混合SRRs和CSRRs清除微带相控阵天线扫描盲点说明

　　基于特异材料特性设计出了一种由SRRs与CSRRs构成的混合结构。该结构具有在两个垂直的方向阻碍电磁渡传播的特性，将其加载在无限微带天线阵列中，能够有效地清除相控阵天线的扫描盲点。该研究成果表明该特异材料在高性能微带天线阵列设计中具有良好的应用潜能。

　　带相控阵天线具有结构紧凑、重量轻、体积小、成本低、易于共形，以及能与微波集成电路（MIC，mi—crowave integrated circuit）和光集成电路（PIC，photo—electric integrated circuits）技术兼容等众多优点，目前已得到了广泛的运用¨。然而，由于微带相控阵天线单元之间出现互耦，导致微带相控阵天线扫描在某一特定角度上时，能量几乎为全反射，致使微带相控阵在扫描到某一特定角度形成了扫描盲点。
 

　　盲点效应是影响微带相控阵天线性能的严重问题之一。由于它出现在栅瓣之前，有的甚至出现在离侧射方向不远的角度上，这样势必会大大缩小微带相控阵天线的扫描区域，导致整个阵列扫描性能的下降。迄今为止，人们已探索出各种清除扫描盲点的有效方法。例如：天线子阵技术H J、EBG技术哺J、缺陷地技术∞o和磁性特异材料技术。但是目前的方法仍然存在一定的局限性：加载天线子阵不适用于高介电常数基板的微带天线；加载EBG需要占据较大的单元空间；利用缺陷地将引起较强的后向辐射；磁性特异材料的机械稳定性不强，难以实现在实际工程上的应用。

　　本文基于混合裂口环谐振器（SRRs，split ringresonators）和互补裂口环谐振器（CSRRs，comple—mentary split ring resonators）特异材料能够在特定的频率范围内阻碍两个方向传播的特性，将其加载在无限微带阵列中、抑制单元间的互耦效应，清除相控阵的扫描卣点效果良好。不仪如此，由T该结构设计简单．易于共形、机械稳定性强，在高Pl：能微带相控阵研究与设计中具有较好的参考价值。