WD4000国产晶圆几何形貌量测设备通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV、BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。可实现砷化镓
2024-03-15 09:22:08
为了检测和确保电源模块在不同温度和恶劣环境下的工作性能,高低温老化测试是不可或缺的测试步骤。高低温老化测试是电子产品制造过程中的重要一环,电源模块高低温老化测试就是为了检测电源模块在高温和低温下是否可以正常工作。
2024-03-08 11:00:31122 如果应用是慢启动类型,建议配置启动探针或者为存活探针配置initialDelaySeconds参数,避免存活探针过早介入导致容器频繁重启。如果应用启动时间不固定建议使用启动探针。
2024-02-26 11:08:50137 WD4000无图晶圆几何形貌测量系统是通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。可兼容不同材质
2024-02-21 13:50:34
探针测试台是一种用于测试集成电路(IC)的设备,工作原理是将待测试的IC芯片安装在测试座上,然后通过探针接触到芯片的引脚,以测试芯片的功能和性能。在测试过程中,探针测试台会生成一系列的测试信号,通过
2024-02-04 15:14:19234 CASCADE探针台是一种高级的网络分析工具,可以在网络中捕获和分析数据流量。它可以帮助企业识别和解决网络性能问题、网络安全问题以及网络优化等方面的挑战。CASCADE探针台具有广泛的应用场景,下面
2024-01-31 14:41:25270 作为芯片晶圆测试阶段的重要工具之一,探针卡在不断更新迭代。为满足更高需求的晶圆测试,针卡类型也逐渐从悬臂针卡向垂直针卡升级。
2024-01-25 10:29:21658 什么是低温电池?有什么用途吗?低温锂电池的优势与作用 低温电池是指能够在低温环境下正常工作的电池。一般而言,低温电池是指能够在-20℃以下的环境中达到高能量密度和高放电性能的电池。低温电池通常采用
2024-01-10 15:47:43290 ACp65是一种常用的探针,被广泛用于研究细胞衰老、疾病发展和治疗等领域。在本文中,我们将详细介绍ACp65探针的参数、应用以及未来的发展。 ACp65探针的基本参数 ACp65探针是一种标记于抗原
2024-01-10 14:39:01207 反应表面形貌的参数。通过非接触测量,WD4000无图晶圆几何形貌测量设备将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV、BOW、WARP、在
2024-01-10 11:10:39
:高低温冲击试验箱不可以倒置安装,须水平安置在地板上,使高低温冲击试验箱箱门开启方便,减少机械动作时出现噪音。二:高低温冲击试验箱环境:还要保持有良好通风空间,使冷凝
2024-01-10 10:23:57108 WD4000半导体晶圆厚度测量系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR
2024-01-09 09:08:07
当我们进行SMT贴片加工时,高温锡膏和低温锡膏两种产品在不同的领域得到了延伸。低温锡膏和高温锡膏是两种不同用途的焊接材料,主要取决于不同的使用温度。下面佳金源锡膏厂家详细介绍低温锡膏和高温锡膏的区别
2024-01-08 16:42:15331 无铅低温锡膏是目前电子制造中常用的焊接材料之一。与含铅锡膏相比,其优点明显,无毒、环保、易回流,成为一种发展趋势。当贴片组件无法承受超过180℃的高温,需要贴片回流过程时,我们将使用无铅低温锡膏进行
2023-12-28 16:18:04309 TC-Wafer是将高精度温度传感器镶嵌在晶圆表面,对晶圆表面的温度进行实时测量。通过晶圆的测温点了解特定位置晶圆的真实温度,以及晶圆整体的温度分布,同还可以监控半导体设备控温过程中晶圆发生的温度
2023-12-21 08:58:53
WD4000晶圆几何形貌测量设备采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像,实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV
2023-12-20 11:22:44
中图仪器WD4000无图晶圆几何形貌量测系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立表面3D
2023-12-14 10:57:17
。
温度信号不放大,压力信号放大16倍,常温下压力、温度测量均正常,做低温试验时(0~-20℃),整批(共9个)压力测量通道测量值均相继突然变为0而温度测量正常,最差的一块板在-2℃时压力信号就无法测量
2023-12-11 07:39:55
低温锡膏和高温锡膏的区别 低温锡膏和高温锡膏是两种不同用途的焊接材料,其主要在于使用温度的不同。下面将从成分、特性、应用领域等方面详细介绍低温锡膏和高温锡膏的区别。 首先,从成分上来说,低温
2023-12-08 15:45:56624 用FPGA采样AD9228,AD9228的时钟是25M,常温和高温的时候采样都是对的,但是总有那么部分板子在低温是采样错位。所以我们现在只能是在FPGA里面加 IO delay来改变建立保持时间。
请问这会是什么问题?有没有比较好的分析和解决办法?或者有没有用于FPGA时序仿真的模型?
2023-12-07 07:56:24
晶圆测温系统tc wafer晶圆表面温度均匀性测温晶圆表面温度均匀性测试的重要性及方法 在半导体制造过程中,晶圆的表面温度均匀性是一个重要的参数
2023-12-04 11:36:42
如何查看Python安装路径,以及各个操作系统下的细节和注意事项。 一、Windows操作系统下查看Python安装路径的方法 对于Windows操作系统,有多种方法可以查看Python的安装路径
2023-11-29 14:54:21814 低温无压烧结银对镀层的四点要求
2023-11-25 10:55:47364 振弦传感器土压力计的安装及埋设方法
2023-11-22 13:07:34353 液位继电器的接线方法及工作原理是怎样的呢? 液位继电器是一种常用的控制设备,主要用于控制液位的高低。它具有安装简单、操作方便、可靠性高的特点,广泛应用于各种工业和民用领域。 液位继电器的接线方法
2023-11-17 14:28:38890 关于蔡司三坐标测量仪主探针和测针准确调节的方法,蔡司授权代理三本精密仪器讲解如下:1、安装XXT加长杆:在使用扳手拧紧测针时,XXT测针装配辅助工具可以顶住加长杆以便于调节。2、调节XXT星形
2023-11-15 17:00:34956 请问像AD8233一样的晶圆封装在PCB中如何布线,芯片太小,过孔和线路都无法布入,或者有没有其他封装的AD8233
2023-11-14 07:01:48
WD4000晶圆几何形貌测量及参数自动检测机通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷
2023-11-06 10:49:18
WD4000系列半导体晶圆几何形貌自动检测机采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR
2023-11-06 10:47:07
WD4000半导体晶圆表面三维形貌测量设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示
2023-10-23 11:05:50
更换外部晶振后BSP修改方法AT32 工程项目在采用非8M 外部晶振时,如何在BSP 中进行修改?
2023-10-20 06:41:51
WD4000半导体晶圆检测设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI
2023-10-19 11:08:24
WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三维形貌 、单层膜厚 、多层膜厚 。使用光谱共焦对射技术测量晶圆 Thickness 、TTV 、LTV 、BOW
2023-10-18 09:09:00
低温下安装振弦采集仪注意事项 振弦采集仪是一种用于测量和监测结构物振动状态的设备,通常用于桥梁、大型建筑物、风力发电机、船舰等设施的监测和评估。在一些寒冷地区,设施的使用环境会面临低温的挑战,因此在
2023-10-16 11:02:08167 【探索】单孔销浮动(三):DTAS在圆内均匀分布的实现与验证!
概要:上几期文章中为实现均匀分布我们通常对半径r在区间[0,R]内按均匀分布采样,对角度θ在区间[0,2π)内按均匀分布采样,实际这种方法
2023-09-20 12:09:57
1. 在X86服务器主机上安装卸载驱动的方法:
# 安装:$ cd bmnnsdk2-bm1684_vx.x.x/scripts$ sudo ./install_driver_pcie.sh# 安装
2023-09-19 07:15:59
制造工艺:制造高频探针需要高度精密的工艺。通常,钨粉与其他金属粉末混合,然后通过拉拔机械等工艺加工成所需的尺寸和形状。这确保了探针的尺寸精度和表面光滑度,以满足高频测试的要求。
2023-09-15 17:04:07527 螺母安装滚珠的方法
2023-09-12 17:47:35822 接地电阻柜的安装方法 在现代电力系统中,接地电阻柜是一种重要的设备,用于确保电力系统的安全运行。下面是接地电阻柜的安装方法: 1. 选择合适的安装位置。接地电阻柜应安装在干燥、通风、便于操作和维修
2023-09-12 09:58:26343 SMT表面组装件的安装与焊接主要采用自动化安装与焊接方式(前述波峰焊、再流焊等自动焊接方法)进行安装与焊接。表面组装件的安装与焊接主要分为两类基本的工艺方法,分别为焊锡膏/再流焊工艺和贴片胶/波峰焊工艺。
2023-09-11 10:21:47397 高速电主轴有哪些安装方法?|深圳市恒兴隆机电有限公司
2023-09-06 11:05:38401 的容器,耐酸耐碱耐腐蚀(强酸、强氟酸、强碱),能做激光雕刻,能够安装RFID。保持载体和物料的跟踪。主要用于半导体蚀刻部门之酸碱制程中使用、传送晶圆。我司PFA花
2023-08-29 08:57:51
点击美能光伏关注我们吧!薄层电阻在太阳能电池中起着非常重要的作用,它影响着太阳能电池的效率和性能。四探针法能够测量太阳能电池的薄层电阻,从而精确地获取电池片的电阻数据。「美能光伏」拥有的美能扫描
2023-08-24 08:37:061069 奕叶四向毫米波探针台
2023-08-23 14:21:22555 高低温交变试验箱的安装环境及要求
2023-08-19 16:41:18509 怎样安装和使用热继电器? 1)热继电器必须按产品使用说明书的规定进行安装;当它与其他电器装在一起时,应将其装在其他电器的下方,以免其动作特性受到其他电器发热的影响; 2)热继电器的连接导线应符合规定
2023-08-18 09:41:58295 安装高压插头需要非常谨慎和专业的操作,因为高压电力可能带来严重的安全风险。以下是一般高压插头的安装方法的概述,但请注意这只是一般指导,具体步骤可能因插头类型、电器设备和应用环境而有所不同。对于高压插头的安装,建议由专业电气工程师或技术人员来完成。
2023-07-21 11:45:311225 试验方法第 11 部分:通用试验方法-低温试验》标准要求。二、参数要求 1.最大拉伸度:满足 220mm; 2.拉伸速度:满足 2
2023-07-10 09:48:59
旨在探讨热电偶在晶圆制造中的应用及其优化方法,以提高晶圆制造的质量和效率。二、热电偶的基本原理和工作原理热电偶是一种基于热电效应的温度测量设备。它由两种不同金属制成
2023-06-30 14:57:40
相对来说,大家对隔膜液位计是比较陌生的,所以对于如何安装,怎么安装是正确的也并没有一个明确的答案。所以,今天我们就为有这一类需要的朋友整理了隔膜液位计安装步骤与方法。 安装支架 先在容器适当的位置
2023-06-28 11:29:11512 常规LED显示屏的安装虽然比较简单,但还是需要有一定的技术基础和动手操作能力,以下是一个常规的LED显示屏安装方法简述,可供大家参考:
2023-06-26 10:52:541546 伤害。高低温冷热冲击试验箱满足的试验方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。
2023-06-23 11:40:24281 Reed Gleason和Eric Strid的工作为射频探针的进一步发展铺平了道路。他们在Tektronix工作期间发明了第一台高频晶圆探针,这项创新提供了一种更便捷、无需安装或贴合状态下
2023-06-13 14:49:16971 低温聚合物锂电池的耐低温试验,是指通过将电池置于低温环境中,观察其在不同温度下的性能变化,以评估其在低温环境中的耐受能力和可靠性。为了进行这种试验,在实验室中通常会使用高低温试验箱
2023-06-13 10:06:47412 高低温试验箱在出厂前是需要校准计量的,由于高低温试验箱只有一个温度特征,我们只需要计量它的温度波动度、温度均匀度即可,无湿度要求。1、计量方法:计量在空载条件下进行。若带有负载,应在证书中说明负载
2023-06-12 16:54:55140 介绍一下高低温试验箱的校验项目与方法
2023-06-12 09:49:38237 芯片功能测试常用5种方法有板级测试、晶圆CP测试、封装后成品FT测试、系统级SLT测试、可靠性测试。
2023-06-09 16:25:42
低温锡膏是一种专门用于表面贴装技术(SMT)的材料。它是由微小的锡颗粒、松香、触变剂等材料制成的粘稠物质。这种锡膏相对于传统的高温锡膏而言,具有更低的熔点,当贴片组件无法承受超过180℃的高温,需要
2023-06-06 15:13:48830 。适用于对芯片进行科研分析,抽查测试等用途。探针台的功能都有哪些?1.集成电路失效分析2.晶圆可靠性认证3.元器件特性量测4.塑性过程测试(材料特性分析)5.制程监控6.IC封装阶段打线品质测试7.液晶面板
2023-05-31 10:29:33
低温测试条件怎么制定,低温测试标准有那些,常规的低温测试那些产品需要做。
2023-05-27 11:08:31579 在半导体产业的制造流程上,主要可分成IC设计、晶圆制程、晶圆测试及晶圆封装四大步骤。 其中所谓的晶圆测试,就是对晶圆上的每颗晶粒进行电性特性检测,以检测和淘汰晶圆上的不合格晶粒。 下面我们一起来了解一下半导体晶圆测试的核心耗材——探针卡,以及探针卡与LTCC/HTCC技术有着怎样的联系。
2023-05-26 10:56:55732 Memtool 是一个有用的调试工具,可以读/写一些 i.MX 寄存器。Linux 默认支持,Android 不支持。
本文介绍如何将 memtool 集成到 i.MX8MM Android 12 平台中,这在其他 i.MX 新安卓平台中也类似。
2023-05-16 06:56:08
关键词:电动汽车;锂离子电池;低温快速加热方法;设计目标摘要:锂离子电池的性能直接影响电动汽车的续航、安全性和可靠性。低温环境下,锂离子电池功率特性变差、循环寿命衰减、可用容量降低,同时面临低温充电
2023-05-15 09:58:341243 吗?。今天小编就为大家列举一些常见的安装方法:。 1. 植入的。 嵌入式一般用于室内场景,一些室外建筑也有它。这种安装方式在建筑设计之中需要为安装LED显示屏和维修通道预留足够的空间。 2. 天花板类型。 这种安装方式一般出现在需要多
2023-05-15 08:17:281769 露点仪的安装方法跟测量方法详细介绍,在线式露点仪,便携式露点仪的技术特点介绍
2023-05-13 16:39:321453 晶圆测试的方式主要是通过测试机和探针台的联动,在测试过程中,测试机台并不能直接对待测晶圆进行量测,而是透过探针卡(Probe Card)中的探针(Probe)与晶圆上的焊垫(Pad)或凸块(Bump)接触而构成电性接触
2023-05-11 14:35:142362 介绍一下高低温试验箱的校验项目与方法
2023-05-11 09:39:14292 高低温试验箱的满足标准及试验方法GB11158-2008高温试验箱技术条件GB10589-2008低温试验箱技术条件GB10592-2008高低温试验箱技术条件(温度交变)GB
2023-05-10 15:09:31467 半导体大规模生产过程中需要在晶圆上沉积集成电路芯片,然后再分割成各个单元,最后再进行封装和焊接,因此对晶圆切割槽尺寸进行精准控制和测量,是生产工艺中至关重要的环节。  
2023-05-09 14:12:38
探针卡是半导体晶圆测试过程中需要使用的重要零部件,被认为是测试设备的“指尖”。由于每一种芯片的引脚排列、尺寸、间距变化、频率变化、测试电流、测试机台有所不同,针对不同的芯片都需要有定制化的探针卡
2023-05-08 10:38:273459 晶圆测试的方式主要是通过测试机和探针台的联动,在测试过程中,测试机台并不能直接对待测晶圆进行量测,而是透过探针卡(Probe Card)中的探针(Probe)与晶圆上的焊垫(Pad)或凸块(Bump)接触而构成电性接触。
2023-05-08 10:36:02885 半导体大规模生产过程中需要在晶圆上沉积集成电路芯片,然后再分割成各个单元,最后再进行封装和焊接,因此对晶圆切割槽尺寸进行精准控制和测量,是生产工艺中至关重要的环节。 
2023-04-28 17:41:49
我正在尝试使用 Marcel Stör 的 PyFlasher 刷新自定义固件构建并下载。我正在使用 Lolin NodeMCU V3。问题是 PyFlasher 在控制台中的几行之后卡住了。我等了
2023-04-28 07:23:54
请问Proteus仿真软件中怎样用探针测电压呢?
2023-04-26 15:55:01
低温锡膏因其独特的性能受到广泛关注。相比其他锡膏,低温锡膏具有明显的优势和缺点,下面锡膏厂家为大家介绍一下:低温锡膏的优点是熔点较低,通常138℃。这意味着在焊接过程中,焊接温度更低,可以避免过度
2023-04-23 16:56:171625 探头架构的关键优势是,数据保留在本地,只有信息在CodimaToolbox系统之间传输。此外,探针的运行是并行的,所以对"哪些Cisco路由器技术支持期限将要结束"的整个企业视图的请求,将在所有探针上同时处理,大大加快了进程,并将检索时间降到最低。
2023-04-18 11:17:02248 高低温冲击试验是一种测试材料承受极端温度变化的试验方法。高低温冲击试验通常用于测试电子元件、汽车零部件和航空航天部件等工业制品的可靠性和耐久性。根据标准要求,高低温冲击试验应在符合环境温度要求的加热
2023-04-07 11:22:42477 wafer晶圆GDP703202DG恒流1mA表压2Mpa裸片压力传感器die产品概述:GDP0703 型压阻式压力传感器晶圆采用 6 寸 MEMS 产线加工完成,该压力晶圆的芯片由一个弹性膜及集成
2023-04-06 14:48:12
1对于露点仪表,安装方法是将传感器与压缩空气主管道隔离。就是将传感器安装在“采样室”中,采样部分与压缩空气主管道之间采用“T”型方式连接,这样会有少量压缩经传感器。采样室应是不锈钢制成,并用导管
2023-04-06 12:31:511621 高低温试验箱升降率大体一致。另一种是全程线形升降速率,是在试验的某个时间段温湿度以一定的比率升降。按照行业设计方法,一般的高低温试验箱温度升降变化都是全程平均速率,这样可以提高设备的使用寿命,线性升降
2023-04-04 15:27:53
安装打印机驱动通常有两种方法,一种是直接使用驱动文件自带的安装程序自动安装,而另一种方法就是我们自己手动进行安装。两种方法各有利弊,日常工作中可以根据实际情况来选择使用哪种方法进行安装。
2023-04-04 09:46:453538 当我在 MKV42F64 定制板上测试我的定制引导加载程序时,闪存配置字段似乎已损坏,因此设备是安全的,我无法使用 PE 微型探针再次对其进行编程。尝试通过 SWD 擦除或编程芯片时,我从 PE
2023-04-04 06:27:50
0ºC)的产品,并且 RFID 标签的检测范围已大大缩小。通常,在 20ºC 的环境下,我们会检测到距离天线约 40-65 毫米的标签。但是,当我们将温度降低到 -5º/0ºC 左右时,如果它能检测
2023-04-03 07:05:42
贴片的元器件无法承受200℃及以上的温度且需要贴片回流工艺时会需要用到无铅低温锡膏。无铅低温锡膏一般采用无铅锡铋合金低氧化度的球形焊料粉末制成,具有优越的环保特性,同时采用进口化工材料精制而成
2023-03-31 17:30:12334 电工电子产品通常采用基础标准GBT2423标准进行测试即可,对于非民用产品通常采用基础标准 GJB150A标准进行测试,在编写测试大纲时,可依据相应的检测标准的测试方法开展第三方实验室模拟测试
2023-03-30 13:23:28510
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