Tektronix/DSA8300/数字采样示波器
详细资料：
为挑战性的高速检定测试提供*秀的信号保真度
DSA8300系列提供了行业的<100 fs固有抖动，可以实现异常准确的器件检定，全面支持光通信、时域反射计和S参数。DSA8300数字采样示波器为155Mb/s - 100G的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。
Tektronix/DSA8300/数字采样示波器
主要特点 | 优点 |
电接口模块信号测量精度：
| <100 fs固有抖动，测试仪器占用的信号单位间隔一般<5%，可以检定高信息速率(40和100 (4´25) Gb/s)器件。70 GHz带宽可以全面检定高信息速率信号(五阶谐波，28 Gb/s数据速率；三阶谐波，> 45 Gb/s数据速率)。 |
在所有带宽下提供业内zui低的系统噪声：
| 在采集高信息速率、低幅度信号时zui大限度地降低仪器噪声数量，消除额外噪声，这些噪声本身可能表现为额外的抖动和眼图闭合。 |
| 在一台主机中zui多6通道同时采集数据，<100 fs抖动 | 对多条差分通道进行高保真采集，可以测试跨通道损伤，改善拥有多条高速串行通道的系统的测试吞吐量。 |
| 光接口模块支持40 Gb/s和100 Gb/s (4x25)以太网光接口*性测试 | 为40 Gb和100 Gb (4x25), IEEE 802.ba以太网标准提供经济的通用光接口测试系统。 |
| 杰出的采集吞吐量，zui大采样率高达300 kS/s | 杰出的系统吞吐量，把制造或器件检定测试时间降低4倍。 |
| 能够让采样器紧邻被测器件(DUT) | 远程采样头，zui大限度地降低由于DUT到仪器的布线和夹具引起的信号劣化，简化测试系统反嵌。 |
| 独立校正校准后的通道偏移 | 双通道模块集成校准后通道偏移校正功能，消除偏移校正，增强多通道测量的信号保真度。
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