具有 TLL 兼容 CMOS 输入和三态输出寄存器的汽车类 8 位移位寄存器
| Configuration | Serial-in, Parallel-out |
| Bits (#) | 8 |
| Technology Family | HCT |
| Supply voltage (Min) (V) | 4.5 |
| Supply voltage (Max) (V) | 5.5 |
| Input type | TTL-Compatible CMOS |
| Output type | 3-State |
| Clock Frequency (MHz) | 25 |
| IOL (Max) (mA) | 6 |
| IOH (Max) (mA) | -6 |
| ICC (Max) (uA) | 80 |
| Features | Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode, Output register |
- 符合面向汽车应用的 AEC-Q100 标准：
- 器件温度等级 1：
- –40°C 至 +125°C，TA
- 器件 HBM ESD 分类等级 2
- 器件 CDM ESD 分类等级 C6
- 器件温度等级 1：
- 兼容 LSTTL 输入逻辑
- VIL(max) = 0.8V，VIH(min) = 2V
- 兼容 CMOS 输入逻辑
- 在电压为 VOL、VOH 时，II ≤ 1μA
- 工作电压为 4.5 V 至 5.5 V
- 支持多达 10 个 LSTTL 负载的扇出
- 移位寄存器具有直接清零功能
SN74HCT595-Q1 器件包含对 8 位 D 类存储寄存器进行馈送的 8 位串行输入、并行输出移位寄存器。存储寄存器具有并行 三态输出。移位寄存器和存储寄存器分别有单独的时钟。移位寄存器具有一个直接覆盖清零 (SRCLR) 的串行 (SER) 输入和一个串行输出 (QH?)，以用于级联。当输出使能端 (OE) 输入为高电平时，存储寄存器输出处于高阻抗状态。内部寄存器数据和串行输出 (QH?) 不受 OE 端输入的影响。
