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广电计量

广电计量一家全国化、综合性的国有第三方检测机构。专注于为客户提供计量、检测、认证以及技术咨询与培训等专业技术服务。

225 内容数 18w+ 浏览量 19 粉丝

MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析功

失效分析
型号： 率器件失效根因分析
品牌： GRGTEST(广电计量)

--- 产品参数 ---

  • 服务区域 全国
  • 服务资质 CNAS认可
  • 加急服务 可提供
  • 报告类型 中英文电子/纸质报告

--- 产品详情 ---

基本介绍

功率器件可靠性是器件厂商和应用方除性能参数外最为关注的，也是特性参数测试无法评估的，失效分析则是分析器件封装缺陷、提升器件封装水平和应用可靠性的基础。广电计量拥有业界领先的专家团队及先进的失效分析设备，专注功率器件失效根因分析，可为客户提供完整的失效根因分析服务。

服务范围

MOSFET、IGBT、DIODE、BJT，第三代半导体器件等分立器件，以及上述元件构成的功率模块

检测标准

  GJB548B-2005微电子器件试验⽅法和程序

  QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求

检测项目

试验类型

试验项⽬

⽆损分析

X 射线透视、声学扫描显微镜、⾦相显微镜

电特性/电性定位分析

电参数测试、IV&CV 曲线量测、ESD、Photon Emission、OBIRCH、ATE 测试与三温(常温/低温/高温) 验证

破坏性分析

开封、去层、切片、芯片级切片、推拉力测试

微观显微分析

DB FIB切片截⾯分析、FESEM 检查、EDS微区元素分析、扫描电镜、透射电镜

相关资质

CNAS

服务背景

国内功率器件厂商迎来了空前的发展机会。在成长中厂商迫切希望减少或消除产品失效，并在设计、⼯艺和产品研发、量产、可靠性测试、封装等阶段进⾏改进，以迅速占领市场。

我们的优势

广电计量拥有业界领先的专家团队及先进的失效分析设备，专注功率器件失效根因分析，可为客户提供完整的失效根因分析服务，针对产品的研发设计、来料检验、加⼯组装、测试筛选、客户端使用等各个环节，为客户提供失效分析咨询、协助客户开展设计规划、以及分析测试服务。

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