资料介绍
The HI5808EVAL1 evaluation board is made available to
allow the circuit designer the ability to evaluate the
performance of the Intersil HI5808 monolithic 12-bit,
10MSPS analog-to-digital converter (ADC). As shown in the
Evaluation Board Functional Block Diagram, this evaluation
board includes sample clock generation circuitry, a singleended
to differential analog input amplifier configuration and
digital data output latches/buffers. The buffered digital data
outputs are conveniently provided for easy interfacing to a
ribbon connector or logic probes. In addition, the evaluation
board is provided with some prototyping area for the addition
of user designed custom interfaces or circuits.
The sample clock generator circuit accepts the external
sampling signal through an SMA type RF connector, J2. This
input is AC-coupled and terminated in 50W allowing for
connection to most laboratory signal generators. In addition,
allow the circuit designer the ability to evaluate the
performance of the Intersil HI5808 monolithic 12-bit,
10MSPS analog-to-digital converter (ADC). As shown in the
Evaluation Board Functional Block Diagram, this evaluation
board includes sample clock generation circuitry, a singleended
to differential analog input amplifier configuration and
digital data output latches/buffers. The buffered digital data
outputs are conveniently provided for easy interfacing to a
ribbon connector or logic probes. In addition, the evaluation
board is provided with some prototyping area for the addition
of user designed custom interfaces or circuits.
The sample clock generator circuit accepts the external
sampling signal through an SMA type RF connector, J2. This
input is AC-coupled and terminated in 50W allowing for
connection to most laboratory signal generators. In addition,
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