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可靠性测试

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可靠性测试就是为了评估产品在规定的寿命期间内，在预期的使用、运输或储存等所有环境下，保持功能可靠性而进行的活动。是将产品暴露在自然的或人工的环境条件下经受其作用，以评价产品在实际使用、运输和储存的环境条件下的性能，并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。

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可靠性测试技术

GaN可靠性测试新突破：广电计量推出高压性能评估方案

氮化镓（GaN），作为一种具有独特物理和化学性质的半导体材料，凭借卓越的功率转换效率、超快的开关速度以及出色的耐高温性能，在5G通信、新能源汽车、数据中...

2024-11-28 标签：SiC GaN 可靠性测试 137 0

使用Keithley 4200-SCS半导体表征系统进行氧化物可靠性测试

氧化物完整性是一个重要的可靠性问题，特别对于今天大规模集成电路的MOSFET器件，其中氧化物厚度已经缩放到几个原子层。JEDEC 35标准 (EIA/...

2024-11-18 标签：半导体氧化物 Keithley 237 0

芯片测试有哪些芯片测试介绍

本文就芯片测试做一个详细介绍。芯片的测试大致可以分成两大部分。CP(chipprobering)和FT(finaltest)。某些芯片还会进行SLT（s...

2024-07-26 标签：晶圆芯片测试可靠性测试 2241 0

高可靠继电器的设计与制造

高可靠继电器作为一种关键电子控制器件，在电力保护、自动化控制、通信等领域中发挥着至关重要的作用。其设计与制造过程必须严格遵循高标准，以确保在复杂和恶劣的...

2024-06-24 标签：继电器自动化控制可靠性测试 542 0

推拉力测试机在半导体行业应用，设备功能、技术指标及安装要求

最近有客户在网站上咨询芯片焊接强度测试设备，主要用于半导体激光器。半导体激光器广泛应用在雷达，遥控遥测，航空航天等应用中。对其可靠性提出了越来越高的要求...

2024-06-07 标签：半导体试验机可靠性测试 1159 0

功率器件环境可靠性测试的加速老化物理模型

高温栅偏（HighTemperatureGateBias，HTGB）、高温反偏（HighTemperatureReverseBias，HTRB）、高温高...

2024-04-23 标签：功率器件可靠性测试半导体服务 1228 0

可靠性测试中HALT实验与HASS实验的区别

电子产品高加速寿命测试HALT、高加速应力筛选测试HASS，都是可靠性测试的方法，用于评估电子产品在恶劣环境下的性能表现和可靠性。那他们之前的区别是什么...

2024-01-30 标签：可靠性测试可靠性试验 HALT 1221 0

IGBT的可靠性测试方案

在当今的半导体市场，公司成功的两个重要因素是产品质量和可靠性。而这两者是相互关联的，可靠性体现为在产品预期寿命内的长期质量表现。任何制造商要想维续经营，...

2024-01-17 标签：半导体安森美 IGBT 1371 0

半导体封装的可靠性测试及标准介绍

本文将介绍半导体的可靠性测试及标准。除了详细介绍如何评估和制定相关标准以外，还将介绍针对半导体封装预期寿命、半导体封装在不同外部环境中的可靠性，及机械可...

2024-01-13 标签：半导体半导体封装可靠性测试 5109 0

什么是可靠性测试？智能钥匙的可靠性测试

智能钥匙是一种新型的智能家居设备，它使你可以通过手机或者其他智能设备轻松地控制你的房门、车门、办公室等入口。智能钥匙可以提供更加便捷、安全和智能化的操作...

2023-10-17 标签：智能家居智能钥匙可靠性测试 640 0

晶振高低温储存试验说明

高温试验是晶振在高温条件下工作一段时间后，评定高温对晶振的电气和机械性能的影响；或者长时间高温存储(不带电)后，评定晶振的质量稳定性，可参照标准GJB ...

2023-09-15 标签：晶振可靠性测试晶体谐振器 850 0

冷热冲击试验箱为什么会出现冰堵现象？

冷热冲击试验箱按其内箱分为两箱式和三箱式，并不是说其区别是两箱和三箱，而是在于试验测试方式和内部结构不同，冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行...

2023-06-15 标签：试验箱可靠性测试冷热冲击试验箱 598 0

芯片研发环节的可靠性测试

碳化硅作为第三代半导体经典的应用，具有众多自身优势和技术优势，它所制成的功率器件在生活中运用十分广泛，越来越无法离开，因此使用碳化硅产品的稳定性在一定程...

2023-08-18 标签：芯片半导体可靠性测试 1509 0

碳化硅功率器件可靠性测试方法详解

可靠性，是指产品在规定时间内和条件下完成规定功能的能力，是产品质量的重要指标，如果在规定时间内和条件下产品失去了规定的功能，则称之为产品失效或出现了故障...

2023-07-21 标签：MOSFET 功率器件可靠性测试 1024 0

高度加速寿命测试是什么高度加速寿命测试技术细节

高度加速寿命测试（HALT）是一种加速的环境测试过程，用于评估和提高产品设计和组件/材料的耐用性。产品的坚固性是最终可靠性性能的直接指标。高度加速寿命测...

2023-07-20 标签：传感器自动化系统监测设备 501 0

服务器可靠性设计原理及分析方法

可靠性/可用性验证测试FIT:定义及目的 FIT (Fault Injection Test) :故障注入测试,通过向系统注入在实际应用中可能发生的故...

2023-03-29 标签：服务器可靠性测试 823 0

PCB电路板的可靠性测试介绍

PCB电路板在今天的生活中发挥着重要作用。它是电子元件的基础和高速公路。就这一点而言，PCB的质量非常关键。要检查PCB的质量，必须进行多项可靠性测试...

2020-09-03 标签：PCB电路板可靠性测试耐压测试 1.4万 0

电源测试之可靠性测试（全）

反复短路测试测试说明:在各种输入和输出状态下将模块输出短路，模块应能实现保护或回缩，反复多次短路，故障排除后，模块应该能自动恢复正常运行。

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华为手机项目测试及可靠性测试的标准分享

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寿命试验的可靠性测试详解

本文首先介绍了可靠性测试的概念与分类，其次介绍了寿命测试属于可靠性测试及其作用，最后介绍了有效的寿命测试项目及寿命试验相关标准。

2018-05-14 标签：可靠性测试 1.7万 0

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