Tekvpi探针接口的一些好处是什么? Tekvmi探针接口的最大好处是多功能性和易于使用。 示波器 使用Tekvmi接口支持范围广泛的 普罗布斯 包括Tekvmi探针,BMC
2024-03-22 10:32:5330 测试元件 逻辑探针,20MHz
2024-03-14 20:50:37
测试元件 逻辑探针,50MHz
2024-03-14 20:50:37
探针卡微孔加工对精度要求极高,因此需要超高精密加工设备才能满足技术要求。苏州璟丰机电JF系列微纳加工中心在微孔、深孔加工有着独特的技术突破,为半导体探针卡制造提供先进、高效的解决方案。
2024-03-13 13:12:3654 近日,上海韬盛科技旗下的苏州晶晟微纳宣布推出其最新研发的N800超大规模AI算力芯片测试探针卡。这款高性能探针卡采用了前沿的嵌入式合金纳米堆叠技术,旨在满足当前超大规模AI算力芯片的高精度测试需求。
2024-03-04 13:59:12201 如果应用是慢启动类型,建议配置启动探针或者为存活探针配置initialDelaySeconds参数,避免存活探针过早介入导致容器频繁重启。如果应用启动时间不固定建议使用启动探针。
2024-02-26 11:08:50137 台阶仪通过扫描被测样品表面,获取高分辨率的表面形貌数据,能够揭示微观结构的特征和性能。了解工作原理和性能特点台阶仪利用扫描探针在样品表面上进行微观测量,通过探测探针和样品表面之间的相互作用力,获取
2024-02-20 09:06:240 探针测试台是一种用于测试集成电路(IC)的设备,工作原理是将待测试的IC芯片安装在测试座上,然后通过探针接触到芯片的引脚,以测试芯片的功能和性能。在测试过程中,探针测试台会生成一系列的测试信号,通过
2024-02-04 15:14:19234 CASCADE探针台是一种高级的网络分析工具,可以在网络中捕获和分析数据流量。它可以帮助企业识别和解决网络性能问题、网络安全问题以及网络优化等方面的挑战。CASCADE探针台具有广泛的应用场景,下面
2024-01-31 14:41:25270 总部位于瑞士的微型 3D 打印公司Exaddon 开发了能够以低于 20 μm 间距进行细间距探测的 3D微打印探针。细间距探针测试是用于测试半导体芯片的极其复杂且精确的过程。
2024-01-26 18:23:071334 作为芯片晶圆测试阶段的重要工具之一,探针卡在不断更新迭代。为满足更高需求的晶圆测试,针卡类型也逐渐从悬臂针卡向垂直针卡升级。
2024-01-25 10:29:21658 ACp65是一种常用的探针,被广泛用于研究细胞衰老、疾病发展和治疗等领域。在本文中,我们将详细介绍ACp65探针的参数、应用以及未来的发展。 ACp65探针的基本参数 ACp65探针是一种标记于抗原
2024-01-10 14:39:01207 需要了解示波器探头是如何工作的。示波器探头是一种电子测量工具,用于连接示波器与被测试电路之间。它通常由一个连接到测试点的针状探针和一个连接到示波器的插头组成。探针通过测量被测试电路的电压信号,并将其传输到示波
2024-01-08 11:42:25196 的表征太阳能电池中ITO薄膜的方阻/电阻率而生产了美能四探针电阻测试仪。该设备所拥有超大的测量范围并支持全自动扫描,可帮助电池厂商在较短时间内轻易使用并实现高精度测量
2023-12-30 08:33:04257 随着生物医学和临床成像技术的飞速发展,在NIR-II/SWIR波段的荧光纳米探针发展迅速。NIR-II波段(1000nm-1700nm)在组织中的散射和吸收较低,允许辐射更深入地穿透不透明组织,且可以保持高分辨率。
2023-12-27 06:31:44134 电子发烧友网站提供《利用射频收发器模块从探针无线传输数据的解决方案.pdf》资料免费下载
2023-11-28 09:54:530 据传感器专家网获悉,近日,和林微纳在接受机构调研时表示,线针、MEMS晶圆测试探针均进入部分客户验证环节。 和林微纳进一步称,半导体探针业务受行业及经济环境等综合影响,营业收入较往年有较大的变化
2023-11-16 08:38:47229 关于蔡司三坐标测量仪主探针和测针准确调节的方法,蔡司授权代理三本精密仪器讲解如下:1、安装XXT加长杆:在使用扳手拧紧测针时,XXT测针装配辅助工具可以顶住加长杆以便于调节。2、调节XXT星形
2023-11-15 17:00:34956 飞针式测试仪是对传统针床在线测试仪的一种改进,它用探针来代替针床,在 X-Y 机构上装有可分别高速移动的4 个头共8 根测试探针,测试间隙为0.2mm。工作时在测单元(UUT, unit under
2023-11-14 15:16:54210 问:通过探针测量电源噪声 开关电源通常在其开关频率的谐波处或与开关频率相干的位置产生干扰性EMI噪声。由于电源噪声的带宽很大,因此示波器通常是测量此噪声的首选工具。使用示波器测量此噪声时需要特别注意
2023-11-09 10:45:06284 Q A 问: 通过探针测量电源噪声 开关电源通常在其开关频率的谐波处或与开关频率相干的位置产生干扰性EMI噪声。由于电源噪声的带宽很大,因此示波器通常是测量此噪声的首选工具。使用示波器测量此噪声
2023-11-09 10:45:03155 中图仪器SJ5730系列纳米探针式轮廓仪采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术,分辨率高达0.1nm,系统残差小于3nm
2023-11-09 09:14:22
探针台是半导体行业重要的检测装备之一,其广泛应用于复杂、 高速器件的精密电气测量,旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。
2023-11-08 14:04:32298 。「美能光伏」为此生产了美能在线四探针电阻测试仪,该设备可在完成沉积工艺等众多与电池方阻/电阻率有关的生产工艺后快速、精准的对电池进行检测,保证在达到良好接触率的同
2023-11-04 08:34:15239 作为现代电子设备中的重要测量工具,电流注入探头在各个领域中发挥着重要作用。本文将详细探讨电流注入探头的工作原理以及其应用技术,帮助读者更好地理解和应用该技术。 一、电流注入探头的基本原理 电流
2023-11-01 14:08:36327 CP系列探针式台阶轮廓仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪,数据复现性高、测量稳定、便捷、高效,是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。CP系列探针式台阶轮廓仪可以对微米和纳米结构进行膜厚
2023-10-25 13:37:25
电子发烧友网站提供《一种横向Ka波段宽带波导-微带探针过渡的设计.pdf》资料免费下载
2023-10-23 14:11:432 。「美能光伏」为帮助电池厂商找出太阳能电池投入使用时会出现的性能问题,凭借独特的检测经验和科学的生产技术,出产了可适用于大规模沉积工艺的美能在线四探针电阻测试仪,该设备可与产线
2023-10-21 08:33:57423 “探针卡”是一种测试接口,通过连接测试机和芯片传输信号,对芯片参数进行测试。探针卡将探针与芯片上的焊垫直接接触,引出芯片讯号,配合周边测试仪器与软件控制达到自动化量测的目的。 随着晶圆技术的不断提升
2023-10-13 12:30:02212 为了保障钙钛矿太阳能电池的性能与质量,电池厂商往往都会关注其沉积薄膜的各种参数信息,从而采取有效的方式进行薄膜优化,提升钙钛矿太阳能电池的性能。「美能光伏」拥有的美能探针式台阶仪,凭借其出色和强大
2023-09-28 08:35:52359 在太阳能电池的产业化生产过程中,传统的四探针测量技术往往会出现测量数据的偏差、测量后太阳能电池的完好性受损等问题,为了帮助电池厂商轻松处理所遇到的这些问题,「美能光伏」凭借在光伏检测行业中专业且独到
2023-09-23 08:36:01299 PW-US16T 探针式初粘力测试仪又叫探针式初粘力试验机(ProbeTackTester),是胶带初粘力测试的方式之一,主要用于各种胶带、粘合剂类等各种不同产品的初始粘着力测试,产品满足ASTM
2023-09-19 16:17:03
制造工艺:制造高频探针需要高度精密的工艺。通常,钨粉与其他金属粉末混合,然后通过拉拔机械等工艺加工成所需的尺寸和形状。这确保了探针的尺寸精度和表面光滑度,以满足高频测试的要求。
2023-09-15 17:04:07527 电阻测试仪端子E(或C 2 、P 2 )、P 1 、C 1 与探针所在位置对应连接。 1、准备工作 1)熟读接地电阻测试仪的使用说明书,全面了解仪器的结构、性能及使用方法。 2)备齐测量时所必需的工具及全部仪器附件,并将仪器和接地探针擦拭干净,特别是接地探针,一定要将其表面影
2023-09-14 10:55:362137 SJ5730粗糙度轮廓探针式测量仪采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术,实现对轴承及工件表面粗糙度和轮廓的高精度测量和分析
2023-09-07 09:28:58
为了测量电路性能,需要将信号传输到某种传输线上,这要求至少两个导体,即“信号导体”和“地导体”。因此,射频探针可以分为三种基本类型:GS、SG、GSG。
2023-09-05 11:01:031550 的空间也将获得更加高效的利用。 特点: 掀盖式屏蔽箱采用航空铝合金材质,产品轻便,便于运输和安装。 在屏蔽箱两侧及后方的接入口处增加电磁屏蔽,提升了屏蔽性能,可以有效屏蔽电磁干扰,能进一步提高探针台的测试精度。
2023-08-30 09:16:42326 "去嵌"是一种高频测试中常用的技术,旨在消除测量中探针或连接线等外部元件的影响,以便更准确地测量被测试器件的性能。
2023-08-28 15:39:241152 SJ5730接触式探针轮廓仪具有12mm-24mm的粗糙度轮廓一体式测量范围,分辨率达到0.1nm,适合测量大曲面高精密零部件的轮廓参数测量,同时具备球面、弧面、非球面轮廓参数评价功能,能够满足各种
2023-08-28 11:14:15
近年来,随着电池厂商对太阳能电池生产的要求越来越高,在生产中太阳能电池的效率和性能也愈发重要。为了更好的判断太阳能电池的效率和性能是否符合生产标准,「美能光伏」研发了美能四探针电阻测试仪,可对
2023-08-26 08:36:01331 点击美能光伏关注我们吧!薄层电阻在太阳能电池中起着非常重要的作用,它影响着太阳能电池的效率和性能。四探针法能够测量太阳能电池的薄层电阻,从而精确地获取电池片的电阻数据。「美能光伏」拥有的美能扫描
2023-08-24 08:37:061069 光谱用于分析新开发的基于碳纳米管传感器的生物传感器的工作效果。由于该波段成像的生物医学和临床应用的不断发展,NIR-II/SWIR 波段荧光纳米探针的开发正在快速增长。在 1000 nm
2023-08-24 06:25:27215 奕叶最新四向毫米波探针台 奕叶最新的四向毫米波探针台在IMS2023展出。该产品具有四向毫米波针座搭建及可以满足客户的东南,西南
2023-08-23 16:51:04
奕叶四向毫米波探针台
2023-08-23 14:21:22555 ;
•采用翻盖加螺旋下压结构,操作方便;
•压块结构合理,下压速度线性可控,下压力度平稳均衡,芯片管壳受力均匀保证安全;
•探针的爪头呈凹圆弧型,有效承托锡球,既可以保证接触性能稳定又能
2023-08-22 13:32:03
CP200探针式台阶仪是一种接触式表面形貌测量仪器,可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要
2023-08-17 09:59:47
近日,天津大学精密仪器与光电子工程学院的程振洲教授、刘铁根教授与深圳大学王佳琦副教授合作研究,研发了一种基于铥离子掺杂上转换纳米颗粒的水分子传感探针,成果以“Tm3+-doped
2023-08-10 09:39:59287 及更高版本的各种调试探针。一些开发板需要更新板上固件才能与Keil Studio一起工作。
此应用程序说明指向板载调试探测器的更新信息。
2023-08-08 06:35:54
了解使用Arm调试或跟踪目标时的常见问题和答案开发工作室(Arm DS)。此页面主要介绍连接、调试和跟踪仿真、FPGA和硅靶。
要使用Arm DS调试目标,您必须具备以下条件:
•调试探针,如
2023-08-02 06:50:15
近日,来自中科院上海微系统所传感技术国家重点实验室的科研人员,受到蚊子口器的启发,开发了一种创新的神经探针。
2023-07-25 17:04:31751 飞针测试:用探针来取代针床,使用多个由马达驱动的、能够快速移动的电气探针同器件的引脚进行接触并进行电气测量。
2023-07-25 11:12:151419 半导体产业是全球技术进步的核心引擎,其成果无处不在,从我们的智能手机到现代交通工具,再到各种先进的医疗设备。而在这一巨大产业中,每一个微小但至关重要的部分都需经过严格的测试,以确保其性能和可靠性。这就是半导体检测设备探针台(通常称为“探针卡”或“探针台”)发挥作用的地方。
2023-07-25 09:59:13747 成立于2010年,迪克微电子主要是电子产品、绝缘材料、测试针、测试夹具、五金机电、排线等产品从事贸易,2020年的测试针,测试夹具行业累的市场优势,利用考试包括探针的设计,生产,销售,转为企业。目前,主要产品有连接器探针、pcb探针、ate探针等。
2023-07-20 11:46:15662 北京锦正茂科技有限公司提供的多维磁场探针台,采用无磁材料制成,采用亥姆霍兹线圈正交放置,产生空间多维磁场。线圈可采用自然冷却(磁场较小)或水冷结构(磁场较大),标配线圈过热保护装置。
2023-07-14 11:00:37242 中图仪器SJ5760系列大行程探针式轮廓仪是一款集成表面粗糙度和轮廓测量的测量仪器;采用进口高精度光栅测量系统、高精度研磨级导轨、高性能非接触直线电机、音圈电机测力系统、高性能粗糙度测量模块
2023-07-12 11:24:43
中图仪器SJ5730表面轮廓仪探针式是一款集成表面粗糙度和轮廓测量的高精度测量仪器,该仪器具有12mm-24mm的粗糙度轮廓一体式测量范围,分辨率达到0.1nm,因此非常适合测量大曲面高精密零部件
2023-06-27 11:01:42
轮廓测量仪是测量各种机械零件素线形状和截面轮廓形状的精密设备。该仪器工作台采用高精度的横向气浮道轨和滚动垂直道轨,移动精度高、稳定性好、寿命长;测量效率高、操作简单、适用于车间检测站或计量室
2023-06-19 14:20:06
近日,润和软件HopeStage 操作系统与北京东方京海电子科技有限公司Agent探针软件完成产品兼容性测试。
2023-06-16 10:04:09536 据《经济日报》报道,芯片测试设备制造企业颖崴科技6月14日在高雄举行了高雄第二工厂竣工仪式。公司方面表示:“为生产用于半导体测试的探针芯片,将于今年年底在台元科技园区建设新工厂。将扩大现有生产能力。”继新工厂启动之后,预计明年将以探针卡业绩加倍为目标。
2023-06-15 10:31:42633 Reed Gleason和Eric Strid的工作为射频探针的进一步发展铺平了道路。他们在Tektronix工作期间发明了第一台高频晶圆探针,这项创新提供了一种更便捷、无需安装或贴合状态下
2023-06-13 14:49:16971 磁场探针台主要用于半导体材料、微纳米器件、磁性材料、自旋电子器件及相关技术领域的电、磁学特性测试,能够提供磁场或变温环境,并进行高精度的直流/射频测量。
2023-06-08 11:04:23258 安装到 Link2,并通过使用 FlashMagic 闪烁验证了调试器探针是否正常工作。我还将 LPC54102 CMSIS 包安装到 pyocd。
当我运行 pyocd list 时,我得到的只是“没有连接可用的调试器”。
2023-06-05 08:49:42
近日,浙江微针半导体有限公司宣布,其2D CMOS图像传感器(CIS)MEMS探针卡产品已成功交付给国内头部CIS公司,公司2D MEMS探针卡进入量产阶段!
2023-06-02 16:42:09603 探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,探针台可吸附多种规格芯片,并提供多个可调测试针以及探针座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测
2023-05-31 10:29:33
在半导体产业的制造流程上,主要可分成IC设计、晶圆制程、晶圆测试及晶圆封装四大步骤。 其中所谓的晶圆测试,就是对晶圆上的每颗晶粒进行电性特性检测,以检测和淘汰晶圆上的不合格晶粒。 下面我们一起来了解一下半导体晶圆测试的核心耗材——探针卡,以及探针卡与LTCC/HTCC技术有着怎样的联系。
2023-05-26 10:56:55732 几天来我一直在尝试使用 mcu-link(不是 -pro)探针来刷新我们基于 LPC1114 CPU 的定制板。我想使用 SWD 并可能还使用 gdb 调试我的代码。但主要是我只是主要想擦除和编程
2023-05-22 06:16:04
这些简单而通用的3 LED逻辑探针电路可用于测试数字电路板,如CMOS、TTL或类似电路板,以排除IC和相关级的逻辑功能故障。
2023-05-18 17:36:48979 Multisim的虚拟测试仪器中还有电流探针,模拟钳式电流表,其原理是电流互感器原理。与传统电流表不一样,钳式电流表不需要串联接入电路中,而只需要将其前端的钳子(电流夹)打开,使得待测电流导线与钳子相互环绕,利用变压器变电流的原理测量电流。其特点就是可以实现在线测量。
2023-05-18 11:26:007273 荧光成像具有成像速度快、灵敏度高等优点。自1962年钙离子荧光探针问世以来,凭借其灵活可调的化学结构,离子响应型荧光探针家族不断发展,荧光成像技术也被广泛应用于离子检测。作者根据离子与探针的相互作用情况
2023-05-18 10:50:24570 就微型探针而言,已经研究了避免误差的自动定位技术。量化并控制倾斜误差,对于利用微悬臂梁优化自动化探针测试至关重要。然而,后者的研究还没有考量潜在的微型MEMS探针的机械柔韧性。微悬臂梁可用于制造各种微型电气探针,包括射频探针。
2023-05-17 09:51:30500 您是否还在烦恼接触式测量仪时常发生的探针损坏以及样品损伤?也许非接触式测量仪才能满足您的测量需求。 小优博士为您解惑
2023-05-11 18:57:04327 晶圆测试的方式主要是通过测试机和探针台的联动,在测试过程中,测试机台并不能直接对待测晶圆进行量测,而是透过探针卡(Probe Card)中的探针(Probe)与晶圆上的焊垫(Pad)或凸块(Bump)接触而构成电性接触
2023-05-11 14:35:142362 探针卡是半导体晶圆测试过程中需要使用的重要零部件,被认为是测试设备的“指尖”。由于每一种芯片的引脚排列、尺寸、间距变化、频率变化、测试电流、测试机台有所不同,针对不同的芯片都需要有定制化的探针卡
2023-05-08 10:38:273459 晶圆测试的方式主要是通过测试机和探针台的联动,在测试过程中,测试机台并不能直接对待测晶圆进行量测,而是透过探针卡(Probe Card)中的探针(Probe)与晶圆上的焊垫(Pad)或凸块(Bump)接触而构成电性接触。
2023-05-08 10:36:02885 ,根据磁场感应定律,导体中的电流会产生磁场,而这个磁场也会对导体周围的磁场产生感应。因此,当电流通过测量对象时,会在测量探针附近形成一个磁场。 2,法拉第电磁感应定律 脉冲电流探头的工作原理还基于法拉第电磁感应定律
2023-04-27 15:55:05917 请问Proteus仿真软件中怎样用探针测电压呢?
2023-04-26 15:55:01
MCUXpresso(当前运行 11.7.1)是否支持检测和使用以 CMSIS-DAP 模式运行的 J-Link 探针?
我已经使用 SEGGER 的 J-Link 配置器让 J-Link 启动
2023-04-25 08:46:12
中图仪器SJ5730系列探针式轮廓扫描测量仪测量原理为直角坐标测量法,即通过X轴、Z轴传感器,测绘出被测零件的表面轮廓的坐标点,通过电器组件,将传感器所测量的坐标点数据传输到上位PC机,软件对所采集
2023-04-23 16:04:24
探头架构的关键优势是,数据保留在本地,只有信息在CodimaToolbox系统之间传输。此外,探针的运行是并行的,所以对"哪些Cisco路由器技术支持期限将要结束"的整个企业视图的请求,将在所有探针上同时处理,大大加快了进程,并将检索时间降到最低。
2023-04-18 11:17:02248 我有 iMXRT1060EVK,想在 FreeRTOS 的流模式下使用 Tracealyzer。我正在使用 IAR EW 和 I-jet 调试探针。我已按照以下链接中的步骤进行操作,但数据流仍然存在
2023-04-17 08:02:56
思达科技多年来致力在MEMS探针的技术研发,持续推出先进的测试探针卡,以满足各种行业的产业测试需求,Virgo Prima系列是专为微型化程序IC而设计,用在产线WAT(晶圆验收)/ 电性测试
2023-04-13 11:24:371156 当我在 MKV42F64 定制板上测试我的定制引导加载程序时,闪存配置字段似乎已损坏,因此设备是安全的,我无法使用 PE 微型探针再次对其进行编程。尝试通过 SWD 擦除或编程芯片时,我从 PE
2023-04-04 06:27:50
。一切正常,最后一个启动并运行,我可以在 DAP COM 端口上与它交互并获取 ADC 读数。OpenDAP 拖放驱动器也出现了。但是,现在当我尝试连接到开发板以下载上述任何项目时,我得到:无法连接探针
2023-03-30 08:02:49
因为探针校准片较小,许多客户对于探针校准操作不是特别熟练,从而导致探针无法校准或者因操作不当导致校准片受到损坏。
2023-03-29 10:19:151064 设置为易于“执行”抓住 USB 电缆并编写一些 python。接口和 gpio 处理了许多原语。Pico 有其中一个,另一个 Pico 可以做成探针。这可能吗?Pico 仅使用 CLK 和 DIO,接地
2023-03-29 06:00:52
智能探针电源本身功耗较低,要为智能探针供电的同时,使噪音保持在极低的水平,是设计人员面临的两大棘手挑战。智能探针电源的设计人员必须在很小的体积内进行工作,他们不仅要使电源效率达到90%以上,且要让
2023-03-28 09:36:402082 Multi Link 探针(通过 SWD 连接)当我尝试启动调试器时,主图像加载正常,但当它尝试加载和启动从图像时出现以下错误:PE Micro 探针在调试模式下工作,评估板中内置的 J Link
2023-03-28 07:39:23
高频探针卡是芯片、晶圆测试中的重要工具,它可以将高频信号从芯片中提取出来并进行分析,是芯片、晶圆测试世界中的神器。
2023-03-27 14:41:431524 射频探针(RF Probe)是一种用于测量射频电路参数的测试工具。它通常由一个金属探头和一个接收器组成,金属探头用于接触被测对象,接收器用于测量电路参数。
2023-03-27 14:06:401442 大家好,我有一个基于 MPC885c PowerQUICK 处理器的项目。该处理器支持的 Codewarrior TAP 和 Probe 部件号是多少?我有基本单元 CWH-CTP-BASE-HE 和探针:CWH-CTP-COP-YE。这些与 MPC885 兼容吗?
2023-03-27 07:58:06
中图仪器SJ5730系列国产探针式轮廓仪是一款集成表面粗糙度和轮廓测量的高精度测量仪器,具有12mm-24mm的粗糙度轮廓一体式测量范围,分辨率达到0.1nm,因此非常适合测量大曲面高精密零部件
2023-03-24 15:51:56
评论
查看更多