测试

多功能导电能力测试仪电路

多功能导电能力测试仪电路由探测电极、电阻分压器、缓冲电路和双色二极管组成，如图所示。探测电极可感知被测物的电阻，根据被测物电阻的大小控制双色发光二极管发...

2012-08-01 标签：电路测试导电 2156 0

简单介绍LTE测试技术的相关基础知识

长期演进（LTE）无线网络给测试设备供应商提出了若干挑战。3GPP定义的LTE空中接口，在下行采用正交频分多址（OFDMA）技术，在上行采用单载频频分多...

2012-07-17 标签：测试LTE基础知识 1591 0

测试窍门：选择合适的示波器带宽

带宽是大多数工程师在选择一款示波器时首先考虑的参数。本文将为您提供一些有用的窍门，教您如何为您的数字和模拟应用选择合适的示波器 带宽。但首先，我们先看看...

2012-07-12 标签：测试示波器带宽 4479 0

多重通讯的挑战与测试方案

现今的个人通讯产品都倾向多重通讯功能方向发展，多重通讯装置意指单一装置中具备多种射频和连结方式，如在市场热卖的苹果品牌 iPhone或智能手机就具备蓝牙...

2012-07-04 标签：测试无线 837 1

多标准无线电基站发射机测试

下一代基站发射机和接收机将会支持更宽的带宽，不仅包括采用单一无线制式的多载波（MC），还包括在单一发射机路径中的多种制式。例如，GSM、W-CDMA和L...

2012-06-21 标签：测试无线电基站发射机 1370 0

基于802.11的高速蓝牙技术测试

　　IMT-2000和802.11无线电会相互干扰，除非彼此在2.6GHz时的距离能达到8公尺左右，而在2.3GHz时的距离可达到16公尺左右。

2012-05-18 标签：测试802.11高速蓝牙技术 2787 0

实现高速串行I/O效率的嵌入式测试

　　随着技术的进步，电子产业自身在不断地发明创新。嵌入式系统设计师相当清楚这一点，许多人开发的应用数量甚至可以横跨几代电子技术和微处理器技术。

2012-05-18 标签：测试嵌入式测试 1113 0

最新测试技术在芯片良率提高中发挥新作用

在纳米设计时代，可制造性设计（DFM）方法在提高良率方面中已经占据了中心地位。为了实现更高的良率，人们在初始设计和制造过程本身采用了各种技术。由于采用了...

2012-05-10 标签：测试芯片测试 1952 0

LED驱动器的可靠性和电磁兼容性测试方案

提高系统的可靠性的根源在于系统的设计。要使系统的元器件工作在正常状态下，没有过载超负荷等现象的发生，并且要有一定的余量。也可以通过设计备用 方案，使系统...

2012-05-09 标签：LED测试LED驱动器 2581 0

为高电压测试选择最佳电缆

确保测试期间使用的电缆符合测试系统最大电压额定值。在功率器件关闭状态特性分析期间经常遇到高压、低电流测试，要使用能够实现这类测试所需性能的电缆。在高压测...

2012-05-08 标签：测试IT吉时利 932 0

复杂RF环境下的RFID测试

随着设备价格的下降及全球市场扩大，RFID应用正面临飞速发展。嵌入式RFID的使用量不断提高，随着泛在ID中心（Ubiquitous ID Center...

2012-05-07 标签：测试RFIDRF 1698 0

RFID测试技术分析

随着阅读器与标签价格的降低和全球市场的扩大，射频标识 RFID（以下简称RFID）的应用与日俱增。标签既可由阅读器供电（无源标签），也可以由标签的板上电...

2012-05-03 标签：测试RFID 1161 0

设计早期对EMC的考虑

随着产品复杂性和密集度的提高以及设计周期的不断缩短，在设计周期的后期解决电磁兼容性（EMC）问题变得越来越不切合实际。在较高的频率下，你通常用来计算EM...

2012-05-02 标签：测试EMC 1482 0