CHOTEST中图仪器SJ5730粗糙度轮廓测量仪一体机具有12mm-24mm的粗糙度轮廓一体式测量范围，分辨率达到0.1nm，一次测量可同时评定粗糙度及轮廓参数，分析评定R参数、P参数、W参数等微观粗糙度参数及倒角、R角、直线度、位置尺寸、角度的宏观轮廓参数。适合测量大曲面高精密零部件的轮廓参数测量，同时具备球面、弧面、非球面轮廓参数评价功能，能够满足各种高精密轮廓粗糙度加工行业的测量需求。
SJ5730粗糙度轮廓测量仪一体机同时可广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业。该仪器可以对零件表面的轮廓度、波纹度、粗糙度实现一次扫描测量，尤其是大范围曲面、斜面进行粗糙度检测，如圆弧面和球面、异型曲面进行多种粗糙度参数、微观轮廓度参数的测量。同时仪器还可对各种精密零件轮廓度、波纹度进行测量，对形状参数进行分析。是大曲面测量（轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、光学镜片）领域精细粗糙度测量的利器。
产品功能
1.SJ5730粗糙度轮廓测量仪一体机一次测量可同时评定粗糙度及轮廓参数，分析评定R参数、P参数、W参数等微观粗糙度参数及倒角、R角、直线度、位置尺寸、角度的宏观轮廓参数；
2.表面粗糙度评定： R参数、P参数、W参数、核心粗糙度Rcore、Motif等微观粗糙度参数评定；
3.圆球类零件轮廓及粗糙度参数测量评定；
4.表面轮廓评定：评定任何点/线间距、两线夹角、圆弧半径、直径等几何量尺寸参量，并可对轮廓进行直线度、圆度、轮廓度、平行度、位置度、垂直度等分析，重新分析和测量的操作简洁高效；
5.尺寸标注：半径、两圆中心距离、X/Z尺寸、斜边、两线夹角、直线相交、直线与圆弧相交、圆弧与圆弧相交、尺寸标注线大小修改、线偏移、局部轮廓放大和调平等；
6.测量记录采用集中式数据库管理，可按被测件类型、生产单位、出厂编号、检测员、送检单位、设备编号、检定日期和有效日期等查询和管理测量记录；
7.输出多种格式报表(.doc，.docx，.xlsx，.pdf)，并支持自定义报表，定制测量记录报表，可批量打印记录表，具有数据备份和还原数据库功能；
8.具备自动找拐点功能，能按照程序设置进行X轴自动找拐点；
9.成熟简单的标定，仪器自带高精度组合标定台，可对仪器的精度和测针磨损进行精确补偿；
10.可进行DXF（CAD）格式图纸导入，进行理论图纸与测量结果比对分析，可提供直观图形对比；
11.可导出坐标点数据（.TXT）等格式，可读取到Excel或者CAD软件内进行数据分析及标准轮廓比对；
12.可对多次测量的轮廓曲线匹配后进行分析测量重复性。
高精度、高稳定性、高重复性：满足被测件测量精度要求
1)系统扫描轴采用特殊的超高耐磨材质复合材质摩擦片，耐磨性能优良，稳定性高，能保障系统长时间的稳定的直线度精度；
2)高精度转轴采用特殊的高刚性、低惯量、超低摩擦系数的红宝石转轴系统，确保了转动的超高灵敏度及测量精度；
3)超高稳定的驱动设计，确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰，保障了系统扫描运动精度；
4)高精度的纳米级光学转轴测量系统，保障了仪器超高的分辨率及全程纳米级粗糙度测量精度；
5)一体式拔插式碳纤维测杆、高刚性、低惯量，一键拔插，特殊设计的高刚性拔插结构，无需锁螺钉，方便快捷、稳定可靠；
技术参数
| 型号 | SJ5730-100 | ||
轮廓参数 |
测量范围 | X轴 | 0~100mm |
| 立柱轴 | 0~300mm | ||
| Z轴 | ±6mm（标准测杆）（±12mm：两倍标准测杆） | ||
| 分辨率 | X轴：10nm，Z轴：1nm、0.1nm | ||
测量精度 | 角度精度 | ≤0.5’ *备注：精度验证以测量多面棱体角度为准 | |
| Z轴轮廓精度 | ≤±（0.5+0.03Z）μm（H，mm） | ||
| 标准圆弧Pt精度 | Pt≤0.4μm *备注：25mm以下标准球Pt测试 | ||
| 标准球测量误差 | ≤±1μm（R≤10mm），≤±（0.17+R/12）μm（10 *备注：精度验证以测量标准球弧度超过90度为准 | ||
| 移动速度 | X轴 | 0~20mm/s | |
| 立柱轴 | 0~20mm/s | ||
扫描速度（扫描轴） | 0.05～5mm/s | ||
| 直线度（扫描轴） | ≤（0.05+1.5L/1000）μm *备注：≤0.2μm/100mm | ||
| 测量力 | 0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN（电子档位可调） | ||
粗糙度参数 | 适用Ra测量范围 | Ra0.012μm~Ra12.5μm（可选更大范围） | |
| 示值误差 | Ra： ≤±(3nm+2.0%A)（A：测量Ra标称值） | ||
| 重复性(1δ) | 1δ≤1nm *备注：0.1-0.2μm方波粗糙度样块、标准台阶块测试 | ||
| 残值噪声 | Rq≤2nm *备注：1纳米级粗糙度样块、平晶测试 | ||
粗糙度测量参数 | R粗糙度： Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ； Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr； 核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo； P轮廓参数： Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax； W波纹度轮廓参数： Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc； Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte； 符合标准： GB/T3505-2009,ISO4287:1997,ISO 13565-2:1996,ASME B46.1-2002, DIN/EN/ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994JIS B 0601-1982, ISO 1302:2002； | ||
| 滤波器 | 高斯滤波器、2RC滤波器，相位修正滤波器 | ||
| 滤波长度 | 0.08、0.25、0.8、2.5、8.0、25mm可选 | ||
| 滤波长度 | λc×3、4、5、6、7、8可选 | ||
仪器尺寸（长×宽×高） | 600×350×850（mm） | ||
| 仪器总重量 | 约95Kg | ||
环境条件
温度：20±5℃；
相对湿度：10%~80%；
电源/功率：220V，50Hz，≤1.5KW（含电脑及显示器）；
振动：按照三坐标振动要求标准，振动速度均方根≤5um/s，振动频率8~100Hz；
校准室内应无影响测量的灰尘、震动、噪音、气流、腐蚀性气体和较强磁场；
