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电子发烧友网>新品快讯>DDR-1500/DSC-2200在高性能测试测量中的应用

DDR-1500/DSC-2200在高性能测试测量中的应用

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片上电阻简化了印刷电路板 (PCB) 实现,并能够在 2GHz 的可用带宽内提供最高性能。此性能使得 LMH3401 非常适合测试测量、宽带通信以及高速数据采集等应用。
2023-04-14 13:07:021207

昊衡科技高性能OFDR--OCI1500--国产高端仪器助力国产化芯片制造

情况测量,以下为一组硅发射芯片测量。 硅发射芯片主要组件有一维光栅耦合器,可变光衰减器,强度调制器和偏振调制器。将芯片和OCI1500连接,进行反射率分布测量。 图1. 硅发射芯片链路示意图 在10μm空间分辨率下获得测试结果,其中存在多个反射
2023-04-11 14:54:38760

光伏组件IV曲线测试测试结果一致性分析报告

德国GMC-I高美测仪1500V光伏组件IV曲线和峰值功率测试仪PROFITESTPV 1500和PROFITEST PV使用符合GB/T18210-2000标准的光伏测试仪的超大电容负载,使得被测装置的电容特性对测量没有影响,从而获得高精度的测量结果
2023-04-11 11:36:311033

1500V光伏组件IV曲线测试仪选型指南

德国高美测仪1500V光伏组件IV曲线测试仪PROFITEST PV1500:可以达到1500V,20A DC测试量程。
2023-04-06 14:24:07623

为什么四种DDR验证BIST测试类型无法执行并且颜色编码指示?

你好任何人都可以解释为什么四种 DDR 验证 BIST 测试类型无法执行并且颜色编码指示“…………测试脚本的错误”?我能够成功执行 DDR 验证阶段和其他四种 DDR 验证测试类型(DMA 测试
2023-04-06 08:54:58

昊衡科技|高性能OFDR--OCI1500--国产高端仪器助力国产化芯片制造

情况测量,以下为一组硅发射芯片测量。硅发射芯片主要组件有一维光栅耦合器,可变光衰减器,强度调制器和偏振调制器。将芯片和OCI1500连接,进行反射率分布测量。图1.
2023-04-02 16:53:07380

VS-12CWQ06FNTR-M3

高性能肖特基整流器,2 x 6 A
2023-03-28 18:16:46

VS-12CWQ04FNTR-M3

高性能肖特基整流器,2 x 6 A
2023-03-28 14:58:52

BMI270

用于高性能应用的6轴智能低功耗惯性测量装置
2023-03-28 13:50:44

OB6563CPA

高性能PFC控制器
2023-03-28 13:02:33

DK5V45R20P

高性能同步整流芯片
2023-03-28 12:50:48

SI4467-A2A-IM

高性能、低电流收发器
2023-03-24 14:49:11

74HC04M/TR

高性能硅栅CMOS
2023-03-24 14:01:37

HAT2200R 数据表

HAT2200R 数据表
2023-03-23 19:17:450

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