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标签 > ic测试
IC测试就是用相关的电子仪器(如万用表、示波器、直流电源,ATE 等)将IC所具备的电路功能、电气性能参数测试出来。测试的项目一般有:直流参数(电压、电流)、交流参数(频率)、功能测试等。
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IC测试原理和设备教程在内容、目的和关注点上存在显著的区别。 IC测试原理 内容 : IC测试原理主要探讨的是对集成电路(Integrated Circ...
IC测试,即集成电路测试,是集成电路设计和制造过程中的一个重要环节。它主要通过对集成电路的性能、功能和可靠性进行测试,以确保集成电路在实际应用中能够满足...
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当裸片尺寸无法继续扩大时,开发者开始考虑投入对 3D 堆叠裸片方法的研究。考虑用于 3D 封装的高端器件已经将当前的可测试性设计 (DFT) 解决方案推...
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2011-03-08 标签:IC测试 2529 0
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