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标签 > SMU

SMU

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smu技术

深入解析TC3xx芯片中的SMU模块应用

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SMU_CORE 和 SMU_Stdby 的设计方式和时间安排各不相同。SMU 的两个部分之间存在物理隔离。它们位于不同的时钟和电源域中。这允许 SMU...

2024-02-27 标签:微控制器寄存器路由器 3707 0

如何用半导体参数分析仪进行斜坡法准静态C-V测量?

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电容电压(C-V)测量通常采用交流测量技术。而一些电容测量需要直流测量技术,被称为准静态C-V(或QSCV)测量,因为它们是在非常低的测试频率下进行的,...

2024-02-22 标签:半导体前置放大器SMU 1134 0

英飞凌TC3xx系列安全管理单元的使用

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本篇文档主要用来介绍英飞凌基于AURIX-2G TriCore 1.6.2架构的 TC3xx系列安全管理单元的使用。

2023-12-07 标签:英飞凌mcu安全管理 2091 0

数字源表如何选型?不如来下文“挖一挖”

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数字源表也称为源测量单元(SMU),集数字万用表、电压源、电流源、电子负载以及脉冲发生器、波形发生器等功能于一体,同时可精确限流保护器件不受损坏。在功率...

2023-06-08 标签:脉冲发生器SMU数字源表 773 0

【技术大咖测试笔记系列】之九:新型SMU克服低电流容性设置的棘手测试挑战

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与其他灵敏的SMU相比,新推出的Keithley 4201-SMU中等功率SMU和4211-SMU高功率SMU (选配4200-PA前置放大器)大幅度提...

2021-11-23 标签:前置放大器OLED平板显示器 2056 0

【当代材料电学测试】系列之四:宽禁带材料测试

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随着电子电力的发展,功率器件的使用越来越多,SiC、GaN等被广泛应用于射频与超高压等领域。

2021-03-26 标签:万用表SiCGaN 1043 0

【当代材料电学测试】系列之一:纳米测试(下)

采用高内阻的静电计6517+数据采集仪DMM6500+纳米发电采集软件来进行微小纳米发电电流数据采集。

2021-03-05 标签:泰克纳米石墨烯 1818 0

【当代材料电学测试课堂】系列之一: 纳米测试(上)

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纳米材料的表征包括成分分析,颗粒分析,结构分析,性能分析,分析方法以电镜分析为主,特别是扫描隧道电镜(SMT),在导体和半导体纳米材料分析上具有优势。

2021-02-25 标签:纳米石墨烯SMU 2248 0

一文解析源测量单元(SMU)仪器

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源测量单元(SMU)仪器在单个仪器中集成了精密电源(PPS)和高性能数字万用表(DMM)的功能。

2021-05-07 标签:脉冲发生器SMU波形发生器 9326 0

使用源度量单位仪器的工作原理

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尽管电源和DMM适合某些测量,但在同一台仪器中进行采购和测量有许多优点。但是我遇到的许多工程师都不熟悉这种方法。对于此博客文章,我已经请我的同事*玛丽·...

2021-05-11 标签:充电电池脉冲发生器SMU 3762 0

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再获殊荣!普赛斯仪表荣获2024年国产测试测量行业卓越奖

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12月7日,第十五届亚洲电源技术发展论坛在深圳盛大召开,此次论坛汇聚了来自电源领域的国内外顶尖技术专家和产业链上下游企业,共同探讨行业动态及新技术趋势。...

2024-12-10 标签:测量SMU数字源表 288 0

喜报!武汉普赛斯获批2024年湖北省工程研究中心

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近日,湖北省发展和改革委员会印发了《关于公布2024年湖北省工程研究中心认定名单的通知》(鄂发改高技〔2024〕357号),武汉普赛斯电子股份有限公司(...

2024-12-10 标签:SMU数字源表测试设备 224 0

山东理工大学物电学院携手普赛斯仪表共建半导体物理实验室!

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在创新驱动发展战略下,为进一步加强高等教育与产业的深度融合,促进科技成果转化与人才培养质量的双重提升,山东理工大学物理与光电工程学院与武汉普赛斯仪表有限...

2024-08-21 标签:半导体SMU数字源表 570 0

概伦电子发布全自研高精度源测量单元FS810

概伦电子(股票代码:688206.SH)近日正式推出具有自主知识产权的高精度源测量单元(SMU)FS810。作为实现半导体器件电特性表征的基础模组之一,...

2024-08-19 标签:半导体SMU概伦电子 462 0

普赛斯仪表携功率半导体电性能表征一站式解决方案亮相慕尼黑上海电子展!

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7月8日,2024慕尼黑上海电子展在上海新国际博览中心开幕,本届展会以新能源汽车、储能、智能驾驶、卫星通信、机器人、可穿戴、智能建筑、边缘智能、智慧电源...

2024-08-14 标签:半导体SMU数字源表 353 0

SMU数字源表测试IC芯片电性能方案

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芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤,是使用特定仪器,通过对待测器件DUT(DeviceUnderTest)的检测,区别缺陷、验证器件...

2024-05-13 标签:SMU数字源表IC芯片 549 0

如何用SMU数字源表简化晶体管的iv性能

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晶体管特性参数测试是对待测器件(DUT)施加电压或电流,然后测试其对激励做出的响应;通常晶体管特性参数测试需要几台仪器完成,如数字表、电压源、电流源等。...

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SMU数字源表IV扫描测试纳米材料电性能方案

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纳米材料及器件作为战略性新兴产业和高新技术产业,是促进产业转型升级和高质量发展的重要支柱之一。普赛斯数字源表具有测试精度高、微弱信号检测能力强的特点,可...

2024-03-05 标签:测试SMU数字源表 772 0

薄膜材料电阻率与霍尔迁移率测试详解

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薄膜作为一种重要的材料形态,在各个领域中都有着广泛的应用。

2024-01-04 标签:集成电路SMU薄膜电阻 1144 0

国产源表的优势和应用前景分析:联讯仪器参数对比

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在电子测试和测量领域,源表是重要的工具,无法或缺。国产源表如联讯仪器S3022F和S3012H在性能和功能方面已经能够与进口源表相媲美。 首先,进口源...

2023-07-19 标签:测量SMU源表 2343 2

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