资料介绍
EOS是英文Electrical Over Stress的首字母缩写,其意为电气过应力 ,意思就是有过高的电压和/或电流信号加到了受试对象上,它受不了了,被损坏了,所以说“过”了。
要生成EOS可以有三种方法:高电压,大电流,高电压+大电流,其实ESD事件只是EOS的其中一种短时间的高压,所以针对EOS,必须要考虑更大的电流和持续时间。
我们的手机的充电环境越来越复杂,有车充,有太阳能充电器,有墙充,山寨充电、快充等,脆弱的手机必须承受各类充电器的。 而更多手机因为充电回路的过压过流造成PMU,或者充电IC的损伤,形成故障。
欠发达国家,例如印度和非洲已经是EOS事件的重灾区,这些都是电网在落后地区更不稳定的原因。所以手机方案公司都已经针对EOS 提供可靠的解决方案了。
雷卯电子根据华为、OPPO等客户的需求,研发了可靠的多种解决方案,供大家参考下目前EOS的解决方案。
EOS测试需求指标:
国内目前标准里还没有具体的过压测试的指标,但是涉及出口的产品,都会提出相关的需求,从2015年的过压浪涌300V,到目前已经有客户需要测试500V。都显示了客户对过压可靠性的高要求。
过压保护其实很简单,但是在手机中确实有难点,难点在哪儿,在于手机的空间有限,我们必须设计出足够大的芯片,封装在足够小的体积中。
![快充EOS应对方案解析](/uploads/allimg/171108/2755807-1G10Q13IR16.png)
![快充EOS应对方案解析](/uploads/allimg/171108/2755807-1G10Q13J5T5.png)
以上组合方案用到三颗料特点介绍下:
PSMFJ24CA 是SOD-123FL封装的大功率TVS芯片,功率可以达到5000W,经过测试可以满足250A,箝位电压30V的性能要求,初级保护根据终端要求,可以选择7V和12V产品。
要生成EOS可以有三种方法:高电压,大电流,高电压+大电流,其实ESD事件只是EOS的其中一种短时间的高压,所以针对EOS,必须要考虑更大的电流和持续时间。
我们的手机的充电环境越来越复杂,有车充,有太阳能充电器,有墙充,山寨充电、快充等,脆弱的手机必须承受各类充电器的。 而更多手机因为充电回路的过压过流造成PMU,或者充电IC的损伤,形成故障。
欠发达国家,例如印度和非洲已经是EOS事件的重灾区,这些都是电网在落后地区更不稳定的原因。所以手机方案公司都已经针对EOS 提供可靠的解决方案了。
雷卯电子根据华为、OPPO等客户的需求,研发了可靠的多种解决方案,供大家参考下目前EOS的解决方案。
EOS测试需求指标:
国内目前标准里还没有具体的过压测试的指标,但是涉及出口的产品,都会提出相关的需求,从2015年的过压浪涌300V,到目前已经有客户需要测试500V。都显示了客户对过压可靠性的高要求。
过压保护其实很简单,但是在手机中确实有难点,难点在哪儿,在于手机的空间有限,我们必须设计出足够大的芯片,封装在足够小的体积中。
![快充EOS应对方案解析](/uploads/allimg/171108/2755807-1G10Q13IR16.png)
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以上组合方案用到三颗料特点介绍下:
PSMFJ24CA 是SOD-123FL封装的大功率TVS芯片,功率可以达到5000W,经过测试可以满足250A,箝位电压30V的性能要求,初级保护根据终端要求,可以选择7V和12V产品。
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