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数据: SCANSTA111 Enhanced SCAN Bridge Multidrop Addressable IEEE 1149.1 (JTAG) Port 数据表
SCANSTA111扩展了IEEE标准。 1149.1测试总线进入多点测试总线环境。多点方法优于单个串行扫描链的优点是提高了测试吞吐量,并且能够从系统中移除板并保留对剩余模块的测试访问。每个SCANSTA111最多支持3个本地IEEE 1149.1扫描环,可以单独访问或串行组合。通过向指令寄存器加载与Slot输入的值匹配的值来完成寻址。通过Park指令将本地TAP控制器停放在一个稳定的TAP控制器状态中,可以轻松实现背板和板间测试。 32位TCK计数器允许在一个端口上执行内置自测操作,同时测试其他扫描链。
所有商标均为其各自所有者的财产。
Operating Temperature Range (C) |
Package Group |
Package Size: mm2:W x L (PKG) |
Pin/Package |
SCANSTA111 |
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-40 to 85 |
NFBGA TSSOP |
49NFBGA: 49 mm2: 7 x 7(NFBGA) 48TSSOP: 101 mm2: 8.1 x 12.5(TSSOP) |
48TSSOP 49NFBGA |