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标签 > SMU仪器
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【技术大咖测试笔记系列】之十:在当今高压半导体器件上执行击穿电压和漏流测量
准确的电源和测量测试对表征这些高压器件非常关键,以便能够及时制订正确的设计决策。提高设计裕量和过度设计只会推动成本上升,导致性能下降。
泰克在全新2601B-PULSE 多合一源表中首次采用消除脉冲调谐技术
2601B-PULSE系统源表是为满足垂直腔面发射激光器(VCSEL)测试需求并解决相关问题而开发的,这对汽车光探测和测距 (LIDAR)应用具有至关重...
PXI模组化电源测量单元(SMU)仪器问世。高亮度发光二极体(LED)、绝缘闸双极性电晶体(IGBT)、金属氧化物半导体场效电晶体 (MOSFET)等需...
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