资料介绍
ANALOG PERIPHERALS
- 10-bit ADC
! ?1LSB INL
! Programmable Throughput up to 100ksps
! 8 External Inputs; Programmable as Single-Ended or
Differential
! Programmable Amplifier Gain: 16, 8, 4, 2, 1, 0.5
! Data Dependent Windowed Interrupt Generator
! Built-in Temperature Sensor (? 3?C)
- 8-bit ADC
! Programmable Throughput up to 500ksps
! 8 External Inputs
! Programmable Amplifier Gain: 4, 2, 1, 0.5
- Two 12-bit DACs
! Can Synchronize Outputs to Timers for Jitter-Free Waveform
Generation
- Two Comparators
- Internal Voltage Reference
- Precision VDD Monitor/Brown-out Detector
ON-CHIP JTAG DEBUG & BOUNDRY SCAN
- On-Chip Debug Circuitry Facilitates Full Speed, Non-Intrusive In-
System Debug (No Emulator Required!)
- Provides Breakpoints, Single Stepping, Watchpoints, Stack Monitor
- Inspect/Modify Memory and Registers
- Superior Performance to Emulation Systems Using ICE-Chips,
Target Pods, and Sockets
- IEEE1149.1 Compliant Boundary Scan
- Low Cost, Complete Development Kit: $129
- 10-bit ADC
! ?1LSB INL
! Programmable Throughput up to 100ksps
! 8 External Inputs; Programmable as Single-Ended or
Differential
! Programmable Amplifier Gain: 16, 8, 4, 2, 1, 0.5
! Data Dependent Windowed Interrupt Generator
! Built-in Temperature Sensor (? 3?C)
- 8-bit ADC
! Programmable Throughput up to 500ksps
! 8 External Inputs
! Programmable Amplifier Gain: 4, 2, 1, 0.5
- Two 12-bit DACs
! Can Synchronize Outputs to Timers for Jitter-Free Waveform
Generation
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ON-CHIP JTAG DEBUG & BOUNDRY SCAN
- On-Chip Debug Circuitry Facilitates Full Speed, Non-Intrusive In-
System Debug (No Emulator Required!)
- Provides Breakpoints, Single Stepping, Watchpoints, Stack Monitor
- Inspect/Modify Memory and Registers
- Superior Performance to Emulation Systems Using ICE-Chips,
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