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SCANSTA112 7 端口多点 IEEE 1149.1 (JTAG) 多路复用器

数据:

描述

SCANSTA112扩展了IEEE标准。 1149.1测试总线进入多点测试总线环境。多点方法优于单个串行扫描链的优点是提高了测试吞吐量,并且能够从系统中移除板并保留对剩余模块的测试访问。每个SCANSTA112最多支持7个本地IEEE1149.1扫描链,可以单独访问或串行组合。

通过加载指令寄存器的值与Slot输入的值相匹配来完成寻址。通过Park指令将本地TAP控制器停放在一个稳定的TAP控制器状态中,可以轻松实现背板和板间测试。 32位TCK计数器可以在一个端口上执行内置自测操作,同时测试其他扫描链。

STA112的独特之处在于背板端口和LSP0端口是双向的。它们可以配置为交替充当主端口或从端口,以便备用测试主机可以从LSP0端口控制整个扫描链网络,同时背板端口成为从属端口。

特性

  • 真正的IEEE 1149.1分层和多点可寻址功能
  • 8个地址输入支持多达249个独特的插槽地址,一个询问地址,广播地址和4个多播组地址(地址000000保留)
  • 7 IEEE 1149.1兼容的可配置本地扫描端口
  • 双向背板和LSP 0 端口是可互换的从端口
  • 当背板端口成为从属端口时,能够忽略 TRST
  • Stitcher模式绕过级别1和2协议
  • 模式寄存器 0 允许本地TAP被旁路,选择用于单独插入扫描链或串行插入扫描链
  • 透明模式可通过单条指令启用,方便地将背板IEEE 1149.1引脚缓冲到单个本地扫描端口上的引脚
  • 通用本地端口通过位ar e用于为闪存编程或监控设备状态提供写脉冲。
  • 已知启动状态
  • TRST 所有本地扫描端口
  • 32位TCK计数器
  • 16位LFSR签名压缩器
  • 本地TAP可通过 OE 允许备用测试主机控制本地TAP的输入(LSP 0-3 具有TRI-STATE通知输出)
  • 3.0-3.6VV CC 供应操作
  • 支持实时插入/取出

所有商标均为他们各自的主人。

参数 与其它产品相比 其他接口

 
Operating Temperature Range (C)
Package Group
Package Size: mm2:W x L (PKG)
Pin/Package
SCANSTA112
-40 to 85    
NFBGA
TQFP    
100NFBGA: 100 mm2: 10 x 10(NFBGA)
100TQFP: 256 mm2: 16 x 16(TQFP)    
100NFBGA
100TQFP    

方框图 (2)

技术文档

数据手册(1)
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