在多器件测试情况下，例如涉及老化的测试，我们要在规定的时间内同时测量多个部件。驱动DUT通常需要连续的电流，但是多个光学探测器可以通过开关系统复用一个电流计。用户可以根据所测电流的动态量程选择合适的开关系统和电流计。
多LED器件测试可以选择多种类型的开关。例如，3706型开关/万用表具有6个开关模块插槽，因此它最多可支持576个复用通道或者2688个矩阵交叉点。与2600A系列仪器类似，它也内置了板载TSP和TSP-Link设备间通信/触发总线，利用这套总线可以快速而方便地将这些仪器集成到一个系统中。这种集成支持紧密同步的仪器间操作，并且能够让它们在一个测试脚本的控制下进行操作。图3给出了具有一个光电二极管通道的三LED器件测试系统结构。
图3：采用可扩展2602A数字源表通道构建LED阵列测试系统的模块图
最大限度减少LED测试误差
LED生产测试中的常见测量误差源包括引线电阻、漏电流、静电干扰和光干扰，但是结自热是最重要的误差源之一。对结发热最敏感的两种测试是正向电压测试和漏电流测试。当半导体结发热时，电压将会下降，更重要的是，在恒压测试过程中漏电流会增大。因此，在不影响测量精度或稳定性的情况下尽可能缩短测试时间是非常重要的。
具有板载测试脚本引擎的智能仪器能够简化配置测量前器件的持温时间(soak time)以及采集输入信号的时间。在保温时间内所有的电路电容在测量开始前稳定下来。测量积分时间取决于电源线周期数(NPLC)。如果输入电源是60Hz，那么1NPLC测量就需要1/60秒，即16.667ms。积分时间决定了ADC采集输入信号的时间，它要在测量速度和精度之间进行折中。
VF测试的典型保温时间从不到几百微秒到5毫秒，IL测试的保温时间从5到20毫秒。通过利用这些极短的测试时间，就能够减少由于结发热导致的误差。此外，通过执行一系列测试并只检验测试时间，可以对结发热的特征进行分析。
为了进一步缩短测试时间，减少结自热效应，2600A系列仪器支持脉冲操作。在这种模式下，它们能够在指定的周期内在输出端产生精密的信号源。1微秒的脉宽分辨率能够精确控制器件的加电时间。这类仪器在脉冲操作模式下还能够输出大大超出其直流能力的电流值。例如，2602A在6V下能够输出3A的直流电流。而在脉冲模式下，它能够在20V下输出10A的电流。