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标签 > 失效机理
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功率器件的封装正朝着小体积和3D封装发展,在工作损耗不变的情况下,使得器件的发热功率密度变得更大,在热导率和热阻相同的情况下,会使得封装体和裸芯的温度更...
MOSFET等开关器件可能会受各种因素影响而失效。因此,不仅要准确了解产品的额定值和工作条件,还要全面考虑电路工作中的各种导致失效的因素。本系列文章将介...
马达产品在客户端运行一段时间后,发生功能失效。经过初步检测,新阳检测中心(下文简称中心)判断该问题是组件中的MLCC电容发生失效导致的。
元件的失效直接受湿度、温度、电压、机械等因素的影响。 1、温度导致失效: 1.1 环境温度是导致元件失效的重要因素。 温度变化对半导体器件的影响:构成双...
MEMS惯性器件在典型应用环境下的主要失效模式和失效机理进行分析和总结
Yang Chunhua和Liu Qin等人通过对MEMS加速度计的冲击试验,发现悬臂梁、梳齿的受力集中点均在根部,即连接点处。当冲击应力引起的悬臂梁变...
图2是器件来源的汇总数据。从图中可以看到,总数 56批中,进口器件是 19批次,约占总批次的 34% ; 失效样品有 41只,约占总样品数的28. 5%...
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