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数据: Test Bus Controllers, JTAG TAP Masters With 16-Bit Generic Host Interfaces 数据表
'ACT8990测试总线控制器(TBC)是德州仪器SCOPE TM 可测性集成电路系列的成员。该系列元件支持IEEE标准1149.1-1990(JTAG)边界扫描,便于测试复杂的电路板组件。 'ACT8990与其他SCOPE TM 集成电路不同。它们的功能是控制JTAG串行测试总线,而不是目标边界可扫描设备。
JTAG串行测试总线所需的信号 - 测试时钟(TCK),测试模式选择(TMS),测试数据输入(TDI)和测试数据输出(TDO)可以从TBC到目标设备没有额外的逻辑。这是作为IEEE标准1149.1-1990边界可扫描组件的链完成的,它们共享相同的串行测试总线。 TBC为其目标生成TMS和TDI信号,从其目标接收TDO信号,并将其测试时钟输入(TCKI)缓冲到测试时钟输出(TCKO)以分发到其目标。 TMS,TDI和TDO信号可以直接或通过流水线连接到目标,重定时延迟高达31位。由于TBC可配置为生成多达六个独立的TMS信号[TMS(5-0)],因此可用于控制多达六个并行连接的目标扫描路径(即共享公共TCK,TDI和TDO信号)。
虽然TBC的大多数操作与TCKI同步,但是为目标接口的输出控制提供了测试关闭(TOFF \)输入,并且测试复位(TRST \)输入用于TBC的硬件/软件复位。另外,提供四个事件[EVENT(3-0)] I /O用于与目标设备的异步通信。每个事件都有自己的事件生成/检测逻辑,检测到的事件可以由两个16位计数器计数。
TBC通过5位地址总线在主机微处理器/微控制器的控制下运行[ADRS(4-0)]和16位读/写数据总线[DATA(15-0)]。实现读(RD \)和写(WR \)选通,使得关键主机接口时序独立于TCKI周期。可以寻址24个寄存器中的任何一个用于读取和/或写入操作。除控制和状态寄存器外,TBC还包含两个命令寄存器,一个读缓冲区和一个写缓冲区。 TBC的状态通过就绪(RDY \)和中断(INT \)输出传输到主机。
主机可以发出主要命令,使TBC生成移动所需的TMS序列目标从任何稳定的测试访问端口(TAP)控制器状态到任何其他稳定的TAP状态,执行Run-Test /Idle TAP状态的指令,或通过目标扫描指令或测试数据(s) )。可以预设一个32位计数器,以允许执行预定数量的执行或扫描操作。
在选定的TDI输入(TDI1或TDI0)上出现的串行数据被传输到读缓冲区,可以是由主机读取以获得最多16位的串行数据流。从TDO输出发送的串行数据由主机写入写缓冲区。
SN54ACT8990的特点是在-55°C的整个军用温度范围内工作至125°C。 SN74ACT8990的工作温度范围为0°C至70°C。
NC - 无内部连接
<小> SCOPE和EPIC是德州仪器公司的商标。
Technology Family |
VCC (Min) (V) |
VCC (Max) (V) |
Bits (#) |
ICC @ Nom Voltage (Max) (mA) |
tpd @ Nom Voltage (Max) (ns) |
IOL (Max) (mA) |
Input Type |
Output Type |
Rating |
Operating Temperature Range (C) |
SN54ACT8990 |
---|
ACT |
4.5 |
5.5 |
16 |
0.45 |
20 |
8 |
TTL |
CMOS |
Military |
-55 to 125 |
无样片 |