。例如:晶圆,磁盘 l无损样品分析   无需切割即可分析样品。例如PCB,半导体图案分析 l较重
2023-07-05 15:13:38270

SEM扫描电镜工作原理,SEM扫描电镜技术应用

这是Amanda王莉第55篇文章,点这里关注我,记得标星在当今世界,SEM扫描电子显微镜分析技术,一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段,主要应用在半导体、材料科学、生命科学和纳米材料
2023-07-05 10:04:061995

芯片测试座的分类和选择

芯片测试中,分类和选择是关键的步骤,以确保芯片的质量和可靠性。根据不同的测试目标和要求,可以采用不同的分类方法和选择策略。
2023-06-30 13:50:22478

使用分组无线电镜像机器人运动

电子发烧友网站提供《使用分组无线电镜像机器人运动.zip》资料免费下载
2023-06-29 09:59:310

芯片封装测试包括哪些?

芯片封装测试是在芯片制造过程的最后阶段完成的一项重要测试,它主要用于验证芯片的封装质量和功能可靠性。芯片封装测试包括以下主要方面。
2023-06-28 13:49:561167

反激电源:反射电

当MOS管关断之后,在DCM工作条件下的Vds电压变化展示如下图所示,在波形的中段位置Vds=Vor+Vin,其中Vin是开关电源的输入电压,而Vor就是反射电压。
2023-06-25 15:15:233009

芯片功能测试包含哪些测试

芯片功能测试是电子产品制造过程中的一项重要步骤。具体而言,它包括以下几个方面的测试
2023-06-20 14:50:52935

场发射扫描电镜GeminiSEM 500规格参数

今天三本精密仪器小编给您介绍场发射扫描电镜GeminiSEM500规格参数及样品制备要求:一、样品要求(1)本仪器不接收磁性、易潮、液体、有机、生物、不耐热、熔融蒸发、松动粉末或碎屑等有挥发物样品
2023-06-19 11:15:40813

芯片测试设备有哪些?看完这篇你就知道了

芯片测试设备是用于检测芯片性能的工具和设备。这些设备可以帮助工程师、科学家和制造商检测和分析芯片的特定属性,以确保它们符合规格和标准。以下是一些常见的芯片测试设备: 逻辑分析仪(Logic
2023-06-17 15:01:52

芯片测试座的结构及工作原理

芯片测试座是一种电子元器件,它是用来测试集成电路芯片的设备,它可以用来测试和检查电路芯片的性能,以确保其达到规定的标准。
2023-06-15 13:43:53805

芯片中的CP测试是什么?

芯片中的CP测试是什么?让凯智通小编来为您解答~ ★芯片中的CP一般指的是CP测试,也就是晶圆测试(Chip Probing)。 一、CP测试是什么  CP测试在整个芯片制作流程中处于晶圆制造和封装
2023-06-10 15:51:493372

分享芯片功能测试的五种方法!

芯片功能测试常用5种方法有板级测试、晶圆CP测试、封装后成品FT测试、系统级SLT测试、可靠性测试
2023-06-09 15:46:581665

物联网芯片/微机电系统芯片测试方法

、电源管理、互联互通及系统级应用等方面的信号传输特性分析展开,如图所示。随着芯片应用技术和测试技术的发展,一些新的测试方法不断问世,这些新方法可进一步提高测试覆盖率。
2023-06-08 16:44:23721

芯片测试的重要性

芯片为什么要做测试? 因为在芯片在制造过程中,不可避免的会出现缺陷,芯片测试就是为了发现产生缺陷的芯片。如果缺少这一步骤,把有缺陷的坏片卖给客户,后续的损失将是测试环节原本成本的数倍,可能还会影响公司在行业的声誉。
2023-06-08 15:47:55

芯片测试的功能介绍

芯片测试座,又称为芯片测试插座,是一种专门用于测试芯片的设备。它通常包括一个底座和一个插头,是一种连接芯片测试仪器或其他设备的接口。
2023-06-07 14:14:00426

【应用案例】透射电子显微镜TEM

透射电子显微镜TEM 透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构
2023-05-31 09:20:40782

工控级固态硬盘主控芯片BGA底部填充胶应用案例分析

工控级固态硬盘主控芯片BGA底部填充胶应用案例分析由汉思新材料提供.客户生产产品:工控级固态硬盘用胶芯片:硬盘主控芯片客户要解决的问题:终端客户做完TC测试和振动测试后,抽检20台设备,3台设备出现
2023-05-31 05:00:00469

芯明天压电镜架选型

芯明天压电镜架是一种利用压电效应来控制镜片位置的光学机械。压电效应是指在某些晶体中,如压电陶瓷,当施加电场时,压电陶瓷会发生形变,通过机械结构将这种形变转换为直线毫米级行程,该运动对镜架进行角度偏转
2023-05-25 10:27:45350

脉冲压缩透射光栅高功率光束组合光谱衍射光栅

脉冲压缩透射光栅高功率光束组合光谱衍射光栅      脉冲压缩透射光栅高功率光束组合光谱衍射光栅采用独特的图案化方法、DUV投影光刻和离子蚀刻,为透射衍射光栅提供了许多
2023-05-24 13:50:09

芯片测试测试方法有哪些?

芯片从设计到成品有几个重要环节,分别是设计->流片->封装->测试,但芯片成本构成的比例确大不相同,一般为人力成本20%,流片40%,封装35%,测试5%。测试芯片各个环节中最
2023-05-22 08:58:331849

LPDDR4信号测试报告分析

  近期帮做芯片的同行看一份LPDDR4的Compliance测试数据,想看看是否有机会优化信号品质,报告中体现的问题很有代表性,整理记录下来。   一、 测试数据   这是一份LPDDR4
2023-05-16 15:43:05

全方位了解IC芯片测试流程,IC芯片自动化测试平台分享

在开始芯片测试流程之前应先充分了解芯片的工作原理。要熟悉它的内部电路,主要参数指标,各个引出线的作用及其正常电压。芯片很敏感,所以测试的时候要注意不要引起引脚之间的短路,任何一瞬间的短路都能被捕
2023-04-25 15:13:122065

\"FCM32F042系列\" 软硬件兼容 “STM32F042系列”

时coremark为103.7分,和国际一致l低功耗:15mA@48MHz;6.2uA@STOP model硬件除法运算l硬件开方运算l软、硬件兼容国际l多种封装:TSSOP20、LQFP32、LQFP48、QFN32、QFN48
2023-04-17 11:12:31

透射光栅分光片超声波清洗机

 透射光栅分光片(Transmission Grating Beamsplitters)通常用于He-Ne激光束的分光和可见范围内多条激光的分离。透射的光束被衍射为多阶。透射光栅分光片由在抛光玻璃
2023-04-12 14:46:140

“FCM32F103系列” 软硬件兼容 “STM32F103系列”

丰富的外设:ADC、TIMER、SPI、USART、I2C、I2S、DMA、WDT、TS、VREF、USB、CANl高性能:在72MHz时coremark为191.4分,领先国际l低功耗
2023-04-11 16:39:15

矢量网络分析仪串扰如何测试

矢量网络分析仪串扰如何测试,设备如何设置
2023-04-09 17:13:25

已全部加载完成