资料介绍
并行测试(Parallel Test)拥有减少测试时间,降低测试成本的强大优势,正成为研究热点之一。首先介绍了并行测试技术产生的背景,总结了国内外的研究现状;接着介绍了实现并行测试的几种结构;最后展望了并行测试技术的发展趋势。
传统ATS的测试方法是顺序测试,一次仅能测试一个被测件(UUT,Unit Under Test)的某一个参数。计算机要么在等待UUT到达指定状态,要么在等待仪器完成测试,CPU和仪器有多达80%的时间处于空闲状态,整个系统的测试效率极低[1]。
20世纪末,随着微电子技术的飞速发展,这种测试方式已经不能满足印刷电路板(PCB)、通讯产品和片上系统(SoC)等集成电路(Integrated Circuit)测试领域中UUT大批量且日益复杂的特点,产品的测试成本在总成本中的比重越来越大。为了降低成本、减少测试时间,并行处理技术被引入并得到广泛应用,形成了并行测试技术,并开始得到越来越多的关注。1996年,在美国国防部自动测试系统执行局(DoD ATS EAO)的统一协调下,美军与工业界联合提出了下一代ATS“NxTest”的体系结构,将并行测试技术列为关键技术之一来研究。
传统ATS的测试方法是顺序测试,一次仅能测试一个被测件(UUT,Unit Under Test)的某一个参数。计算机要么在等待UUT到达指定状态,要么在等待仪器完成测试,CPU和仪器有多达80%的时间处于空闲状态,整个系统的测试效率极低[1]。
20世纪末,随着微电子技术的飞速发展,这种测试方式已经不能满足印刷电路板(PCB)、通讯产品和片上系统(SoC)等集成电路(Integrated Circuit)测试领域中UUT大批量且日益复杂的特点,产品的测试成本在总成本中的比重越来越大。为了降低成本、减少测试时间,并行处理技术被引入并得到广泛应用,形成了并行测试技术,并开始得到越来越多的关注。1996年,在美国国防部自动测试系统执行局(DoD ATS EAO)的统一协调下,美军与工业界联合提出了下一代ATS“NxTest”的体系结构,将并行测试技术列为关键技术之一来研究。
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