资料介绍
Features
• 3 Micron Radiation Hardened SOS CMOS
• Total Dose 200K RAD (Si)
• SEP Effective LET No Upsets: >100 MEV-cm2/mg
• Single Event Upset (SEU) Immunity < 2 x 10-9 Errors/Bit-Day
(Typ)
• Dose Rate Survivability: >1 x 1012 RAD (Si)/s
• Dose Rate Upset: >1010 RAD (Si)/s 20ns Pulse
• Latch-Up Free Under Any Conditions
• Fanout (Over Temperature Range)
-Standard Outputs: 10 LSTTL Loads
-Bus Driver Outputs: 15 LSTTL Loads
• Military Temperature Range: -55oC to +125oC
• Significant Power Reduction Compared to LSTTL ICs
• DC Operating Voltage Range: 4.5V to 5.5V
• Input Logic Levels
-VIL = 30% of VCC Max
-VIH = 70% of VCC Min
• Input Current Levels Ii ≤ 5μA @ VOL, VOH
• 3 Micron Radiation Hardened SOS CMOS
• Total Dose 200K RAD (Si)
• SEP Effective LET No Upsets: >100 MEV-cm2/mg
• Single Event Upset (SEU) Immunity < 2 x 10-9 Errors/Bit-Day
(Typ)
• Dose Rate Survivability: >1 x 1012 RAD (Si)/s
• Dose Rate Upset: >1010 RAD (Si)/s 20ns Pulse
• Latch-Up Free Under Any Conditions
• Fanout (Over Temperature Range)
-Standard Outputs: 10 LSTTL Loads
-Bus Driver Outputs: 15 LSTTL Loads
• Military Temperature Range: -55oC to +125oC
• Significant Power Reduction Compared to LSTTL ICs
• DC Operating Voltage Range: 4.5V to 5.5V
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