性能部分测试项目 - 探究LTE终端射频测试主要内容及关键项目

　　●PDSCH 信道的解调。

　　●PCFICH/PDCCH 信道的解调。

　　●PHICH 信道的解调。

　　●PBCH 信道的解调。

　　性能测试部分主要是考察LTE 终端的信道解调性能。性能测试是通过满足一定的吞吐量条件下的SNR（信噪比）来考察的。

　　SNR 的计算公式如下：

　　公式中的表示符号上的接收的能量，表示白噪，公式上标代表接收相应的天线端口。

　　性能测试部分可以分为单天线端口和多天线（分集，空间交织，MU-MIMO）相关的UE性能测试。单天线端口性能， 是通过满足一定吞吐量要求时候的多径衰落条件下的SNR 来衡量的。双天线端口性能主要是考察终端的MIMO性能（分集， 空间复用，MU-MIMO），也是通过满足一定吞吐量要求时多径衰落条件下SNR 来衡量的。

　　（4） 在信道状态信息上报部分，包含如下几类测试项目：

　　●加性高斯白噪声（AWGN）环境下的CQI 上报。

　　●衰落环境下的CQI 上报。

　　●预编码矩阵指示（PMI）上报。

　　●秩指示（Rank Indicator）上报。

　　这部分测试项目主要是考察终端的MIMO 反馈性能。空间复用的性能测试又可以分为开环和闭环。开环MIMO，没有信道的先验信息；闭环MIMO 系统是接收端将信道信息反馈给发射端， 然后对传输数据进行预编码、波束成型或者天线选择等操作。闭环MIMO的反馈方式又可以分为全反馈和部分反馈等。

　　下面针对LTE 终端射频测试的部分关键测试项进行分析和说明。

　　功率回退

　　LTE 的信号结构和R99（WCDMA）是不同的，下行采用OFDM 信号，上行采用SC-FDMA 信号。虽然SC-FDMA 信号的功率峰均比比OFDM 信号低， 但是当SC-FDMA 信号的功率峰均比比较高时， 意味着终端的射频功率放大器必须具有高度的线性来保证终端发射信号不失真。但使用线性射频功率放大器会导致发射机的成本大幅增加，而且即使是用线性射频功率放大器，也会严重降低整个系统的效率。而实际系统基本都是峰值功率受限的系统，大多数实际系统为了保证一定的效率，通常在一定的输出功率回退条件下使用非线性功率放大器对信号进行放大，所以考察功率回退测试项是很有必要的。当上行信号的功率峰均比比较高时，就需要进行功率回退到放大器的线性区内。当资源块（RB）数越多，调制方式越高，则需功率回退值越大。

　　载波泄漏（IQ 不平衡）

　　IQ 不平衡对于信号质量EVM 的结果有重大的影响。IQ 不平衡表现为最初的星座图的IQ 偏移，是由于DSP 的取整等导致的直流偏移所引起的。IQ 两路信号是分别放大的，由于器件的不一致性难免会导致I 路和Q 路增益的不平衡，使得IQ 幅度不一样，这样本来正方形的星座图将会变成长方形，即相同频点上，信号的幅度和相位发生了变化。然而，在R99 规范上并无相关的测试， 主要是通过测量EVM 来衡量信号的调制品质的。由于OFDM 技术对相位和频偏及其敏感，通过对IQ 不平衡性的测量，能更好地衡量发射机调制的性能。

　　IQ 原点偏移用相对载波泄漏功率（IQ 原点偏移功率）来衡量。根据UE 发射功率的不同，相对载波泄漏功率要求不同，范围在-10dBc～-25dBc。

　　频谱平坦度

　　频谱平坦度是LTE 终端射频测试中新增的测试项。频谱平坦度对应频带内波纹的大小，直接影响终端射频的稳定性， 因此需要对频谱平坦度进行测试。例如，如果波纹变化很大，相当于终端的输出功率变化很大，那么功放的输出效率在不停地变化，进而引起供电电压的变化，对终端发射机性能造成不利的影响。这个测试项分为测试信号位于整个频带的中间和边缘两种情况。

　　如表1 所示，范围1 意味着测试信号位于整个频带的中间，要求频谱的波动范围在4dB。范围2 意味着测试信号位于整个频带的边缘处，要求频谱的波动范围在8dB。为了系统的正常工作，需要在频带中间平坦度要比边缘处好。