SMV512K32-SP 16MB 防辐射 SRAM
数据:
16-Mb 抗辐射 SRAM 数据表 (Rev. I)
描述
SMV512K32是一款高性能异步CMOS SRAM,由32位524,288个字组成。可在两种模式:主控或受控间进行引脚选择。主设件为用户提供了定义的自主EDAC擦除选项。从器件选择采用按要求擦除特性,此特性可由一个主器件启动。根据用户需要,可提供3个读周期和4个写周期(描述如下)。
特性
- 20ns读取,13.8ns写入(最大存取时间)
- 与商用
512K x 32 SRAM器件功能兼容 - 内置EDAC(错误侦测和校正)以减轻软错误
- 用于自主校正的内置引擎
- CMOS兼容输入和输出电平,3态双向数据总线
- 辐射性能放射耐受性是一个基于最初器件标准的典型值。辐射数据和批量验收测试可用 - 细节请与厂家联系。
- 设计使用基底工程和抗辐射(HBD)与硅空间技术公司(SST)许可协议下的< sup> TM 技术和存储器设计。
- TID抗扰度&gt; 3e5rad(Si)
- SER&lt; 5e-17翻转/位 - 天使用(CRPLE96来计算用于与地同步轨道,太阳安静期的SER。 LET = 110 MeV
(T = 398K)
- 采用76引线陶瓷方形扁平封装
- 可提供工程评估(/EM)样品这些部件只用于工程评估。它们的加工工艺为非兼容流程(例如,无预烧过程等),并且只在25°C的温度额定值下进行测试。这些部件不适合于品质检定,生产,辐射测试或飞行使用。不担保完全军用额定温度
-55°C至125°C范围内或使用寿命内的部件性能。