Microsemi 53100A 相位噪声和艾伦偏差测试仪

Microchip 53100A相位噪声分析仪 概述 53100A相位噪声分析仪可以测量**RF信号源的幅度、相位和频率稳定性。测试频率范围为1MHz到200MHz。53100A可以告诉您关于您被测设备的任何稳定性特性，时间刻度范围可以从飞秒到天。无论是单独使用还是集成到自动化测试系统中，小巧的外形和业界良好的测量速度使得51300A可以适用于大多数应用。 继承并扩展了3120A和51XXA系列仪器的优点，53100A可以以*低的成本来****地测量SSB单边带相位噪声和ADEV阿伦反差。得益于改进地设计和制造工艺进步，53100A在可靠性和性能上有了巨大地提升。 特点 信号输入和参考输入，频率范围1MHz到200MHz 没有相位锁定和不需要测量校准 单或双参考振荡器输入允许互相关测量 TSC 51XXA命令和数据流仿真功能减少了重写现有测试脚本的负担 直观的图形界面使用户能够**开始测量 测量 亚皮秒精度相位和频率差的实时带状图 **频率计数精度每秒钟13位以上，可到17位 ADEV典型值<5E-14（1秒） 可以测量MDEV、HDEV、TDEV 相位噪声和幅度噪声偏移范围为0.001Hz到1MHz，水平典型小于-175dBc/Hz（10MHz载波） 时间抖动、残余FM调频和SSB载波/噪声比率 在Windows系统上使用**的基于电脑的DSP技术，所有这些测量都可以同时进行。您可以查看、保存、比较、打印和导出各种格式数据，包括TSC 51XXA兼容的。测量精度取决于用户提供的外部参考源，参考源频率为1MHz到200MHz，仪器本身不需要校准。 规格（25℃环境），除非备注其他温度 性能 频率范围 1到200MHz ADEV <7E-14 (1秒) <5E-16(1000秒) 相位噪声规格 偏移频率范围：0.001Hz到1MHz