近日，英特尔发表声明展示“业界首款”用于下一代先进封装的玻璃基板，与现今使用的有机基板相比，玻璃基板具有卓越的机械、物理和光学特性，在单一封装中可连接更多晶体管，提高延展性并能够组装更大的小芯片复合体。
2023-09-24 05:08:52
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方法能够通过分析光线的波长分布来实现更为精确的测量。这一理念的提出，为光谱共焦技术的发展奠定了基础。 进入80年代，光谱共焦技术开始逐步走向成熟。研究者们不断改进仪器设计，使得设备更加稳定可靠。例如，引入了特殊的分光元
2024-03-22 10:34:0756 
三防的厚度厚，造成玻璃膜层拉裂，是什么原理
2024-03-11 13:37:34
光谱共焦位移传感器和激光三角位移传感器在表面测量领域均占据重要位置，它们各自在测量物体厚度方面表现出独特的优势。尽管两者具备测量功能，但根据应用环境和所需精度，它们的适应性呈现出显著差异。 具体而言
2024-03-07 17:38:46146 
优可测光谱共焦位移传感器AP系列，玻璃、金属、橡胶等各种材质均可测量，可进行：厚度、翘曲、同轴度、平整度、高度、轴跳动、面型、内径检测以及机械定位等等。
2024-03-05 14:12:00
1 优可测薄膜厚度测量仪AF系列：快速测量多种材质的薄膜厚度；最多可测10层膜，精度可达0.1nm；适用于离线、在线、Mapping等多个场景。
2024-03-05 14:08:190 产品。结合超小型光谱仪设计、适配多款高性价比探头，实现多通道、硬件超高集成、低噪音的紧凑型特色产品。 新品爆点： ●4通道，能同时使用4个探头； ●控制器尺寸紧凑，节省空间； ●稳定测量各类材质，如金属/陶瓷/玻璃/镜
2024-02-22 14:15:5291 
三星电机在CES 2024会议上强调，各项新业务如小型固态电池与固体氧化物电解池已经取得重要突破。计划于2024年建成玻璃基板样品生产线，2025年制备样品，并于2026年起大规模生产。
2024-01-24 09:42:25202 光学上常用的基板 玻璃----在光学应用上最重要 陶瓷 光学晶体 光学塑料(如PC、PMMA等) 金属 玻璃可以分为： 1、普通玻璃 2、无色光学玻璃 3、有色光学玻璃 4、特殊玻璃等 无色玻璃
2024-01-22 06:35:21100 
于精密测量各种物体的尺寸和形状，如微小零件的尺寸、表面粗糙度等。 2. 表面质量检测：通过光谱共焦位移传感器，可以对物体表面的质量进行检测，如划痕、凹陷、磨损等。 3. 透明介质测量：对于玻璃、塑料等透明介质，光谱共焦位移
2024-01-18 11:24:22175 
半导体晶圆形貌厚度测量的意义与挑战半导体晶圆形貌厚度测量是半导体制造和研发过程中至关重要的一环。它不仅可以提供制造工艺的反馈和优化依据，还可以保证半导体器件的性能和质量。在这个领域里，测量的准确性
2024-01-18 10:56:121 半导体晶圆形貌厚度测量是制造和研发的关键环节，涉及精确度和稳定性。面临纳米级别测量挑战，需要高精度设备和技术。反射、多层结构等干扰因素影响测量准确性。中图仪器推动测量技术发展，提高精度和速度，满足不同材料和结构需求。光学3D表面轮廓仪和台阶仪等设备助力测量，为半导体行业注入新活力。
2024-01-16 13:32:18313 
WD4000无图晶圆几何形貌测量设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等
2024-01-10 11:10:39
WD4000半导体晶圆厚度测量系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR
2024-01-09 09:08:07
和材料中宏观缺陷的类型、分布以及测量、评估方法。 1 定义 较薄的陶瓷基板(厚度0.25~0.63mm)的抗弯强度测量尚无通用指南。目前测量一般基于标准DIN EN 843-1:2008-08进行,该标准描述了样品的最小厚度为2.0±0.2mm,目前贺利氏公司也是基于这一标准
2024-01-03 16:50:44245 
形貌的参数；采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度
2024-01-03 10:02:59
德国GMC-I集团GOSSEN品牌的照度计可满足测量玻璃涂上抗反射涂层前后的光反射率这一需求，帮助客户评估涂层性能。
2023-12-29 13:41:39161 
WD4000晶圆几何形貌测量设备采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV
2023-12-20 11:22:44
光谱共焦位移传感器是一种测量位移变化的高精度测量设备，其工作原理基于共焦光学技术和光谱分析技术的结合。
2023-12-19 14:17:27285 
橡胶厚度测量仪 0.1微米高精度 自动进样产品简介PTT-03A薄膜厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布
2023-12-18 15:21:20
薄膜厚度一直都是影响太阳能电池光电转换率的最直接因素，电池厂商为保证在完成电池产线生产后能更快速且更精准的测量出薄膜的厚度，了解其厚度对太阳能电池性能的影响程度及其光学常数，就得需要通过光学薄膜厚度
2023-12-16 08:33:09300 
中图仪器WD4000无图晶圆几何形貌量测系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D
2023-12-14 10:57:17
来源：《半导体芯科技》杂志 英特尔为支持摩尔定律延续的最新举措，涉及放弃有机基板（在计算芯片中数据和电力进出的媒介）而采用玻璃基板。英特尔官网近日发表的一篇博文透露了其在商用玻璃基板方面的工作
2023-12-07 15:29:09285 在今年9月，英特尔宣布率先推出用于下一代先进封装的玻璃基板，并计划在未来几年内向市场提供完整的解决方案，从而使单个封装内的晶体管数量不断增加，继续推动摩尔定律，满足以数据为中心
2023-12-06 09:31:42210 图像光谱测量则是结合了光谱技术和成像技术，将光谱分辨能力和图形分辨能力相结合，造就了空间维度上的面光谱分析，也就是现在的多光谱成像和高光谱成像技术。
2023-12-04 11:49:19227 
。WD4000晶圆几何形貌测量及参数自动检测机采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、B
2023-11-06 10:49:18
、SORI、等反应表面形貌的参数。WD4000自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TT
2023-11-06 10:47:07
中图仪器VT6000系列共焦显微镜测量仪以共聚焦技术为原理，可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工
2023-11-02 11:27:15
一、乳胶手套厚度测试仪概述乳胶手套厚度测试仪是一种专门用于测量乳胶手套厚度的设备。该设备能够准确、快速地测量乳胶手套的厚度，为生产过程中的质量控制提供重要依据。乳胶手套广泛应用于医疗、制药、化工等
2023-10-27 16:05:04
在纺织工业中，材料的厚度是一个极其重要的参数，它直接影响到织物的物理性能、舒适度和耐用性。因此，对纺织材料厚度的准确测量至关重要。机械接触式纺织材料厚度测量仪是一种专门用于测量纺织材料厚度的工具
2023-10-26 16:55:36
引言在印刷、包装和其他与纸张相关的行业中，纸张的厚度是决定产品质量和使用性能的重要因素。纸张厚度检测仪是一种专用的测量设备，用于准确测量纸张的厚度。本文将详细介绍纸张厚度检测仪的工作原理、特点
2023-10-23 14:59:09
WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三维形貌 、单层膜厚 、多层膜厚 。使用光谱共焦对射技术测量晶圆 Thickness 、TTV 、LTV 、BOW
2023-10-18 09:09:00
纸张厚度测试仪 随着科技的不断发展，纸张、纸板和印刷纸的厚度测量变得越来越重要。厚度是这些材料的重要质量指标之一，它对产品的质量、使用性能和寿命都有着重要的影响。机械接触式测厚仪是一种常见
2023-10-12 16:35:38
纸张厚度测定仪 在生产和生活领域，纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料的厚度是质量的关键指标。厚度直接影响到这些材料的结构强度、耐用性和功能性能。因此，厚度测量在纸品生产和使用中
2023-10-11 16:45:49
英特尔还计划引入玻璃通孔技术（TGV），将类似于硅通孔的技术应用于玻璃基板，还推出了Foveros Direct，这是一种具有直接铜对铜键合功能的高级封装技术。
2023-10-08 15:36:43742 
抗生素玻璃瓶壁厚测量仪 在医药行业中，玻璃瓶作为常用的包装容器，其质量与安全性倍受关注。而药用玻璃瓶测厚仪，则是确保瓶壁厚度均匀性、一致性的关键检测工具。 壁厚测厚仪的基本原理
2023-09-28 13:25:56
有机基板的材料主要由类似 PCB 的材料和编织玻璃层压板制成，允许通过芯片路由相当多的信号，包括基本的小芯片设计，例如英特尔的移动处理器（具有单独的 PCH 和 CPU 芯片）以及 AMD 基于小芯片的 Zen 处理器。
2023-09-28 11:29:121114 
CP200台阶厚度测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪，其采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。针对测量ITO导电薄膜的应用场
2023-09-28 09:17:21
卫生巾底膜厚度测量仪 测量物体厚度的仪器适用于精确测量薄膜、复合薄膜、纸张、金属箔、硬件、纸板等硬软材料的厚度。分辨率为1um，广泛应用于薄膜、铝箔制造商、质量检验机构等单位。
2023-09-22 17:19:14
塑料瓶瓶壁厚度测量仪 随着人们对食品安全和包装质量的要求不断提高，塑料瓶身厚度测量仪在食品饮料行业中得到了广泛应用。例如，在食品加工业中，需要测量食品包装材料的厚度是否符合标准。这种测量
2023-09-22 16:59:52
瓶口厚度测量仪 壁厚测厚仪，这是一款专注于材料及物体厚度测量的仪器。它适用于多个行业，如食品、药品、化妆品等。在这些领域中，它主要用于精确测量各类瓶子的瓶底和瓶壁厚度，例如安瓿瓶、西林瓶
2023-09-21 17:23:53
英特尔介绍称，与目前主流的有机基板相比，玻璃具有独特的特性，例如超低平坦度、更好的热稳定性和机械稳定性，从而使基板中的互连密度更高。这些优势将使芯片架构师能够为人工智能(AI)等数据密集型工作负载创建高密度、高性能芯片封装。
2023-09-20 17:45:43794 
玻璃基板有助于克服有机材料的局限性，使未来数据中心和人工智能产品所需的设计规则得到数量级的改进。 英特尔宣布在业内率先推出用于下一代先进封装的玻璃基板，计划在未来几年内向市场推出。这一突破性进展将使
2023-09-20 17:08:04209 日前有消息称，英特尔公司最近取得突破性的技术创新，推出了针对下一代半导体封装的玻璃基板。 据悉，这种玻璃基板与传统的有机基板相比，具有明显的性能优势。它表现出更出色的热性能、物理性能和光学性能，使得
2023-09-20 10:39:14541 当地时间9月18日，芯片制造商英特尔公司宣布，在用于下一代先进封装的玻璃基板开发方面取得重大突破。 在本周于美国加利福尼亚州圣何塞举行的英特尔2023年创新大会之前，英特尔宣布了这一“程碑式的成就
2023-09-20 08:46:59521 
玻璃瓶壁厚测量仪 玻璃瓶在我们的日常生活和工业生产中有着广泛的应用。从食品包装到化学试剂，再到医疗用品，玻璃瓶在其中都扮演着重要角色。为了确保玻璃瓶的品质和安全性，对其壁厚的精确测量显得
2023-09-19 14:28:48
但是，台湾载板业界认为，玻璃基板量产技术还不成熟。载板市场已经掌握了玻璃基板的技术，目前在芯片核心层有原来内置在pcb板材中的特殊玻璃材料，但相关技术还不成熟，因此正在实验室开发中。
2023-09-19 10:20:14430 铜箔厚度测量仪 铜箔、硅片、箔片、铝箔、金属箔片等材料在电子、电力、建筑、汽车等领域有着广泛的应用。这些材料都具有特定的厚度和精度要求，因此厚度测量是这些材料生产和加工过程中必不可少的一个
2023-09-18 11:07:33
薄膜厚度测量仪 在制造业和科学研究领域，对不同材料的厚度进行准确测量至关重要。厚度不仅影响材料的性能和稳定性，还会对其机械、电气和热学等方面的特性产生影响。为了精确测量各种材料的厚度，人们
2023-09-18 10:44:27
塑料薄膜厚度测量仪 随着塑料薄膜、拉伸缠绕膜、尼龙膜等包装材料的应用，食品保鲜膜等包装品也得到了大量应用。为了确保这些包装材料的厚度和品质，需要使用厚度测量仪器进行检测。本文将介绍一种厚度
2023-09-15 15:34:55
Sunic System开发了可以在玻璃基板上实现高分辨率有机发光二极管（OLED ）的显示设备。
2023-09-08 14:24:21380 覆铜板的厚度可以通过以下方法进行测量：
1. 厚度测微仪（Thickness Gauge）：使用专门的厚度测微仪，将探测器轻轻放置在覆铜板表面，测量铜层与基材之间的距离，即可得到厚度
2023-09-07 16:36:551467 铝箔膜厚度测量仪-简介PVC输液袋，双软管输液袋，医用冲洗袋，营养袋，腹膜透析袋，EVA营养袋，多联袋，血浆袋，集尿袋，多层共挤膜袋,兽药袋，铝箔袋，膏药袋，洁净袋，资料袋，自封袋，可书写袋，胶囊袋
2023-09-01 16:26:19
台阶仪是一种常用的膜厚测量仪器，它是利用光学干涉原理，通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度，具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度，包括金属、陶瓷、塑料等
2023-09-01 09:08:36
在光伏电池发展的今天，一片高性能的太阳能电池总能得到光伏企业的强烈认可，这就导致太阳能电池的性能显得尤为重要。在太阳能电池的性能测量中，光谱响应是仅次于I-V特性的重要特性。「美能光伏」所研发
2023-08-19 08:37:42463 拥有超高精度的优可测薄膜厚度测量仪究竟能测多薄的膜？哪些行业哪些材料需要它的帮助？优可测在薄膜厚度测量的造诣究竟有多高？
2023-08-16 18:35:23806 
产品简介—— 普密斯PMS-8012彩色光谱共焦位移传感器不但精度高于传统三角测距传感器，量测不同材质或不同形貌时亦能获得稳定一致结果。 产品介紹—— 1、稳定量测各类
2023-07-13 15:52:13
产品简介—— 普密斯PMS-8020彩色光谱共焦位移传感器不但精度高于传统三角测距传感器，量测不同材质或不同形貌时亦能获得稳定一致结果。 产品介紹—— 1、稳定量测各类
2023-07-13 15:44:43
产品简介—— 普密斯PMS-8022彩色光谱共焦位移传感器不但精度高于传统三角测距传感器，量测不同材质或不同形貌时亦能获得稳定一致结果。 产品介紹—— 1、稳定量测各类
2023-07-13 15:40:15
产品简介—— 普密斯PMS-8040彩色光谱共焦位移传感器不但精度高于传统三角测距传感器，量测不同材质或不同形貌时亦能获得稳定一致结果。 产品介紹—— 1
2023-07-13 15:37:15
产品简介—— 普密斯PMS-8055彩色光谱共焦位移传感器不但精度高于传统三角测距传感器，量测不同材质或不同形貌时亦能获得稳定一致结果。 产品介紹—— 1
2023-07-13 15:33:40
产品简介—— 普密斯PMS-8080彩色光谱共焦位移传感器不但精度高于传统三角测距传感器，量测不同材质或不同形貌时亦能获得稳定一致结果。 产品介紹—— 1
2023-07-13 15:30:25
产品简介—— 普密斯PMS-8080K彩色光谱共焦位移传感器不但精度高于传统三角测距传感器，量测不同材质或不同形貌时亦能获得稳定一致结果。 产品介紹—— 1、稳定
2023-07-13 15:27:43
项目一：测量薄膜下石墨的厚度 行业应用|立仪光谱共焦位移传感器对石墨厚度的测量 行业应用|立仪光谱共焦位移传感器对石墨厚度的测量 检测方案： 将产品平置，上下各一个探头，进行对射测厚，通过传感器软件
2023-07-11 10:47:54253 
电子玻璃主要为显示玻璃基板与盖板玻璃，显示玻璃基板是手机、电视等电子设备中显示面板常规有TFT-LCD和OLED及MiniLED、Micro LED等类型；盖板玻璃位于显示玻璃外或电子设备后盖、模组外壳，起到保护支撑作用。玻璃激光切割精度更高，效率更好。
2023-07-03 10:55:54732 
DBC基板铜箔厚度较大(一般为100μm～600μm)，可满足高温、大电流等极端环境下器件封装应用需求(为降低基板应力与翘曲，一般采用Cu-Al2O3-Cu的三明治结构，且上下铜层厚度相同)。
2023-07-01 11:02:282179 
据外媒EE Times报道，英特尔正在研发玻璃材质的芯片基板，以解决目前有机材质基板用于芯片封装存在的问题。 英特尔装配和测试主管Pooya Tadayon表示，玻璃的硬度优于有机材质，并且热膨胀
2023-06-30 11:30:07701 由于ITO膜具有一定的透光性，而硅基板具有较强的反射率，会对依赖反射光信号进行图像重建的光学轮廓仪造成信号干扰导致ITO膜厚图像重建失真，因此考虑采用接触式轮廓仪对ITO膜厚进行测量，由于其厚度范围
2023-06-27 10:47:070 普密斯IMAGE3系列图像尺寸测量仪可以用于检测手表镜片玻璃尺寸，不仅测量过程精准高效，可以减少人力成本，还可以显著提高生产效率。
2023-06-12 16:56:281596 
厚度并记录重复性。 1、采用D35A7R2S35镜头对玻璃管管壁进行单边测厚，操作简单快速。 2、取三个位置，静态打点测量，每秒钟取一次数值，连续30秒，并计算重复精度。 行业应用|立仪光谱共焦位移传感器在玻璃方面的检测 测试结果 三个点位静态单边
2023-06-07 10:43:17319 
无。海伯森HPS-CF系列光谱共焦位移传感器采用同轴测量结构的传感头，仅一次测量即可获得透明物体（玻璃、薄膜、UV胶等）的表面高度及厚度，获得微米级别的测量精度，解决了普通激光位移传感器在测量透明材质时，容易因上下高度不同而导致位置
2023-05-30 15:15:54363 
输液用袋厚度测量仪 PVC输液袋，双软管输液袋，医用冲洗袋，营养袋，腹膜透析袋，EVA营养袋，多联袋，血浆袋，集尿袋，多层共挤膜袋,兽药袋，铝箔袋，膏药袋，洁净袋，资料袋，自封袋，可书写袋
2023-05-23 16:30:10
二强玻璃应力仪SLP-2000是一种利用光弹性力学原理，测量应力变化的光弹性应力分析计，可用于测量化学强化玻璃的强化深度与内部应力分布。对于表面有钾离子层的产品，可以使用PMC软件与应力计测量的表面应力值数据相结合，准确分析判断玻璃内部应力分布。
2023-05-23 10:30:57372 
产品参数——
2023-05-16 15:53:37
产品介紹—— 点光谱共焦测量显微系统是一种可达次级微米级的非接触式位移量测系统，对于表面漫反射或镜反射之物体乃至透明材质皆可测量其位移或厚度，基于出光与回传讯号路径同轴之特徵，点光谱共焦
2023-05-16 15:46:34
地物光谱仪是一种可以用来研究大地物质组成和特性的仪器，是用来测量和分析地物样本的光谱特性的仪器。它可以用来测量地物样本的反射光谱、吸收光谱和荧光信号，从而为地物谱研究提供了有价值的信息。
2023-05-10 15:07:381016 引言 地物光谱仪在遥感领域的应用日益重要，可用于研究不同地物条件下可见和红外的光谱辐射特性，从而获得地表的光谱辐射亮度､光谱辐射照度或方向反射因子等信息。地物光谱特性的准确测量是光学遥感定量分析
2023-05-08 15:47:03517 
使用搭载普密斯光谱共焦传感器的视觉检测方案，自动快速对玻璃表面进行扫描取点，以获取玻璃表面的轮廓数据，再以此做平面度及翘曲度计算，实现对PAD玻璃轮廓度的高精度测量。
2023-05-05 10:50:00404 
光谱学是测量紫外、可见、近红外和红外波段光强度的一种技术。光谱测量被广泛应用于多种领域，如颜色测量、化学成份的浓度检测或电磁辐射分析等。光谱仪器一般都包括入射狭缝、准直镜、色散元件(光栅或棱镜
2023-05-05 07:08:55449 
地物光谱仪是用来测量物体表面反射光谱的仪器，它可以测量任何表面的光谱。地物光谱仪的原理是使用一种叫做反射式光谱仪的仪器，它把光照在物体表面，然后把反射光谱收集回来，用来计算物体表面的光谱特性。反射式
2023-05-04 15:49:261174 
一、地物光谱仪的应用 1)地物光谱仪可用于遥感影像的处理和分析，可以通过光谱仪测量地物的反射特性，从而分析地物的类型、分布、性质等。 2)地物光谱仪可用于地质勘查，可以利用光谱仪测量不同地层的反射光谱
2023-04-27 10:57:19866 浮法玻璃是一种常见的玻璃制造工艺，其生产过程中将玻璃原料（例如硅砂、碳酸钠、石灰石等）融化后，从玻璃熔浴上方均匀地流出，经冷却固化成薄片状玻璃。这种技术可以制造出高质量、均匀厚度的玻璃，用途广泛。
2023-04-25 11:18:471262 在3C消费品、半导体的制造过程中，产品通常会包含多层复合材料，需要分别检测其厚度或有无。光谱共焦传感器作为一种对环境和材料具有广泛适应性的高精度测量技术，以其高速度，高精度，高适应性等明显优势，成为
2023-04-21 09:16:58495 
使用普密斯IMAGE3 MAX图像尺寸测量仪，装配高精度光谱共焦传感器，可以一次完成刹车片2D&厚度、高度、段差等尺寸检测。
2023-04-20 11:30:10361 
光纤光谱仪通常采用光纤作为信号耦合器件，将被测光耦合到光谱仪中进行光谱分析。由于光纤的方便性，用户可以非常灵活的搭建光谱采集系统。光纤光谱仪的优势在于测量系统的模块化和灵活性。德国MUT的微型光纤
2023-04-17 07:30:57509 在DPC陶瓷基板制备过程中，由于电镀电流分布不均匀，导致基板表面电镀铜层厚度不均匀（厚度差可超过100μm），表面研磨是控制电镀铜层厚度，提高铜层厚度均匀性的关键工艺，直接影响陶瓷基板的性能和器件封装质量。
2023-04-12 11:25:121592 光谱共焦位移传感器广泛应用于各个领域。其中一个有用的应用是测量薄膜厚度。该传感器非常适合此应用，因为它可以在距表面很近的距离内进行高精度测量。本文将介绍光谱共焦位移传感器如何用于测量薄膜厚度，包括
2023-04-07 14:52:00673 ，高适应性等明显优势越来越受到3C等精密制造业的青睐，本期小明就来给大家分享光谱共焦在3C行业中3D曲面玻璃、油墨涂层以及深孔厚度的测量应用案例。01VR屏幕油墨厚
2023-04-03 11:00:03741 图像测量仪IMAGE 3 MAX搭载普密斯8055点光谱共焦传感器，测量高度，1秒内完成50个尺寸的检测，消除人为误差，任何人都能得到相同测量结果，一键测量，一键输出报表。
2023-03-24 14:22:10
，叶绿素含量的测量已成为植物生理学研究的一个重要的方面。 近些年，随着能量谱技术的发展，地物光谱仪也被广泛应用于测量植物叶绿素含量。由于地物光谱仪能够探测植物体表面反射光谱，而不需要将样品破坏，因此可以节约大量的
2023-03-24 09:57:331806 
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