资料介绍
电子设备测试的复杂性差异很大,从最简单的类型(手动测试)到最复杂的类型(大型自动测试设备 (ATE))。手动测试通常需要 DVM、示波器和其他以特定配置设置的设备。当待测设备类型发生变化时,通常需要更换测试硬件。另一方面,ATE 测试仪提供了极大的灵活性,允许在不更改测试硬件的情况下测试许多不同类型的设备。软件更改会重新配置此类测试仪以适应不同类型的设备。除了该设备提供的多功能性之外,它还可以进行非常复杂的电子测试,但价格昂贵:这些测试仪的成本可能超过一百万美元。电子设备测试的复杂性差异很大,从最简单的类型(手动测试)到最复杂的类型(大型自动测试设备 (ATE))。手动测试通常需要 DVM、示波器和其他以特定配置设置的设备。当待测设备类型发生变化时,通常需要更换测试硬件。另一方面,ATE 测试仪提供了极大的灵活性,允许在不更改测试硬件的情况下测试许多不同类型的设备。软件更改会重新配置此类测试仪以适应不同类型的设备。除了该设备提供的多功能性之外,它还可以进行非常复杂的电子测试,但价格昂贵:这些测试仪的成本可能超过一百万美元。介于简单手动测试和大规模 ATE 之间的是低预算和中等规模的测试,这是本文的重点。这些类型的测试系统通常专门用于在个人计算机的控制下测试特定的组件或电路。与大规模 ATE 相比,它们缺乏灵活性和测试复杂性。然而,为该设备支付的价格通常证明其使用是合理的;它比大型测试仪便宜得多。见图介于简单手动测试和大规模 ATE 之间的是低预算和中等规模的测试,这是本文的重点。这些类型的测试系统通常专门用于在个人计算机的控制下测试特定的组件或电路。与大规模 ATE 相比,它们缺乏灵活性和测试复杂性。然而,为该设备支付的价格通常证明其使用是合理的;它比大型测试仪便宜得多。见图11。。图 1. 测试系统的复杂程度从 (a) 劳动密集型手动测试到 (d) 全自动测试设备不等。本文重点介绍低预算和中等规模的测试系统(b 和 c)。图 1. 测试系统的复杂程度从 (a) 劳动密集型手动测试到 (d) 全自动测试设备不等。本文重点介绍低预算和中等规模的测试系统(b 和 c)。本文讨论适用于低预算和中等规模测试的各种主题,包括用于将 PC 连接到测试设备的不同接口,以及硬件和软件设计。本文讨论适用于低预算和中等规模测试的各种主题,包括用于将 PC 连接到测试设备的不同接口,以及硬件和软件设计。将 PC 连接到测试设备将 PC 连接到测试设备PC并口PC并口将测试设备和被测设备 (DUT) 连接到个人计算机的最简单方法之一是使用 PC 的并行端口。该端口是几乎每台 IBM 兼容 PC 上的标准设备。标准并口提供12路逻辑输出和5路输入,可直接接TTL/CMOS电路。您还可以使用许多现代计算机上的并行端口的增强版本。软件设计简单:PC 并口很容易使用 C 或 Basic 进行编程。有关编程的详细信息,请参阅 Jan Axelson 的
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