数字电路测试生成算法综述

2075502 2009-07-10 | rar | 101 | 次下载 | 5积分

资料介绍

随着数字电路的规模和复杂性不断增加，自动矢量生成技术己日益成为数字电路测试与诊断的瓶颈环节。本文主要讨论了电路的测试及故障检测的一些基本问题，并对数字电路测试生成的主要算法进行了分析和比较。最后预测了测试矢量自动生成技术的发展趋势。
数字电路测试与故障诊断包括四个步骤：建立故障字典、加载激励、回收响应和分离故障，即选择激励通道和响应通道并建立激励矢量和故障模式之间的映射关系，然后向被测对象施加激励矢量，并采集其响应矢量，最后通过故障字典来分离故障。故障字典先于实际测试而建立，并直接用于测试结束后的故障分析，包含了被测对象故障征兆的全部信息，是贯穿四个测试诊断步骤的关键数据。而故障字典对于故障图样分辨能力和覆盖程度的优劣，完全取决于测试激励矢量的生成质量，这就是数字电路测试矢量自动生成技术所要研究的中心问题。
自从1966年Armstrong提出一维通路敏化法以来，数字电路测试矢量自动生成理论的研究课题经历了一个从雏型到成熟、从理论到应用、从实用到完备的发展历程。可以从不同的角度对不同的生成算法进行划分，如按时间跨度可分为传统算法和现代算法；按其是否引入随机策略可分为确定性方法和随机性方法；按其使用的分析工具可分为代数方法和结构性方法；而按其生成调度策略可分为串行算法和并行算法等。
本文主要介绍了布尔差分法、D算法系列、临界路径法以及G-F算法等，着重阐述其算法思想及其相互之间的性能比较，然后对现代ATPG理论中引入的新方法、新思路和前景等进行了简要的介绍。