此原理图中使用了三个光耦集成芯片，P521，P521*2，P521*4。总共7个光耦
内部电路图如下：
P521的3脚接地，2脚与DI接口连接，测试DCS系统的DO反应时间一脚经过电阻R20,R18后与高电平连接（此处在PCB中没有连接）
电阻R19起到上拉电阻的作用，使得2脚默认电平为高。电容作用未知。
4脚与单片机相连，通过RD9电位的高低，判断是否接收到DI信号。
P521*2外围电路如下图，1，3脚被拉高，2，4脚分别与单片机相连，单片机通过2,4脚给出时钟和数据信号，再通过5,7脚传给AD420。AD420的2脚可以提供高电平，电阻A2，R都是上拉电阻。
此光耦芯片应用在AI测试中，电路通过两个光耦来实现AD420的数字数据写入，进而转化为模拟电流输出，并最终接到本设备的AO接口上。
P521*3外围电路如下图，RB1，RB2，RB3，RB4分别与单片机管脚连接，当按下DI测试按键后，RB1~RB4中的某一路信号电平变为低电平，则DO1~DO4中对应的一路线路导通，此时DCS系统接收到DI信号，此系统开始计时，直到测试鼠标按下，则计时停止。
有四路DO通道，在测试时使用哪一路，如何选择？
