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SN74LV165A-EP 增强型产品并联负载 8 位移位寄存器

数据:

描述

SN74LV165A-EP是一款并行加载的8位移位寄存器,设计用于2 V至5.5 VV CC 操作。

当设备被计时时,数据被移向串行输出Q H 。每个阶段的并行访问由八个单独的直接数据输入提供,这些输入在移位/加载(SH / LD )输入时由低电平启用。 SN74LV165A-EP具有时钟抑制功能和补充串行输出,Q H

时钟由时钟从低到高的转换(CLK)完成当SH / LD 保持高电平且时钟禁止(CLK INH)保持低电平时输入。 CLK和CLK INH的功能是可以互换的。由于CLK INH的低CLK和低到高转换完成时钟,因此CLK INH应仅在CLK为高时改变为高电平。当SH / LD 保持高电平时,禁止并行加载。当SH / LD 保持低电平时,寄存器的并行输入被使能,与CLK,CLK INH或SER的电平无关。

< p>使用I off 为部分断电应用完全指定了该器件。 I off 电路禁用输出,防止电流断电时损坏电流回流。

特性

  • 受控基线
    • 一个装配/测试现场,一个制造现场
  • -55deg; C至125°C的扩展温度性能
  • 增强的减少制造源(DMS)支持
  • 增强产品更改通知
  • 资格认证谱系
  • 2-V至5.5-VV CC 操作
  • 最大t pd 10.5 ns,5 V
  • 支持所有端口的混合模式电压操作
  • I off 支持部分关机模式操作
  • 闩锁性能超过250 mA每JESD 17
  • ESD保护超过JESD 22
    • 2000-V人体模型(A114-A)
    • 200-V机器型号(A115-A) )
    • 1000 V充电设备型号(C101)

(1)符合JEDEC和行业标准的元件认证,确保在扩展温度范围内可靠运行。这包括但不限于高加速应力测试(HAST)或偏压85/85,温度循环,高压釜或无偏HAST,电迁移,键合金属间寿命和模塑化合物寿命。此类鉴定测试不应被视为超出规定的性能和环境限制使用此组件的合理性。

参数 与其它产品相比 触发器/锁存器/寄存器

 
Technology Family
VCC (Min) (V)
VCC (Max) (V)
Bits (#)
F @ Nom Voltage (Max) (Mhz)
ICC @ Nom Voltage (Max) (mA)
tpd @ Nom Voltage (Max) (ns)
Input Type
3-State Output
IOL (Max) (mA)
Output Type
Rating
Operating Temperature Range (C)
Package Group
Package Size: mm2:W x L (PKG)
SN74LV165A-EP
LV-A    
2    
5.5    
8    
70    
0.02    
26
16.9
13.5    
CMOS    
No    
50    
CMOS    
HiRel Enhanced Product    
-55 to 125    
TSSOP    
16TSSOP: 32 mm2: 6.4 x 5(TSSOP)    

技术文档

数据手册(1)
元器件购买 SN74LV165A-EP 相关库存