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--- 产品详情 ---
受到产品材质、颜色、加工工艺等综合因素影响,传统影像测量技术普遍面临着产品棱边看不清、测量过程中存在误抓取现象,直接影响产品测量数据的准确性和稳定性。
Novator系列2次元影像仪测量仪通过独立的升降表光,改变光源不同的照射角度,自行可更换的不同RGB表光颜色,来面对客户端不同颜色、材质的产品, “看得清 测得准"的理念大大提高了设备解决现场实际问题的能力。


产品优势
稳固移动平台、高测量精度
1.精密大理石机台,稳定性好,精度高。
2.精密线性滑轨和伺服控制系统,超低分贝静音级运动。
3.三轴全自动可编程检测,实现复杂特征批量检测。
激光扫描成像、3D复合测量
1.支持点激光轮廓扫描测量,进行高度方向上的轮廓测量。
2.支持线激光3D扫描成像,可实现3D扫描成像和空间测量。
3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量,无缝连接2D/3D混合测量。
频闪照明光源、高速硬件飞拍
1.具备频闪照明光源,支持频闪和普通双模式。
2.支持飞拍模式测量,测量效率提升5~10倍。
3.Novator系列2次元影像仪测量仪融入中图闪测仪的拼接测量功能,发挥综合优势。
可更换RGB表光、独立升降表光
1.可更换RGB表光和白色表光,适应多种复杂颜色和材料表面。
2.表光可独立升降,更好的观察样品表面。
3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。
自动测量,批量更快
1.程序匹配工件坐标系,自动执行测量流程。
2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入,坐标系匹配测量。
3、CNC固定坐标系模式下,可快速精确地进行批量测量。
操作简单,轻松无忧
1.具备大幅面导航相机,快速实现工件定位。
2.具有镜头防撞功能,轻松无忧。
3.一体化操作界面,任何人都能轻松设定和测量。

技术规格
型号 | Novator562 | |
行程范围 | X(mm) | 500 |
Y(mm) | 6000 | |
Z(mm) | 200 | |
结构形式 | 移动桥式 | |
图像传感器 | 高清彩色工业摄像机 | |
光栅显示分辨率 | 0.1μm | |
镜头 | 13.3X电动连续变倍 | |
放大倍率 | 光学放大:0.6~8.0X,影像放大:17~232X | |
检测精度 | X/Y轴 | ±(1.8+L/200)μm |
X⊥Y轴 | ±(2.5+L/200)μm | |
Z轴 | (2.8+L/200)μm | |
3D扫描成像测量 | Z向测量范围 | 5mm |
扫描宽度 | 30mm | |
重复精度 | ±1μm | |
测量精度 | ±0.1%F.S. | |
扫描速度 | 10~80mm/s | |
支持飞拍测量模式 | 支持 | |
支持导航相机 | 支持 | |
传感器配置 | 选配,(1)接触式探针;(2)白光共焦;(3)三角激光 | |
外形尺寸(mm) | 1050×1520×1700 | |
仪器重量(kg) | 1000 |
测量功能
1.量测工具:扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。
2.可测几何量: 点、线、圆(圆心坐标、半径、直径)、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。
3.构建特征:交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。
4.形位公差:直线度、圆度、轮廓度、位置度、平行度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。
5.坐标系:仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系;图像配准坐标系;可平移、旋转、手工调整坐标系。
6.快速工具:R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。
7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。
Novator系列2次元影像仪测量仪系统融入闪测拼接技术,实现了同一测量模板,影像+闪测测量同时进行。且在镜头端搭载着高清广角镜头,能够清晰地观察到产品整体形状,支持实时图像与图片两种成像导航方式,能够更好地帮助初学者实时观察到整个样品,实现产品快速定位、精准测量,提高测量效率。

影像仪产品搭载着高精度光学电动变倍镜头,不但能将微小的产品特征看清,还能满足高精度的产品尺寸测量。但对于初学者来说会面临到图像视场小、难快速定位到所需产品特征上的难题,从而影响产品测量效率。Novator系列全景导航功能快速定位产品特征,解决了这一难题。
应用领域
可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、钟表、计量检测等领域,实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。
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