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MAX9971/MAX9972为四通道、超低功耗、引脚电子测量IC,每通道包括三电平引脚驱动器、窗口比较器、无源负载和加载-感应Kelvin切换参数测量单元(PMU)。
MAX9971/MAX9972为四通道、超低功耗、引脚电子测量IC,每通道包括三电平引脚驱动器、窗口比较器、无源负载和加载-感应Kelvin切换参数测量单元(PMU)。驱动器具有-2.2V至+5.2V电压范围,包含高阻和有源端接(第3级驱动)工作模式,在低电压摆幅下仍可保持高线性。窗口比较器具有500MHz等效输入带宽和可编程的输出电压。无源负载为被测器件(DUT)提供上拉和下拉电压。
提供两种精度等级:A级和B级。A级器件为驱动器和比较器提供精确的增益和失调匹配,允许多通道共用基准电压。且具有严格的负载阻抗公差;B级器件适用于每通道具有独立基准电压的系统设计。
通过3线、低压、CMOS兼容串口编程设置器件的低泄漏、高阻抗和端接特性。高速PMU切换通过专用的数字控制输入实现。
这些器件采用80引脚、12mm x 12mm、1.0mm引脚间距的TQFP封装,封装底部(MAX9972)或封装顶部(MAX9971)的6mm x 6mm裸焊盘提供高效散热。MAX9971/MAX9972工作在0°C至+70°C商业级温度范围,且具有管芯温度监测输出。
关键特性
小尺寸:在0.3in²上集成了四个通道
低功耗:每通道325mW (典型值)
高速:3VP-P时, 300Mbps
-2.2V至+5.2V工作电压范围
有源端接(第3级驱动)
集成PMU开关
无源负载
低泄漏模式:20nA (最大值)
低增益误差、失调误差
提供无铅封装
应用/使用
有源老化系统
DRAM探测器
低成本混合信号/片上系统(SOC)测试器
NAND闪存测试器
结构测试装置
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