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数据: SCANSTA112 7-Port Multidrop IEEE 1149.1 (JTAG) Multiplexer 数据表
SCANSTA112扩展了IEEE标准。 1149.1测试总线进入多点测试总线环境。多点方法优于单个串行扫描链的优点是提高了测试吞吐量,并且能够从系统中移除板并保留对剩余模块的测试访问。每个SCANSTA112最多支持7个本地IEEE1149.1扫描链,可以单独访问或串行组合。
通过加载指令寄存器的值与Slot输入的值相匹配来完成寻址。通过Park指令将本地TAP控制器停放在一个稳定的TAP控制器状态中,可以轻松实现背板和板间测试。 32位TCK计数器可以在一个端口上执行内置自测操作,同时测试其他扫描链。
STA112的独特之处在于背板端口和LSP0端口是双向的。它们可以配置为交替充当主端口或从端口,以便备用测试主机可以从LSP0端口控制整个扫描链网络,同时背板端口成为从属端口。
所有商标均为他们各自的主人。
Operating Temperature Range (C) |
Package Group |
Package Size: mm2:W x L (PKG) |
Pin/Package |
SCANSTA112 |
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-40 to 85 |
NFBGA TQFP |
100NFBGA: 100 mm2: 10 x 10(NFBGA) 100TQFP: 256 mm2: 16 x 16(TQFP) |
100NFBGA 100TQFP |