- 多种天线集成在一张卡优化设计

改变卡片天线的设计（例如感应系数、线圈材料等）以达到调整Q 值或谐振频率的目的。如果线圈的Q 值较低，它传递给卡的能量耦合就比较小，将卡去谐以获得较高的谐振频率也会取得同样效果。这两种方法都可以减少卡片天线和读卡器天线之间的相互影响，进而降低他们之间的耦合效应。这种方法的好处是不需要改变读卡器的设计，可以避免因读卡器系统升级而带来的高昂成本。当然，这种方法的缺陷是不能完全满足某些项目对于工作距离的要求。尽管不能完全解决问题，但这种方法仍然可以大幅降低耦合效应的负面影响。

电磁干扰（EMD）

设计者面临的另外一个问题是电磁干扰（EMD）。作为一种无源设备，非接触式智能卡从读卡器产生的RF 场获取全部能量。IC 在进行内部操作期间，例如进行密码计算、EEPROM 编程等操作时，会对向其供应能量的RF 场产生电磁干扰（EMD），这种干扰会使读卡器的接收电路侦测到“虚假的”通讯信息，从而在卡和读卡器系统之间引起通讯问题。卡离读卡器越近，这种影响就越大。虽然通过对卡片天线系统的微调可以部分减轻干扰(例如调整线圈的调谐电感)，但是不能完全解决问题。通过对IC 时钟技术的改进，包括内置硬件EMD 抑制机制，这个问题现在已经基本得到解决。
公交应用

公交行业是最早采用非接触式技术的行业之一，但因其大多数读卡设施都是六七年前安装的，有些甚至是在ISO14443 标准制订之前安装的，因此设施都相当陈旧。该领域面临的主要挑战是不符合相关标准。公交行业的部分陈旧的读卡器生成的调制参数不能完全符合ISO14443 标准，从而在卡和读卡器之间产生业内所称的通讯“漏洞”。ISO14443 标准分别为卡和读卡器规定了相应的RF 参数。这些参数给出了指定RF 信号的工作范围，保证卡和读卡器在满足这些参数要求时可以达到互通性。因此，如果读卡器产生的调制RF 参数超出了ISO 标准规定的范围，就很难实现读卡器和卡之间的互通性。上面所讨论的参数与 ISO 标准不相符的问题，通常与ISO14443 标准所定义的“暂停形态”的生成相关，一般表现为读卡器波形的上升时间、下降时间、过冲信号和残余载波等指标不符合规定。优化卡片天线的设计并不能完全解决这些问题，因此更可靠的解决办法是更换那些过时的读卡器，代之以新的符合ISO 标准的设备，但这种选择不一定能够实现，因为更换所有正在使用的设施代价高昂，在某些情况下也不一定可行。

因此，可行的解决方案是改善非接触式智能卡IC 的设计，使其具有超强的容错能力，以适应这些与ISO 标准不相符的读卡系统。

身份识别应用

近些年来，政府实施的身份识别工程已成为非接触式技术发展的主要推动力，也促使业内更加关注ISO 标准的实施，强调卡与读卡器系统的互通性。

前面讨论过的有关支付应用的问题在身份识别应用中也同样存在，政府的身份识别系统与其他系统的区别在于，政府已经与业内的主要机构一起开发出基于该应用的标准，例如ICAO LDS，RF 协议测试等，并且在整个产业链中得到严格的遵循和推广。电子护照的镶嵌设计的总体框架由ICAO “电子护照RF 协议与应用测试标准-第2 部分”（1 类天线）加以规范。

这些标准与美国有关电子护照的强制性规定一起，有效地保证了卡与读卡器系统之间的互通性和一致性，迫使那些参与的国家加速实施其电子护照工程。几年以来，参加美国“签证互免计划”（Visa Waiver Program）的大多数国家都一直在积极参与ICAO 电子护照互通性测试和跨国界的试验性项目，这就为非接触式读卡器、inlay 以及芯片的制造商提供了一个平台，使他们可以一起制订共同的标准，并解决该特殊领域中面临的互通性问题。