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标签 > 芯片测试
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检查和修理集成电路前首先要熟悉所用集成电路的功能、内部电路、主要电气参数、各引脚的作用以及引脚的正常电压、波形与外围元件组成电路的工作原理。如果具备以上...
考虑到每一次测试版本迭代都是几十万行的代码，保证代码不能出错。需要涉及上百人的测试工程师协同工作，这还不算流水线技工，因此测试是费时费力的工作。
2023-01-07 标签：芯片测试 7609 0
芯片测试中的leakage测试是为了评估集成电路（IC）中的漏电流（leakage current）水平。漏电流是指在正常工作条件下，没有通过预期路径流...
本文将浅谈基于NAND Tree的芯片测试技术，主要是测试芯片的管脚I/O Pin和芯片的PAD之间的连接问题，将NAND门接入PAD和上级的NAND门...
芯片封测技术（Chip Packaging and Testing）是指在芯片制造完毕后，将裸芯片封装为可供使用的封装芯片，并对封装后的芯片进行功能测试...
SOC ( System on Chip）是在同一块芯片中集成了CPU、各种存储器、总线系统、专用模块以及多种l/O接口的系统级超大规模集成电路。 ...
本文就芯片测试做一个详细介绍。芯片的测试大致可以分成两大部分。CP(chipprobering)和FT(finaltest)。某些芯片还会进行SLT（s...
本文以ADF 4153型小数分频频率合成器为例，给出了容易实现的三阶环路滤波器的设计方法，能够满足芯片实际测试的需要。
介绍了一种标准芯片单元可连通性的检测方法，可以有效检测标准芯片单元的可连通性，在布局布线阶段之前，改进标准单元的版图，或者增加布局布线的约束条件，从而保...
芯片导通电阻是什么？如何用ATECLOUD-IC测试系统测试？
导通电阻测试就是用来检测导线或连线情况是否正常的一种方法，是指两个导体间在一定电压下通过的电流所引起的电压降之比，通俗的说就是导线通电后的电阻值。芯片引...
这是芯片在设计过程中的一个环节，主要通过EDA（电子设计自动化）工具进行仿真检验。它的主要目的是在芯片生产之前，验证芯片设计是否符合预定的需求规格，是否...
在开始量产之前，芯片设计师会进行设计验证，以确保芯片的设计满足规格要求。这包括功能验证、时序验证和电气验证等，确保芯片在理论设计上没有问题。
半导体测试设备主要包括三类：ATE、探针台、分选机。其中测试功能由测试机实现，而探针台和分选机实现的则是机械功能，将被测晶圆/芯片拣选至测试机进行检测。
芯片上的晶体管数以十亿计，金属连接更是不计其数，要想在短时间内对它们做个遍历并不是件容易的事。例如处理奇偶校验码异常的电路，在没有发生异常的时候是不工作的。
CP（Chip Probing）测试也叫晶圆测试(wafer test)，也就是在芯片未封装之前对wafer进行测试，这样就可以把有问题的芯片在封装之前...
芯片测试的主要目的是确保芯片的质量和可靠性，以及验证芯片的设计是否符合规范和要求。具体来说，测试可以检测出芯片中的故障，并及时修复它们，以保证产品的一致...
2024-05-08 标签：芯片测试 1672 0
在芯片众多特殊的引脚中，EN引脚无疑是最为重要的一个。EN引脚又称使能引脚(Enable pins)，不同的芯片对其称呼也有所不同，如EA、RUN等，它...
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