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电子发烧友网>新品快讯>NI LabWindows/CVI 2012加速测试测量开发

NI LabWindows/CVI 2012加速测试测量开发

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DAC80508多通道DAC在高精度测试测量中的应用

测试测量设备开发应用中,如何实现信号链DC Offset的补偿,以及如何获得高精度灵活可调电压输出一直都是系统设计者需要克服的困难。在本文中,我们将探讨TI新一代多通道DAC——DAC80508在诸如示波器、电池测试系统等测试测量设备中的实现上述功能的优势。
2023-03-23 10:24:411356

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