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SCAN921224 具有 IEEE 1149.1 测试访问的 20 MHz-66MHz 10 位解串器

数据:

描述

SCAN921023将10位宽并行LVCMOS /LVTTL数据总线转换为带有嵌入式时钟的单个高速总线LVDS串行数据流。 SCAN921224接收总线LVDS串行数据流,并将其转换回10位宽的并行数据总线,并恢复并行时钟。这两款器件均符合IEEE 1149.1标准测试访问端口和边界扫描架构,并集成了定义的边界扫描测试逻辑和测试访问端口,包括测试数据输入(TDI),测试数据输出(TDO),测试模式选择( TMS),测试时钟(TCK)和可选的测试重置( TRST )。 IEEE 1149.1功能为设计人员或测试工程师提供了对背板或电缆互连的访问,以及验证差分信号完整性以增强其系统测试策略的能力。这对器件还具有高速BIST模式,可以快速验证串行器和解串器之间的互连。

SCAN921023通过背板或电缆传输数据。单差分对数据路径使PCB设计更容易。此外,减少的电缆,PCB走线数量和连接器尺寸极大地降低了成本。由于一个输出串行传输时钟和数据位,因此可以消除时钟到数据和数据到数据的偏移。当不使用任何一个器件时,掉电引脚通过降低电源电流来节省功耗。在串行器启动时,您可以选择激活同步模式或允许解串器使用同步到随机数据功能。通过使用同步模式,解串器将在指定的锁定时间内建立对信号的锁定。此外,嵌入式时钟确保每12位周期在总线上进行转换。这消除了由于充电电缆条件导致的传输错误。此外,您可以将SCAN921023输出引脚置于TRI-STATE以实现高阻态。 PLL可锁定20 MHz至66 MHz之间的频率。

特性

  • IEEE 1149.1(JTAG)兼容和全速BIST测试模式
  • 从PLL锁定到随机数据模式的时钟恢复
  • 确保每个数据传输周期的转换
  • 芯片组(Tx + Rx)功耗< 500 mW(典型值)@ 66 MHz
  • 单个差分对消除了多通道偏移
  • 流通引脚排列,便于PCB布局
  • 660 Mbps串行总线LVDS数据速率(66 MHz时钟)
  • 1字节Data Plus 2控制位的10位并行接口
  • 同步模式和LOCK指示灯
  • 可编程边沿触发时钟
  • 电源关闭时接收器输入的高阻抗
  • 27Ω负载的总线LVDS串行输出
  • 小型49引脚NFBGA封装

所有商标均为其各自所有者的财产。

参数 与其它产品相比 其他接口

 
Operating Temperature Range (C)
Package Group
Package Size: mm2:W x L (PKG)
Pin/Package
SCAN921224 SCAN921260
-40 to 85     -40 to 85    
NFBGA     NFBGA    
49NFBGA: 49 mm2: 7 x 7(NFBGA)     196NFBGA: 225 mm2: 15 x 15(NFBGA)    
49NFBGA     196NFBGA    

方框图 (1)

技术文档

数据手册(1)
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