C8051F120和C8051F130系列混合信号ISP FLASH微控制器的数据手册

　　C8051F12x 和 C8051F13x 系列器件是完全集成的混合信号片上系统型 MCU 芯片，具有 64 个数字 I/O 引脚（100 脚 TQFP 封装）或 32 个数字 I/O 引脚（64 脚 TQFP 封装）。下面列出了一些主要特性；有关某一产品的具体特性参见表 1.1。

　　高速、流水线结构的 8051 兼容的 CIP-51 内核（100MIPS 或 50MIPS）

　　全速、非侵入式的在系统调试接口（片内）

　　真正 12 位或 10 位、100 ksps 的 ADC，带 PGA 和 8 通道模拟多路开关

　　真正 8 位 500 ksps 的 ADC，带 PGA 和 8 通道模拟多路开关（仅 C8051F12x）

　　两个 12 位 DAC，具有可编程数据更新方式（仅 C8051F12x）

　　2 周期的 16 x 16 乘法和累加引擎（仅 C8051F120/1/2/3 和 C8051F130/1/2/3）

　　128KK 或 64KB 可在系统编程的 FLASH 存储器

　　8448（8K+256）字节的片内 RAM

　　可寻址 64KB 地址空间的外部数据存储器接口

　　硬件实现的 SPI、SMBus/ I2和两个 UART 串行接口

　　5 个通用的 16 位定时器

　　具有 6 个捕捉/比较模块的可编程计数器/定时器阵列

　　片内看门狗定时器、VDD 监视器和温度传感器

　　具有片内 VDD 监视器、看门狗定时器和时钟振荡器的 C8051F12x 和 C8051F13x 器件是真正能独立工作的片上系统。所有模拟和数字外设均可由用户固件使能/禁止和配置。FLASH 存储器还具有在系统重新编程能力，可用于非易失性数据存储，并允许现场更新 8051 固件。

　　片内 JTAG 调试电路允许使用安装在最终应用系统上的产品 MCU 进行非侵入式（不占用片内资源）、全速、在系统调试。该调试系统支持观察和修改存储器和寄存器，支持断点、观察点、单步及运行和停机命令。在使用 JTAG 调试时，所有的模拟和数字外设都可全功能运行。

　　每个 MCU 都可在工业温度范围（-45℃到+85℃）工作。端口 I/O、/RST 和 JTAG 引脚都容许 5V 的输入信号电压。有 100 脚 TQFP 封装和 64 脚 TQFP 封装。表 1.1 列出了每个器件的特性和封装。图 1.1 ~ 图 1.6 给出了每种器件的功能框图。