资料介绍
The 'LVT18512 and 'LVT182512 scan test devices with 18-bit universal bus transceivers are members of the Texas Instruments SCOPETM testability integrated-circuit family. This family of devices supports IEEE Std 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit-board assemblies. Scan access to the test circuitry is accomplished via the 4-wire test access port (TAP) interface.
Additionally, these devices are designed specifically for low-voltage (3.3-V) VCC operation, but with the capability to provide a TTL interface to a 5-V system environment.
In the normal mode, these devices are 18-bit universal bus transceivers that combine D-type latches and D-type flip-flops to allow data flow in transparent, latched, or clocked modes.
- SN54LVT16501,SN74LVT16501通用总线收发器数据表
- SN54LVT18512,SN54LVT182512,SN74LVT18512,SN74LVT182512数据表
- 3.3V ABT16位总线收发器和寄存器SN54LVT16646 SN74LVT16646数据表
- 3.3伏ABT 16位缓冲器/驱动器SN54LVT162244A SN74LVT162244A数据表
- SN54LVT8996, SN74LVT8996,pdf(3
- SN54LVT8986,SN74LVT8986,pdf(3.
- SN54LVT8980A,SN74LVT8980A,PDF(
- SN54LVT162245A, SN74LVT162245A
- SN54LVT16952,SN74LVT16952,pdf(
- SN54LVT16646, SN74LVT16646,PDF
- SN54LVT16543,SN74LVT16543,pdf(
- SN54LVT16244B, SN74LVT16244B,p
- SN54LVT16240, SN74LVT16240,pdf
- SN54LVT162240,SN74LVT162240,pd
- SN74LVT16245 pdf,SN74LVT16245A
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