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主要特性与技术指标本精度本精度 +/-0.8%扫描参数频率：1 MHz 至 3 GHz振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArmsDC 偏置电平（选件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA更多特性Windows 风格的用户界面内置 VBA 编程功能通过 LAN 接口进行数据传输多功能测量选件介电/磁性材料测量（选件 E4991A-002）可靠的晶圆测量（选件 E4991A-010）温度特性测量（选件 E4991A-007）描述E4991A 射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设
计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A
使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。本阻抗精度是
+/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1
mHz的分辨率。材料评估E4991A 提供完整的介电/磁性材料测量解决方案，涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。E4991A 射频阻抗/材料分析仪主要特性与技术指标本精度本精度 +/-0.8%扫描参数频率：1 MHz 至 3 GHz振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArmsDC 偏置电平（选件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA更多特性Windows 风格的用户界面内置 VBA 编程功能通过 LAN 接口进行数据传输多功能测量选件介电/磁性材料测量（选件 E4991A-002）可靠的晶圆测量（选件 E4991A-010）温度特性测量（选件 E4991A-007）描述E4991A 射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设
计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A
使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。本阻抗精度是
+/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1
mHz的分辨率。
材料评估E4991A 提供完整的介电/磁性材料测量解决方案，涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。
晶圆测量借助E4991A-010 探针台连接套件，您可轻松地地将 keysight E4991A 连接到射频探头系统（由
Cascade microtech 提供）上进行晶圆测量。
温度特性评估温度特性测试套件 E4991A-007 是一款为元器件和材料进行温度特性测量的新型解决方案。该选件可在
- 55°C 至 + 150°C 广泛的温度范围内提供高精度的温度特性分析功能，以及强大的温度漂移补偿功能。
