PLL相关的两个关键技术规格详细说明

2512832 2020-12-03 | pdf | 0.26 MB | 次下载 | 3积分

资料介绍

　　我们将侧重于详细考察与 PLL 相关的两个关键技术规格：相位噪声和参考杂散。导致相位噪声和参考杂散的原因是什么，如何将其影响降至最低？讨论将涉及测量技术以及这些误差对系统性能的影响。我们还将考虑输出漏电流，举例说明其在开环调制方案中的重要意义。

　　振荡器系统中的噪声

　　在任何振荡器设计中，频率稳定性都至关重要。我们需要考虑长期和短期稳定性。长期频率稳定性是关于输出信号在较长时间（几小时、几天或几个月）内的变化情况。其通常以一定时间内的比率 f/f 来规定，单位为百分比或 dB。

　　信号源中的已知时钟频率、电力线干扰和混频器产品都可能引起离散杂散成分。随机噪声波动引起的扩张是相位噪声造成的。其可能是有源和无源器件中的热噪声、散粒噪声和 / 或闪烁噪声造成的。

　　电压控制振荡器中的相位噪声

　　在考察 PLL 系统中的相位噪声之前，我们先看看电压控制振荡器（VCO）中的相位噪声。理想的 VCO 应该没有相位噪声。在频谱分析仪上看到的输出应是一条谱线。当然，事实并非如此。输出上会有抖动，频谱分析仪会显示出相位噪声。为了便于理解相位噪声，请考虑一种相量表示方式，如图 2 所示。

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