光学轮廓仪测表面粗糙度
型号:
SuperView W1
市场中的国外白光干涉仪品牌价格昂贵,中图仪器SuperViewW1光学轮廓仪测表面粗糙度让轮廓测量价格更实惠,品质和售后有保障,更大的优势是软件方面。
SuperViewW1光学轮廓仪采用集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范围两大优点的扩展型相移算法EPSI,单一模式即可适用于从平面到弧面、超光滑到粗糙等各种表面类型,其独特的3D重建算法,自动滤除样品表面噪点,在硬件系统的配合测量精度可达亚纳米级别,让3D测量变得简单。
1、参数测量:粗糙度、围观轮廓尺寸、角度、面积、体积;
2、环境噪声检测:实时监测,纳米波动,也无可藏匿;
3、双重防撞保护:软件ZSTOP和Z向硬件传感器,让“以卵击石”也能安然无恙;
4、自动拼接:3轴光栅闭环反馈,让3D拼接“天衣无缝”;
5、双重振动隔离:气浮隔振,吸音隔振,任你“地动山摇,我自岿然不动”。
SuperViewW1光学轮廓仪分辨率0.1μm,重复性0.1%,应用领域广泛,操作简便,可自动聚焦测量工件获取2D,3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。适用于各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、孔隙间隙、弯曲变形情况、腐蚀情况、表面缺陷、台阶高度、波纹度、磨损情况、面形轮廓、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。