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标签 > 光谱测量
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激光对焦测量系统和光谱共焦传感器测量系统在手机壳测高精度差异
在手机壳的生产和质量检测过程中,高度测量的精度至关重要。激光对焦测量系统和光谱共焦传感器测量系统作为两种常见的测量技术,在手机壳测高方面具有不同的特点和性能。
TriVista高分辨率光谱测量系统测量量子材料的结构和自旋相互作用
背景 德国多特蒙德工业大学的Jörg Debus团队致力于研究在具备应用潜力材料中的光量子信息处理、量子传感等。该团队主要研究光场下材料的精细结构,如量...
本文主要介绍了太赫兹光谱技术简单介绍及应用详解_太赫兹与物质的相互作用。THz脉冲光源与传统光源相比具有很多独特的性质:瞬态性、宽带性、相干性、低能性。...
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